公开(公告)号：CN109477760B

公开(公告)日：2021-04-02

申请号：CN201780043932.6

申请日：2017-07-13

Applicant: 梅特勒-托莱多有限公司

Inventor： F·基利希

IPC: G01J3/453 ,  G01N21/03 ,  G01N21/39 ,  H01S3/08 ,  H01S3/081

Abstract: 在光学装置(1)的情况下，其具有光源(2)，光源在第一光轴(4)的方向上发射光束(3)，其中，第一光轴(4)的空间取向相对于光源(2)的机械结构(5)限定；其具有用于光束(3)的第一反射器(6)，第一反射器布置在距光源(2)一定距离处；并且其具有第二反射器(12)，用于由第一反射器(6)反射的光束(3')，第一反射器(6)是后向反射器(7)，其与第一光轴(4)横向偏移布置，使得它在第二光轴(11)的方向上反射光束(3)，第二光轴在横向偏移的横向方向上具有相对于第一光轴(4)的横向偏移的两倍的平行偏移。第二反射器(12)固定在光源(2)的机械结构(5)上，并在第三光轴(13)的方向上将由第一反射器(6)反射的光束(3)反射回第一反射器(6)，其中，第三光轴(13)相对于第二光轴(11)在固定的横向方向上平行偏移固定量(14)。因此，光束(3)由第一反射器(6)沿第四光轴(15)的方向反射，第四光轴(15)相对于第一光轴(4)与固定的横向方向相反地平行偏移固定量(14)。

公开(公告)号：CN106456070B

公开(公告)日：2021-01-12

申请号：CN201580027058.8

申请日：2015-06-17

Applicant: 索尼公司

Inventor： 小泽谦

IPC: A61B5/1455 ,  G01J3/02 ,  G01J4/04 ,  G01J3/453 ,  G01J3/28

Abstract: 本发明提供了一种成像装置和成像方法。将来自被摄体的光作为多个光束集提供至具有多个元件的相位差阵列。所述相位差阵列被配置成针对多个光束集中的至少一些光束集内所包括的光提供不同的光路。在成像元件阵列处接收来自所述相位差阵列的光。所述成像元件阵列包括多个成像元件。可以显示基于所述成像元件阵列的输出信号根据高光谱成像数据所获得的信息。

公开(公告)号：CN107407601B

公开(公告)日：2021-01-05

申请号：CN201580070440.7

申请日：2015-02-02

Applicant: 福斯分析仪器公司

Inventor： S·K·安徒生 ,  M·L·安徒生

IPC: G01J3/45 ,  G01J3/453

Abstract: 光谱仪系统和用于补偿由光谱仪系统产生的干涉图的时间周期性扰动的方法。光谱仪系统(2)包括：扫描干涉仪(4)；驱动系统(6)，其机械耦合到扫描干涉仪(4)的可移动反射器元件(14)并且可操作以实现多个，优选地多于两个，例如三个不同的扫描速度下可移动反射器元件(14)的往复运动；检测器装置(8)，被配置为以等距时间间隔对由扫描干涉仪(2)形成的干涉图进行采样以产生采样干涉图；以及数据处理器(10)，适于在所述多个不同扫描速度中的每一个处获取采样的干涉图，并且执行如此获取的多个采样干涉图的内容的相对比较。

公开(公告)号：CN110520700A

公开(公告)日：2019-11-29

申请号：CN201880017534.1

申请日：2018-03-14

Applicant: 热电科学仪器有限公司

Inventor： J·M·考菲 ,  M·S·乔治亚迪斯 ,  J·Y·周

IPC: G01J3/06 ,  G01J3/453 ,  G01B9/02 ,  G01J3/02 ,  H02P25/034 ,  G05D3/20

Abstract: 描述一种加固型干涉仪的实施例，所述加固型干涉仪包括：光源(210)，其产生光束；固定镜面(207)；移动镜面(205)，其沿着线性路径行进；分束器(215)，其将所述光束的第一部分引导到所述固定镜面且将所述光束的第二部分引导到所述移动镜面，其中所述分束器将从所述固定镜面反射的所述第一部分和从所述移动镜面反射的所述第二部分重组；以及伺服控制(203)，其在周转周期起始时将相当大程度的力施加到所述移动镜面，其中所述相当大程度的力足以将高速行进的所述移动镜面重导向到所述线性路径上相反的行进方向。

公开(公告)号：CN107917759B

公开(公告)日：2019-11-19

申请号：CN201711380929.1

申请日：2017-12-20

Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

Inventor： 吕金光 ,  梁中翥 ,  秦余欣 ,  梁静秋 ,  王维彪 ,  孟德佳 ,  陶金

IPC: G01J3/453 ,  G01J3/02

Abstract: 基于阶梯相位反射镜的偏振干涉成像光谱仪的制作方法,涉及红外偏振成像光谱测量仪器技术领域，解决现有目标场景中偏振信息、图像信息和光谱信息的同时获取以及偏振成像光谱仪器的微小型化与集成化问题，包括准直镜、四通道偏振器、四通道成像镜、分束器、平面反射镜、双周期阶梯相位反射镜、中继成像镜和面阵探测器，本发明通过四通道偏振器、四通道成像镜与双周期阶梯相位反射镜之间的光场耦合实现对像场偏振与干涉的调制，从而获取目标场景的四通道偏振干涉图像，通过一次扫描即可获取目标场景的偏振、图像和光谱信息，具有微小型、轻量化、结构简单、集成度高、测量速度快、信息量多等优点。

公开(公告)号：CN105103030B

公开(公告)日：2018-07-06

申请号：CN201480013316.2

申请日：2014-01-28

Applicant: 斯维尔系统

Inventor： M·梅德哈特 ,  B·莫塔达 ,  A·O·埃尔沙特 ,  M·纳吉 ,  M·加德西夫 ,  B·A·萨达尼 ,  A·N·哈菲兹

IPC: G02B26/06 ,  G01J3/06 ,  G01J3/453 ,  G01B9/02

CPC classification number: G01J3/06 ,  G01B9/02071 ,  G01J3/4535 ,  G01N2021/3595 ,  G02B26/06 ,  G02B26/0841

Abstract: 一种微机电系统(MEMS)干涉仪提供了可移动反射镜的反射镜定位的自校准。可移动反射镜被耦合至具有可变电容的MEMS致动器。MEMS干涉仪包括用于确定在可移动反射镜的两个或更多个已知位置处的MEMS致动器的电容的电容感测电路和用于使用在已知位置处的致动器电容来补偿电容感测电路中的任何漂移的校准模块。

公开(公告)号：CN104704333B

公开(公告)日：2017-05-10

申请号：CN201380052250.3

申请日：2013-10-02

Applicant: 国立大学法人香川大学

Inventor： 石丸伊知郎

IPC: G01J3/45 ,  G01J3/453 ,  G01N21/27

CPC classification number: G01J3/45 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/4531 ,  G01J3/4532 ,  G01N2021/3595

Abstract: 本发明的分光测量装置具备：分割光学系统，其将从位于被测量物的测量区域内的多个测量点分别发出的测量光束分割为第一测量光束和第二测量光束；成像光学系统，其使第一测量光束与第二测量光束发生干涉；光程差赋予单元，其对第一测量光束和第二测量光束之间赋予连续的光程差分布；检测部，其包括用于检测与上述连续的光程差分布对应的干涉光的强度分布的多个像素；处理部，其基于由检测部检测出的干涉光的光强度分布来求出被测量物的测量点的干涉图，通过对该干涉图进行傅立叶变换来获取光谱；共轭面成像光学系统，其配置在被测量物与分割光学系统之间，具有与该分割光学系统共用的共轭面；以及周期性赋予单元，其配置于共轭面，对从多个测量点发出的测量光束进行空间上的周期调制。

公开(公告)号：CN103284691B

公开(公告)日：2017-04-26

申请号：CN201310023749.3

申请日：2004-09-08

Applicant: 通用医疗公司

Inventor： 尹锡贤 ,  布雷特·尤金·鲍马 ,  吉列尔莫·J·蒂尔尼 ,  约翰内斯·菲茨杰拉德·德·布尔

IPC: A61B5/00 ,  G01B9/02 ,  G01N21/45 ,  G01N21/47 ,  G01J3/453

CPC classification number: H01S5/5045 ,  A61B5/0059 ,  A61B5/0066 ,  A61B5/7257 ,  G01B9/02002 ,  G01B9/02004 ,  G01B9/02043 ,  G01B9/02075 ,  G01B9/02081 ,  G01B9/02083 ,  G01B9/02084 ,  G01B9/0209 ,  G01B9/02091 ,  G01B2290/45 ,  G01B2290/70 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/453 ,  G01J9/0215 ,  G01N21/4795 ,  G02B6/3604 ,  G02B26/12 ,  G02B27/48 ,  G02F1/093 ,  G02F1/11 ,  H01S3/0071 ,  H01S3/0078 ,  H01S3/08009 ,  H01S3/08063 ,  H01S3/105 ,  H01S3/1068 ,  H01S5/0071 ,  H01S5/0078 ,  H01S5/1025 ,  H01S5/14 ,  H01S5/141 ,  H01S5/146

Abstract: 本发明涉及一种用于使用频域干涉测量法进行光学成像的方法和设备。提供了一种设备和方法。具体而言，至少一个第一电磁辐射可以提供给样品并且至少一个第二电磁辐射可以提供给非反射的参考。所述第一和/或第二辐射的频率随时间变化。在关联于所述第一辐射的至少一个第三辐射与关联于所述第二辐射的至少一个第四辐射之间检测干涉。可替换地，所述第一电磁辐射和/或第二电磁辐射具有随时间变化的谱。所述谱在特定时间可以包含多个频率。另外，有可能以第一偏振态检测所述第三辐射与所述第四辐射之间的干涉信号。此外，可以优选地以不同于所述第一偏振态的第二偏振态检测所述第三和第四辐射之间的又一干涉信号。所述第一和/或第二电磁辐射可以具有中值频率以大于每毫秒100万亿赫兹的调谐速度随时间基本上连续变化的谱。

公开(公告)号：CN105547480A

公开(公告)日：2016-05-04

申请号：CN201510982227.5

申请日：2015-12-24

Applicant: 南京理工大学

Inventor： 李建欣 ,  柏财勋 ,  周建强 ,  沈燕

IPC: G01J3/453

CPC classification number: G01J3/4537

Abstract: 本发明公开了一种高通量双折射干涉成像光谱装置，包括沿光路方向依次放置的前置成像物镜、准直物镜、组合起偏器、前置半波片、双折射剪切器、后置半波片、组合检偏器、后置成像物镜和探测器。所述组合起偏器和组合检偏器结构相同，包括第一偏振分光棱镜、第二偏振分光棱镜和直角棱镜，第一偏振分光棱镜和第二偏振分光棱镜的分光面相互垂直，直角棱镜的两个直角面镀制高反膜，直角棱镜的斜边与第一偏振分光棱镜的反射光出射面连接，与第二偏振分光棱镜反射光入射面连接。本发明相比于传统的双折射干涉成像光谱系统，光通量由原来的不足25％提高到80％以上。干涉信息的叠加提高了系统信噪比，有利于提高光谱复原精度。

公开(公告)号：CN105547477A

公开(公告)日：2016-05-04

申请号：CN201610017292.9

申请日：2016-01-12

Applicant: 广东工业大学

Inventor： 陈丽 ,  邱啓东 ,  胡义华 ,  徐斌

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/447 ,  G01J3/453

CPC classification number: G01J3/2823 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/447 ,  G01J3/4532

Abstract: 本发明是一种偏振干涉成像光谱系统及其成像方法。成像光谱系统包括微透镜阵列、准直镜、第一偏振阵列、savart偏光镜组、第二偏振阵列、成像透镜、CCD探测器、信号处理系统，其中目标光源入射微透镜阵列，经过准直镜形成平行光，再经过第一偏振阵列形成线偏振光， Savart偏光镜组将线偏振光束分成两束线偏振平行光，再经过第二偏振阵列形成偏振方向相同的线偏振光，最后通过成像透镜聚合在CCD探测器上，形成干涉图，CCD探测器上形成的干涉图输入信号处理系统进行处理得到带有偏振信息的光谱图。本发明结构简单稳定，没有任何机械运动部件和电调谐器件，能同时获得物体的两维空间信息、一维光谱信息及四维偏振信息，以及同一线偏振态的多个干涉子图像。