분광계의 광 신호 처리 방법 및 그 장치
    194.
    发明授权
    분광계의 광 신호 처리 방법 및 그 장치 有权
    用于处理光谱仪光学信号的方法和装置

    公开(公告)号:KR101423964B1

    公开(公告)日:2014-07-31

    申请号:KR1020120079171

    申请日:2012-07-20

    CPC classification number: G01J3/51 G01J3/28 G01J3/36 G01J3/513

    Abstract: 신호의 희소 특성을 이용한 분광계의 광 신호 처리 장치로서, 입사되는 광을 필터링하는 광필터 어레이; 상기 필터링된 광을 전하로 변환하는 광센서 어레이; 및 상기 광센서 어레이의 출력을 신호의 희소 특성을 이용하는 L1 놈 최소화 알고리즘에 기반하여 디지털 신호처리를 수행하여 상기 입사된 광의 스펙트럼 정보를 복구하는 디지털 신호 처리부를 포함하는 신호의 희소 특성을 이용한 소형 분광계의 광 신호 처리 장치가 제공된다.

    측정용 광학계 및 그것을 사용한 색채 휘도계 및 색채계
    196.
    发明公开
    측정용 광학계 및 그것을 사용한 색채 휘도계 및 색채계 有权
    用于测量的光学系统和使用其的发光颜料和色彩

    公开(公告)号:KR1020130004517A

    公开(公告)日:2013-01-10

    申请号:KR1020127030595

    申请日:2011-03-15

    Abstract: 본 발명에 관한 측정 프로브(40)에서는, 측정광은, 제1 확산판(19)에 의해 산란되고, 복수의 간섭 막 필터(13A, 14A, 15A)를 통해서 복수의 수광 센서(13B, 14B, 15B)로 수광될 때에, 제2 확산판(13C, 14C, 15C)을 통해서 각 간섭 막 필터(13A, 14A, 15A)에 입사된다. 그리고, 이들 간섭 막 필터(13A, 14A, 15A)는, 상기 간섭 막 필터(13A, 14A, 15A)에의 입사광의 입사 각도에 대한 강도 분포의 조건에 따라, 측정 파라미터에 대응한 투과율 특성이 얻어지도록 형성된다. 이로 인해, 본 발명에 관한 측정 프로브(40)는, 간섭 막 필터(13A, 14A, 15A)를 사용하면서, 그 입사 각도에 의한 투과율 특성의 어긋남의 영향을 저감할 수 있다.

    면적이 스케일링된 광 검출기들을 구비하는 컬러 검출기
    197.
    发明公开
    면적이 스케일링된 광 검출기들을 구비하는 컬러 검출기 无效
    颜色检测器有区域分光光度计

    公开(公告)号:KR1020100126379A

    公开(公告)日:2010-12-01

    申请号:KR1020107020438

    申请日:2008-02-13

    CPC classification number: G01J3/26 G01J3/2803 G01J3/51 G01J3/513

    Abstract: 컬러 검출기는 광원, 필터 및 광 검출기를 포함한다. 광 검출기는 대응하는 필터를 통과하는 광의 사전 결정된 컬러의 양에 비례하는 신호를 출력한다. 어레이 내에서 사용될 때, 각각의 필터는 상이한 투과 특성들을 가질 수 있으며, 각각의 컬러 신호는 상이한 크기 및/또는 신호 대 잡음비를 가질 수 있다. 이것은 광 검출기들 및 대응하는 필터들 각각의 면적을 조정함으로써 교정될 수 있다. 즉, 광 검출기들의 면적들은 기준 컬러의 컬러 신호를 등화하여, 센서가 측정하도록 의도된 컬러 신호들의 신호 대 잡음비를 최대화하도록 구성될 수 있다. 광 검출기의 면적은 많은 인자 가운데 특히, 파장의 함수인 광 검출기의 응답 곡선, 파장의 함수인 필터의 응답 곡선, 및 상기 광원에 의해 생성되는 파장의 함수인 광의 양에 기초할 수 있다.

    3차원 물체의 공간-비색 측정 장치 및 방법
    198.
    发明公开
    3차원 물체의 공간-비색 측정 장치 및 방법 无效
    三维物体空间色彩测量的装置和方法

    公开(公告)号:KR1020100126302A

    公开(公告)日:2010-12-01

    申请号:KR1020107017994

    申请日:2008-01-23

    Applicant: 아이지나

    CPC classification number: G01J3/02 G01J3/0278 G01J3/51 G01J3/513

    Abstract: 본 발명은 다수의 분석 지점에 따라 물체의 비색 좌표(colorimetric coordinates) 및 낮은 양각 구조(low relief)를 디지털 방식으로 모델링하기 위한 3차원 물체의 공간-비색 측정 장치 및 방법에 관한 것이다. 이를 위해, 본 발명의 측정 장치는 분석된 물체의 낮은 양각 구조를 입체경 효과(stereoscopic effect)에 의해 산출하기 위해, 조명 수단과, 실질적으로 동일한 광 파장 범위에 대해 민감성을 갖는 적어도 2개의 트윈 검출 수단(twin detection means)을 포함하는 적어도 4개의 광 검출 수단을 결합하여 구성한다. 그래서, 본 발명은 물체(2)를 조명하기 위한 조명 수단(14)과 물체(2)에 의해 반사된 광선을 검출하기 위한 적어도 4개의 검출 수단(16)을 포함하는 검출 헤드(4)를 포함하며, 검출 수단(16)에 의해 수신된 정보를 처리하는 장치(8)를 더 포함하는 3차원 물체(2)의 공간-비색 측정용 장치를 제시한다. 적어도 2개의 트윈 검출 수단(16c, 16e)은 실질적으로 동일한 광 파장 범위에 대해 민감성을 갖는다.

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