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公开(公告)号：CN103338053A
公开(公告)日：2013-10-02
申请号：CN201310091597.0
申请日：2013-03-21
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: H04B1/40
CPC classification number: H04B5/0037 , H04B5/0031 , H04B5/0087
Abstract: 本发明公开了一种无线通信装置及无线通信系统，其提高了收发线圈的安装密度。所述无线通信装置具有多个差动线圈对，其通过磁场耦合，在与多个外部差动线圈对之间分别进行多个差分信号的各自通信；所述多个差动线圈对内的第1差动线圈对的一侧的线圈，其位置被设置为，其与所述多个差动线圈对中的第2差动线圈对的2个线圈的距离小于等于该2个线圈之间的距离；所述第1差动线圈对的另一侧的线圈，其位置被设置为，其与所述第2差动线圈对的2个线圈的距离大于该2个线圈之间的距离。
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公开(公告)号：CN102236071B
公开(公告)日：2013-09-18
申请号：CN201110090566.4
申请日：2011-04-12
Applicant: 爱德万测试株式会社
CPC classification number: G01R31/2889 , G01R31/2874
Abstract: 本发明提供一种使用附加电路使已有的测试装置低成本实现高速化以及高功能化的测试装置，其连接于与被测试器件的种类对应的插座板，测试所述被测试器件，包括：测试头，其在内部具有用于测试被测试器件的测试模块；功能板，通过电缆与测试头内的测试模块连接，同时与插座板连接；以及附加电路，装载在功能板上，与测试模块及被测试器件连接。
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公开(公告)号：CN103207328A
公开(公告)日：2013-07-17
申请号：CN201310004911.7
申请日：2013-01-07
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/00
CPC classification number: G01R1/0433 , G01R1/0466 , G01R31/01 , G01R31/02 , G01R31/2867 , G01R31/2874 , G01R31/2893
Abstract: 本发明提供一种处理装置，用于传送多个被测器件并使其与设置于测试装置的测试头上的多个插座相连，其中包括：位置调整部，用于在多个被测器件装载的测试盘上使各个被测器件移动，并调整相对于各个插座的位置；以及，器件装设部，用于将由位置调整部进行位置调整后的多个被测器件装设于多个插座上。所述处理装置能够高速且低耗电地将被测器件连接于测试装置的插座中。
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公开(公告)号：CN103035302A
公开(公告)日：2013-04-10
申请号：CN201210307998.0
申请日：2012-08-27
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 川上刚
IPC: G11C29/56
CPC classification number: G11C29/56004
Abstract: 本发明公开了一种测试装置，其能对地址进行反转控制。所述测试装置包括：地址发生部，发生被测试存储器的地址；选择部，选择是否将地址发生部发生的地址进行比特反转后，供给至被测试存储器；反转处理部，其在选择部选择了将地址进行比特反转时，将由地址发生部发生的地址比特反转并输出，在选择部选择不将地址比特反转时，将地址发生部发生的地址不进行比特反转而输出；供给部，向被测试存储器提供反转处理部输出的被反转控制后的地址，以及表示反转处理部输出的地址是否是比特反转后的地址的反转周期信号。
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公开(公告)号：CN102655027A
公开(公告)日：2012-09-05
申请号：CN201210054259.5
申请日：2012-03-02
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 根岸利幸
IPC: G11C29/48
CPC classification number: G01R31/31919 , G11C29/56004
Abstract: 本发明提供一种在高速模式时生成自由度高的图案数据的测试装置。所述测试装置具有用于输出与和预定测试速度分别同步输入的输入图案相对应的图案数据的多个图案输出部，各图案输出部分别具有普通模式和高速模式两个动作模式，在高速模式下，各图案输出部分别将与输入至自己的图案输出部中的输入图案相对应的图案数据和与输入至其他图案输出部中的输入图案相对应的图案数据分别作为与多个分割速度对应的图案数据中的至少一个数据而输出。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101978485B
公开(公告)日：2012-07-04
申请号：CN200880128222.4
申请日：2008-03-26
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: H01L21/66
CPC classification number: G01R31/2889
Abstract: 本发明提供一种测试系统，用于测试在一个半导体晶片上形成的多个半导体芯片，该测试系统具有：晶片基板；和在晶片基板上形成，对各个半导体芯片至少各设置一个，与对应的半导体芯片的输入输出端电连接的多个晶片侧连接端；以及在晶片基板上形成，对各个半导体芯片至少各设置一个，生成用于所对应的半导体芯片的测试的测试信号，分别提供给对应的各个半导体芯片，以测试各个上述半导体芯片的多个电路部；生成用于控制多个电路部的控制信号的控制装置。
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公开(公告)号：CN102411121A
公开(公告)日：2012-04-11
申请号：CN201110217738.X
申请日：2011-08-01
Applicant: 爱德万测试株式会社
CPC classification number: G01R31/2621
Abstract: 提供一种测试装置，对被测试器件进行测试，包括：感应负载部，其具有感应成分，设于向被测试器件流过测试电流的路径上；转换部，其转换是否将来自感应负载部的测试电流供给到被测试器件；断路控制部，其根据被测试器件的状态转换转换部并切断路径；电压控制部，其将感应负载部与转换部之间的路径的电压控制为预定的钳位电压以下。
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公开(公告)号：CN102362188A
公开(公告)日：2012-02-22
申请号：CN201080013477.3
申请日：2010-01-18
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 甲元芳雄
IPC: G01R31/26 , H01L21/50 , H01L21/66 , H01L21/677
CPC classification number: G01R1/0735 , G01R1/0408
Abstract: 本发明提供一种测试被测试器件的测试装置，能免除对于晶片的测试。该测试装置包括从形成多个被测试器件的晶片切割出各个被测试器件的切割部；将被切割部切割出来的各被测试器件单个封装在测试用封装体中的测试用封装部；对被封装在测试用封装体中的被测试器件进行测试的测试部；从测试用封装体中取下测试完毕的被测试器件的卸载部；将从测试用封装体中取下的被测试器件，封装在产品封装体中的产品封装部。
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公开(公告)号：CN102308226A
公开(公告)日：2012-01-04
申请号：CN201080006522.2
申请日：2010-02-02
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/28 , G01R31/3183
CPC classification number: G01R31/31919 , G01R31/31922
Abstract: 在测试器件的测试装置上安装：图案产生部，其产生用于测试被测试器件的测试图案；信号提供部，其将与测试图案相对应的测试信号提供给被测试器件；触发产生部，其将触发信号提供给连接于被测试器件的外部的机器；同步控制部，其根据图案产生部产生的测试图案中的至少一部分，将指示产生触发信号的同步信号输出给触发产生部；所述测试装置上产生与测试图案同步的触发信号。
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公开(公告)号：CN101542305B
公开(公告)日：2012-01-04
申请号：CN200780043245.0
申请日：2007-11-15
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 三桥尚史
CPC classification number: G01R31/31917 , G01R31/31928
Abstract: 本发明提供一种测试装置，用于测试被测试设备，该测试装置包括：对被测试设备供给测试信号的信号供给部；将按照所述测试信号，从所述被测试设备输出的输出信号作为被测量信号而输入的输入部；根据指定对被测量信号取样的时限的取样时钟，生成具有与被测量信号的1周期对应的脉冲宽度的周期脉冲的周期脉冲生成部；输出与周期脉冲的宽度对应的电压的变换部；将电压变换成数字电压值的AD转换器；从数字电压值算出表示周期脉冲的脉冲宽度的数字脉冲宽度的脉冲宽度计算部；调整从数字电压值向数字脉冲宽度变换的变换参数的调整部。
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