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公开(公告)号:CN110337508A
公开(公告)日:2019-10-15
申请号:CN201880014267.2
申请日:2018-12-19
Applicant: 三菱综合材料株式会社
Abstract: 本发明的Cu-Ga合金溅射靶具有如下组成:作为金属成分,以20原子%以上且45原子%以下的范围含有Ga,进一步以合计0.1原子%以上且2原子%以下的范围含有K及Na,剩余部分由Cu及不可避免的杂质构成,在Cu-Ga合金的母相中分散有包含Na、K及F的复合氟化物,所述复合氟化物的内切圆的最大直径为30μm以下,在将所述复合氟化物中的Na的原子比设为[Na]且将所述复合氟化物中的K的原子比设为[K]的情况下,[Na]/([Na]+[K])在0.3以上且0.9以下的范围内。
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公开(公告)号:CN105813778B
公开(公告)日:2019-09-13
申请号:CN201480067567.9
申请日:2014-11-28
Applicant: 三菱综合材料株式会社
IPC: B22D11/06 , B22D11/00 , B22D11/108 , B22D11/11 , B22D11/12
Abstract: 本发明的铜铸块通过带式连铸机铸造,所述铜铸块的碳含量设为1质量ppm以下,氧含量设为10质量ppm以下,氢含量设为0.8质量ppm以下,磷含量设为15质量ppm以上且35质量ppm以下的范围内,且剩余部分由Cu及不可避免的杂质构成,还具有由含有碳、磷及Cu的氧化物构成的夹杂物。
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公开(公告)号:CN104109837B
公开(公告)日:2018-01-16
申请号:CN201410151582.3
申请日:2014-04-15
Applicant: 三菱综合材料株式会社
CPC classification number: B32B15/01 , C22C9/04 , C22C18/02 , C22C30/02 , C22C30/06 , C23C14/3414 , H01J37/3429 , Y10T428/12778
Abstract: 本发明提供一种保护膜形成用溅射靶及层叠配线膜。所述保护膜形成用溅射靶,其在Cu配线膜(11)的单面或双面形成保护膜(12)时使用,其中,包括:5.0质量%以上15.0质量%以下的Ni;2.0质量%以上10.0质量%以下的Mn;30.0质量%以上50.0质量%以下的Zn;0.5质量%以上7.0质量%以下的Al;余量为Cu及不可避免的杂质。并且,所述层叠配线膜(10),其具备Cu配线膜(11)及形成于该Cu配线膜(11)的单面或双面的保护膜(12),其中,保护膜(12)利用上述保护膜形成用溅射靶形成。
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公开(公告)号:CN105473760B
公开(公告)日:2017-09-01
申请号:CN201480046016.4
申请日:2014-10-10
Applicant: 三菱综合材料株式会社
CPC classification number: C22C9/06 , C22C9/00 , C22C9/01 , C23C14/3414 , H01J37/3426
Abstract: 本发明的保护膜形成用溅射靶在Cu配线膜的单面或两面形成保护膜时使用,含有5质量%以上且15质量%以下的Ni或共计5质量%以上且15质量%以下的Ni及Al(其中,包含0.5质量%以上的Ni),并且含有0.1质量%以上且5.0质量%以下的Mn、0.5质量%以上且7.0质量%以下的Fe,剩余部分由Cu及不可避免杂质构成。
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公开(公告)号:CN103258725B
公开(公告)日:2017-04-12
申请号:CN201310042051.6
申请日:2013-02-01
Applicant: 三菱综合材料株式会社
Inventor: 森晓
IPC: H01L21/285 , H01L29/43
CPC classification number: H01L21/76861 , H01L21/32051 , H01L23/52 , H01L23/53233 , H01L27/124 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 本发明提供一种薄膜配线形成方法及薄膜配线,本发明的薄膜配线形成方法,使用具有Ca为0.5at%以上且不到5at%、剩余部分为Cu及不可避免杂质的组成的Cu‑Ca合金靶以溅射法形成Cu‑Ca合金膜之后,在氧气分压为10‑4~10‑10气压的含微量氧的惰性气体气氛中,以300~700℃对所述合金膜进行热处理,所述薄膜配线通过该方法形成。
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公开(公告)号:CN102203916A
公开(公告)日:2011-09-28
申请号:CN200980141374.2
申请日:2009-10-21
Applicant: 三菱综合材料株式会社 , 株式会社爱发科
IPC: H01L21/285 , C22C9/00 , C22C9/01 , C22C9/05 , C23C14/34 , H01L21/28 , H01L21/3205 , H01L23/52 , H01L29/786
CPC classification number: H01L23/53233 , C22C9/00 , C23C14/165 , C23C14/3414 , H01L27/124 , H01L29/458 , H01L29/4908 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 用于形成薄膜晶体管用布线膜的溅射靶材,具有如下组成:含有Mg:0.1~5原子%、Ca:0.1~10原子%,剩余部分含有Cu和不可避免的杂质。另外还可以含有Mn和Al中的至少一种或两种合计0.1~10原子%。另外还可以含有P:0.001~0.1原子%。
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公开(公告)号:CN111836913B
公开(公告)日:2022-09-09
申请号:CN201980018145.5
申请日:2019-10-23
Applicant: 三菱综合材料株式会社
Abstract: 本发明提供一种溅射靶材,含有合计5质量ppm以上且50质量ppm以下的范围的选自Ag、As、Pb、Sb、Bi、Cd、Sn、Ni、Fe中的一种或两种以上,剩余部分由Cu及不可避免的杂质构成,当通过电子背散射衍射法进行观察,将不包括双晶而以面积平均计算出的平均晶粒直径设为X1(μm),并将极图的强度的最大值设为X2时,满足式(1):2500>19×X1+290×X2,并且通过电子背散射衍射法测定的晶体取向的局部取向差(KAM)为2.0°以下,相对密度为95%以上。
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公开(公告)号:CN113365763A
公开(公告)日:2021-09-07
申请号:CN202080011450.4
申请日:2020-03-10
Applicant: 三菱综合材料株式会社
Abstract: 一种含金属铜‑氧化铜的粉末(10),由金属铜粉末(11)、氧化铜粉末(12)和不可避免的杂质组成,其中,金属铜粉末(11)的平均粒径大于氧化铜粉末(12)的平均粒径,并且所述含金属铜‑氧化铜的粉末(10)具有在金属铜粉末(11)的外周部附着有氧化铜粉末(12)的结构的复合粒子(15)。并且,在金属铜粉末(11)的外周部形成有凹部,复合粒子(15)也可以为在形成于金属铜粉末(11)的外周部的所述凹部中填充有氧化铜粉末(12)的结构。
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公开(公告)号:CN111492091A
公开(公告)日:2020-08-04
申请号:CN201880080335.5
申请日:2018-12-18
Applicant: 三菱综合材料株式会社
Abstract: 本发明的Cu-Ga合金溅射靶具有如下组成:作为金属成分,以20原子%以上且40原子%以下的范围含有Ga,并且以合计0.05原子%以上且1.0原子%以下的范围含有Na及K,剩余部分由Cu及不可避免的杂质构成,在Cu-Ga合金的母相中分散有由钠盐或钾盐构成的碱金属盐粒子,所述碱金属盐粒子的最大粒径设为30μm以下,所述Cu-Ga合金溅射靶的相对密度设为97%以上。
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