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公开(公告)号：CN113158336A
公开(公告)日：2021-07-23
申请号：CN202110373192.0
申请日：2021-04-07
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G06F30/15 , G06F30/23 , G06F119/06
Abstract: 本发明一种空间指向测量仪器多物理场耦合建模及精度计算方法，主要包括：根据轨道类型及特点，分析所在轨道空间环境；根据空间指向测量仪器特点，分析其内部参数；建立空间指向测量仪器分析模型；空间指向测量仪器系统敏感参数识别，参数灵敏度分析；建立空间指向测量仪器多物理场耦合模型；空间指向测量仪器多物理场耦合效应分析；指标评价。本发明能够有效分析出空间指向测量仪器在轨多物理场空间环境及识别出其主要特性，为空间指向测量仪器多物理场耦合建模奠定基础。
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公开(公告)号：CN112985458A
公开(公告)日：2021-06-18
申请号：CN202110169722.X
申请日：2021-02-07
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G01C25/00
Abstract: 本发明实施例提供一种在形变加载下进行成像的星敏感器指向测量仪，其中，光源(10)、星模拟器和平行光管(20)、光学成像仪(40)的中心线位于同一条轴线上；所述形变加载设备(60)，用于生成或探测由干扰因素引起的形变而产生的应力应变，并将所述应力应变通过所述试验夹具(50)加载到所述光学成像仪(40)上，所述形变而产生的应力应变的方向包括：三维坐标系的X方向、Y方向、Z方向以及分别与X方向、Y方向和Z方向成预定夹角的方向中的至少一种；所述光学成像仪(40)安装有角位移传感器(401)以及力、力矩和位移传感器(402)，用于测量上述应力应变的力矩、位移和角位移的大小，并在上述应力应变的作用下进行成像得到成像信息。
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公开(公告)号：CN112731612A
公开(公告)日：2021-04-30
申请号：CN202011167466.2
申请日：2020-10-27
Applicant: 北京控制工程研究所
Abstract: 本发明涉及一种用于空间指向测量仪器光学透镜的柔性消热减振支撑结构，其特征在于：包括内环和固定法兰；所述内环的内侧壁上均布胶结环节，外侧壁与所述固定法兰之间均布设置同时具有横向和纵向自由度释放能力的折臂梁环节；所述的折臂梁环节与所述胶结环节交错布置；通过所述的胶结环节实现光学透镜的径向定位，通过所述固定法兰实现光学透镜的轴向定位及连接。
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公开(公告)号：CN112432004A
公开(公告)日：2021-03-02
申请号：CN202011164945.9
申请日：2020-10-27
Applicant: 北京控制工程研究所
Abstract: 本发明涉及一种用于空间指向测量仪器的振动抑制和消热支撑的柔性支撑结构，横向振动抑制消热环节具备横向自由度释放能力，为具有一定厚度的圆环结构，圆环外侧均布三个支耳，所述圆环结构的圆环面上内外设置不少于两层的柔性槽，所述光学仪器安装面设置在所述圆环面上且置于最内层柔性槽的内侧；所述纵向振动抑制消热环节具备横向和纵向自由度释放能力，由三个呈中心对称的部分组合而成；每部分具有两个自由端，其中一个自由端与所述的支耳固连，另一自由端安装在所述支耳正下方的底部安装面上，两个自由端之间通过弯折结构形成具有一个回转中心的悬臂结构，三个部分的悬臂结构外端连接在一起，并相对所述圆环结构中心对称布置。
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公开(公告)号：CN111323210A
公开(公告)日：2020-06-23
申请号：CN202010187740.6
申请日：2020-03-17
Applicant: 北京控制工程研究所
Abstract: 本发明一种光学镜头光轴热稳定性的测试装置及方法，装置包括光学平台、星模拟器、成像组合体、控温及夹持装置、探测电路、采图计算设备；所述成像组合体包括光学镜头及探测器组件；星模拟器、成像组合体、控温及夹持装置在测试中均安置于光学平台上；星模拟器发出的光线在成像组合体中的探测器组件上成像；控温及夹持装置用于夹持成像组合体，通过控温及夹持装置内置的电加热片或油路管道设施实现控制成像组合体温度的变化；成像组合体中的光学镜头作为试验中的被测单元，对目标源光线汇聚并在探测器组件上成像；探测电路与成像组合体中的探测器组件相连，用于图像的形成控制与输出；采图计算设备与探测电路相连，用于图像的采集、记录和分析计算。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119846607A
公开(公告)日：2025-04-18
申请号：CN202411873207.X
申请日：2024-12-18
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G01S7/497
Abstract: 一种多模复合跟瞄系统的目标指向误差标定方法，包括：(1)将自准直仪架设在多模光学系统和可见光相机视场正前方，对多模光学系统进行校正并标记可见光相机的零点；(2)在多模光学系统最大测量距离处放置耙标，标记相机零点在耙标中的位置；然后高精度转台的方位轴和俯仰轴角度转动到零位，读取激光器发射激光点的成像位置，记录目标指向的系统偏差；(3)控制高精度转台的方位轴和俯仰轴摆动到不同角度，测出可见光相机跟踪点与目标激光照射点成像位置的偏差值；(4)将测量值带入包含反射镜安装偏差的误差计算公式形成多元方程组，解算得到多模复合跟瞄系统的反射镜安装误差，再结合高精度转台方位轴、俯仰轴的摆动角度，计算出对应的偏差值。本发明方法可对多模复合跟瞄系统的目标指向误差进行准确标定。
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公开(公告)号：CN119845300A
公开(公告)日：2025-04-18
申请号：CN202411753405.2
申请日：2024-12-02
Applicant: 北京控制工程研究所
Abstract: 一种星敏感器在轨暗场校正方法，设置星敏感器工作在窗口跟踪模式下，记录在轨运行中的每帧跟踪窗口图像的像素坐标和灰度，判断当某一像素累计的帧数达到一定数量要求后，对该像素的序列灰度值进行处理，剔除序列灰度值中的灰度较大的数值后计算均值，作为该像素在轨暗场校正系数。统计当星敏感器探测器成像区域内所有像素的在轨暗场校正系数均计算完成后，即可对星敏感器进行在轨暗场校正，从而提升星敏感器的测量精度。
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公开(公告)号：CN117889953B
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202410033902.9
申请日：2024-01-09
Applicant: 北京控制工程研究所
Abstract: 本发明涉及光照设备技术领域，特别涉及一种光束照度均匀性测试装置及方法。该装置包括沿光路行进方向依次设置的多个光源、多个平行光管和一个光学检测单元，每个光源均位于一个平行光管的入光侧，光源用于为平行光管提供照明，以使平行光管发出平行光束；光学检测单元包括一个聚光器、一个分束镜和两个光学探测器；聚光器用于将平行光束汇聚在分光镜上；分光镜用于对平行光束进行分束，得到两个分束光，一个分束光在第一光学探测器上形成第一光斑，另一个分束光在第二光学探测器上形成第二光斑；第一光学探测器设置于聚光器的基准焦平面；第二光学探测器设置于聚光器的焦面前半个波长的离焦处。本方案能够提高光束照度均匀性测试的效率。
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公开(公告)号：CN117949178A
公开(公告)日：2024-04-30
申请号：CN202410033915.6
申请日：2024-01-09
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供了一种光束平行度测试系统及方法，该系统包括：控制器以及沿光路行进方向依次设置的光源、平行光管、五棱镜组、聚焦光学单元和光学探测器，其中：光源位于平行光管的入光侧，光源为平行光管提供照明，以使平行光管发出平行光束；五棱镜组包括至少三个棱镜组件，棱镜组件包括一个五棱镜和一个电控光阑，五棱镜用于接收平行光束，并形成星点，电控光阑用于控制棱镜组件的开关；聚焦光学单元将星点成像在光学探测器上；控制器与光学探测器电连接，光学探测器对星点进行光电转换，得到星点的图像信息，并将图像信息发送给控制器；控制器对图像信息进行计算，得到平行光管的平行度误差。本发明可以提供高精度的测量结果。
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