半导体装置
    24.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1248309C

    公开(公告)日:2006-03-29

    申请号:CN03103665.1

    申请日:2003-02-19

    Abstract: 本发明提供了一种容易进行使熔丝配线断线的熔丝熔断,并且熔丝配线和其周边部的品质难以劣化的熔丝配线结构的半导体装置。Cu熔丝配线1,由熔丝用引出线5,以及设置在该引出线5更上方并与引出电气连接的熔丝主体部2构成,并被设置在Si基板3上。在如覆盖Cu熔丝配线1那样,层积设置作为绝缘膜的层间绝缘膜4以及Cu扩散防止膜7的同时,在熔丝主体部2的上方,形成为了容易进行熔丝熔断的凹部9。熔丝主体部2,被形成为比凹部的底部10的宽度以及长度还短,且长度在熔丝熔断用激光束的直径以上,并且被设置位于和底部10相对的区域的内侧。

    制造半导体器件的方法
    30.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1449016A

    公开(公告)日:2003-10-15

    申请号:CN03121469.X

    申请日:2003-03-28

    CPC classification number: H01L21/76807 H01L21/76813 H01L2221/1031

    Abstract: 按照本发明第一方面所述制造半导体器件的方法包括:形成一个第一光敏树脂固化层,该第一光敏树脂固化层包括在半导体基板上方的一个第一开口,在上述半导体基板上形成一个基础布线层,第一开口在基础布线层上方制成;在第一光敏树脂固化层上形成一个第二光敏树脂固化层,该第二光敏树脂固化层包括一个第二开口,第二开口的底部包括第一开口的开口顶部;及形成一个布线层以便填满第一和第二开口。

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