弹性膜、基板保持装置及研磨装置

    公开(公告)号:CN104942704B

    公开(公告)日:2018-10-02

    申请号:CN201510136596.2

    申请日:2015-03-26

    Abstract: 本发明提供一种可在晶片边缘部的狭窄区域精密调整研磨剖面的弹性膜。弹性膜(10)具备:抵接于基板的抵接部(11);从抵接部(11)周端部向上方延伸的第一边缘周壁(10h);及具有连接于第一边缘周壁(10h)的内周面(101)的水平部(111)的第二边缘周壁(10g),第一边缘周壁(10h)的内周面(101)具有相对抵接部(11)垂直延伸的上侧内周面(101a)及下侧内周面(101b),上侧内周面(101a)从第二边缘周壁(10g)的水平部(111)向上方延伸,下侧内周面(101b)从第二边缘周壁(10g)的水平部(111)向下方延伸。

    基板的吸附方法及研磨装置、基板保持装置及其基板吸附判定方法与压力控制方法、弹性膜

    公开(公告)号:CN106466806A

    公开(公告)日:2017-03-01

    申请号:CN201610688808.2

    申请日:2016-08-18

    Abstract: 本发明提供一种用于适当地处理基板的基板吸附方法、基板保持装置、基板研磨装置、弹性膜、基板保持装置的基板吸附判定方法和压力控制方法。一种基板吸附方法,使基板吸附于顶环,该基板吸附方法包括:抽真空工序,在基板的下表面支承于支承部件、基板的上表面与弹性膜的下表面接触的状态下,对在弹性膜的上表面与顶环主体之间呈同心圆状形成的多个区域中的至少一个区域进行抽真空;流量计测工序,对相比于抽真空的对象区域位于外侧的区域内的气体的流量进行计测;判定工序,基于气体的流量对基板是否已吸附到顶环进行判定;分离工序,在判定为基板吸附到顶环之后,使吸附有基板的弹性膜与支承部件分离。

    研磨装置以及研磨方法
    25.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103447939A

    公开(公告)日:2013-12-18

    申请号:CN201310216923.6

    申请日:2013-05-31

    Abstract: 一种研磨装置以及研磨方法,研磨装置具有:基板保持装置(1),具有将基板W相对研磨面(2a)按压的基板保持面(45a)以及配置为包围基板W且与研磨面(2a)接触的保持环(40);旋转机构(13),使基板保持装置(1)以其轴心为中心旋转;至少一个局部负荷施加机构(110),向保持环(40)的一部分施加局部负荷。保持环(40)能够和基板保持面(45a)独立地倾斜运动,局部负荷施加机构(110)不和基板保持装置(1)一体旋转。根据本发明的研磨装置以及研磨方法,能够精密地控制晶片的研磨轮廓、特别是晶片边缘部的研磨轮廓。

    衬底保持设备以及抛光装置

    公开(公告)号:CN101474772A

    公开(公告)日:2009-07-08

    申请号:CN200910006163.X

    申请日:2005-12-06

    CPC classification number: B24B37/30

    Abstract: 一种根据本发明的衬底保持设备,其包括将与衬底的后表面接触的弹性膜,用于固定该弹性膜的至少一部分的附着构件,以及在当衬底与该弹性膜接触时用于保持该衬底的外围部分的保持环。弹性薄膜包括至少一个突出部分,而附着构件包括至少一个啮合部分,该啮合部分与弹性膜的该至少一个突出部分的侧表面啮合。弹性膜进一步包括波纹部分,该波纹部分可以在挤压方向上膨胀,以允许弹性膜挤压衬底,且该波纹部分可以沿着挤压方向收缩。

    基板保持装置和抛光装置
    28.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100423203C

    公开(公告)日:2008-10-01

    申请号:CN02824391.9

    申请日:2002-12-06

    Abstract: 本涉及一种在研磨半导体晶片等基板后进行平坦化的抛光装置中保持该基板(W)并按压在研磨面上的基板保持装置。本发明的基板保持装置具备内部具有容纳空间的顶圈(top ring)主体(2)、和可在顶圈主体的容纳空间内上下运动的上下运动部件(206),在上下运动部件的下表面上装配具备弹性膜的相接部件(209),相接部件的弹性膜(291)具备在具有向外凸出的外延凸缘(291a)的同时直接或间接相接于基板的相接部(291b);和从相接部的外延凸缘基部(291d)向上延伸并连接于上下运动部件的连接部(291c),连接部由比相接部更富伸缩性的材质形成。

    基板保持装置和抛光装置
    30.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1698185A

    公开(公告)日:2005-11-16

    申请号:CN02824391.9

    申请日:2002-12-06

    Abstract: 本涉及一种在研磨半导体晶片等基板后进行平坦化的抛光装置中保持该基板(W)并按压在研磨面上的基板保持装置。本发明的基板保持装置具备内部具有容纳空间的顶圈(topring)主体(2)、和可在顶圈主体的容纳空间内上下运动的上下运动部件(206),在上下运动部件的下表面上装配具备弹性膜的相接部件(209),相接部件的弹性膜(291)具备在具有向外凸出的外延凸缘(291a)的同时直接或间接相接于基板的相接部(291b):和从相接部的外延凸缘基部(291d)向上延伸并连接于上下运动部件的连接部(291c),连接部由比相接部更富伸缩性的材质形成。

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