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公开(公告)号:ITMI20121591A1
公开(公告)日:2014-03-26
申请号:ITMI20121591
申请日:2012-09-25
Applicant: ST MICROELECTRONICS SRL
Inventor: PAGANI ALBERTO , ZIGLIOLI FEDERICO GIOVANNI
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公开(公告)号:SG196768A1
公开(公告)日:2014-02-13
申请号:SG2013086244
申请日:2008-10-22
Applicant: ST MICROELECTRONICS GRENOBLE , ST MICROELECTRONICS SRL
Inventor: TENUCCI SERGIO , PAGANI ALBERTO , SPINETTA MARCO , RANCHOUX BERNARD
Abstract: - 26 -METHOD FOR AN IMPROVED CHECKING OF REPEATABILITY ANDREPRODUCIBILITY OF A MEASURING CHAIN, IN PARTICULAR FOR THEQUALITY CONTROL BY MEANS OF THE SEMICONDUCTOR DEVICETESTINGThe invention relates to a method for an improved checking ofrepeatability and reproducibility of a measuring chain, in particular for thequality control by means of the semiconductor device testing, wherein testing10steps are provided for multiple and different devices to be subjected tomeasurement through a measuring system comprising at least oneconcatenation of measuring units between a testing apparatus (ATE) and eachdevice to be subjected to measurement. Advantageously, the method comprisesthe following steps: checking repeatability and reproducibility of each type of15unit that forms part of the measuring chain of the concatenation; then makinga correlation between the various measuring chains as a whole to checkrepeatability and reproducibility, using a corresponding device subjected tomeasurement.20Fig. 7METHOD FOR AN IMPROVED CHECKING OF REPEATABILITY AND REPRODUCIBILITY OF AMEASURING CHAIN, IN PARTICULAR FOR THE QUALITY CONTROL BY MEANS OF THE The invention relates to amethod for an improved checking of repeatability and reproducibility of ameasuring chain, in particular for the 10 quality control by means of thesemiconductor device testing, wherein testing steps are provided for multipleand different devices to be subjected to measurement through a measuringsystem comprising at least one concatenation of measuring units between atesting apparatus (ATE) and each device to be subjected to measurement.Advantageously, the method comprises 15 the following steps: checkingrepeatability and reproducibility of each type of unit that forms part of themeasuring chain of the concatenation; then making a correlation between thevarious measuring chains as a whole to check repeatability andreproducibility, using a corresponding device subjected to measurement. 20Fig. 7
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公开(公告)号:ITTO20120374A1
公开(公告)日:2013-10-28
申请号:ITTO20120374
申请日:2012-04-27
Applicant: ST MICROELECTRONICS SRL
Inventor: PAGANI ALBERTO , ZIGLIOLI FEDERICO GIOVANNI
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公开(公告)号:ITTO20120294A1
公开(公告)日:2013-10-04
申请号:ITTO20120294
申请日:2012-04-03
Applicant: ST MICROELECTRONICS SRL
Inventor: PAGANI ALBERTO
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公开(公告)号:IT1398937B1
公开(公告)日:2013-03-28
申请号:ITMI20100238
申请日:2010-02-17
Applicant: ST MICROELECTRONICS SRL
Inventor: PAGANI ALBERTO
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公开(公告)号:FR2965645A1
公开(公告)日:2012-04-06
申请号:FR1058043
申请日:2010-10-05
Applicant: ST MICROELECTRONICS GRENOBLE 2 , ST MICROELECTRONICS SRL
Inventor: PAGANI ALBERTO , BARD JEAN-MICHEL
Abstract: On décrit une méthode de test d'au moins un dispositif DUT (15) équipé d'un circuit de test intégré (20) et en communication avec au moins un testeur ATE (30) où l'on envoie des messages / instructions / signaux de test / informations (INF) exclusivement du testeur ATE (30) au dispositif DUT (15). On décrit aussi une architecture de test (35) pour implémenter une telle méthode de test.
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公开(公告)号:ITMI20100843A1
公开(公告)日:2011-11-13
申请号:ITMI20100843
申请日:2010-05-12
Applicant: ST MICROELECTRONICS SRL
Inventor: PAGANI ALBERTO
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28.
公开(公告)号:ITTO20100109A1
公开(公告)日:2011-08-17
申请号:ITTO20100109
申请日:2010-02-16
Applicant: ST MICROELECTRONICS SRL
Inventor: PAGANI ALBERTO
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公开(公告)号:ITUA20164724A1
公开(公告)日:2017-12-28
申请号:ITUA20164724
申请日:2016-06-28
Applicant: ST MICROELECTRONICS SRL
Inventor: PAGANI ALBERTO
IPC: H01L23/48 , H01L25/065
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公开(公告)号:DE112013002708T5
公开(公告)日:2015-02-26
申请号:DE112013002708
申请日:2013-05-23
Applicant: ST MICROELECTRONICS SRL
Inventor: PAGANI ALBERTO
IPC: H01Q1/22 , A61B5/00 , G06K19/077 , H01L23/538 , H01L23/64 , H01L23/66 , H01L25/065 , H01Q7/00 , H02J5/00 , H02J17/00 , H04B5/00
Abstract: Das Netzwerk (100) aus elektronischen Vorrichtungen ist auf einem flexiblen Substrat (15; 101) durch eine Mehrzahl von elektronischen Vorrichtungen (1; 104) gebildet, die auf dem flexiblen Substrat angebracht sind. Die elektronischen Vorrichtungen besitzen eine eingebettete Antenne (4; 111) zur gegenseitigen Kopplung vom drahtlosen Typ. Jede elektronische Vorrichtung (1; 104) ist durch einen Chip oder ein komplexes System gebildet, in den bzw. das eine mit der eingebetteten Antenne (4; 11) verbundene Transceiver-Schaltung (3) und ein Funktionsteil (12; 112) integriert sind, das mit der Transceiver-Schaltung verbunden ist und mindestens ein Element beinhaltet, das aus der nachfolgenden Gruppe ausgewählt ist: einen Sensor, einen Aktuator, eine Schnittstelle, eine Elektrode, einen Speicher, eine Steuereinheit, eine Stromversorgungseinheit, einen Wandler, einen Adapter, eine digitale Schaltung, eine analoge Schaltung, eine HF-Schaltung, ein mikroelektromechanisches System, eine Elektrode, eine Wanne, eine Zelle, ein Behältnis für Flüssigkeiten. Bei dem flexiblen Träger kann es sich um ein Substrat (15) aus Kunststoffmaterial, in das die elektronischen Vorrichtungen integriert sind, oder um ein Kleidungsstück mit Smart-Buttons handeln, in denen die elektronischen Vorrichtungen untergebracht sind.
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