用于测量图像中的光的偏振的系统和方法

    公开(公告)号:CN104833424B

    公开(公告)日:2017-10-24

    申请号:CN201510064791.9

    申请日:2015-02-06

    Applicant: 波音公司

    Abstract: 本公开涉及一种用于测量图像中的偏振光的系统和方法,特别是涉及一种能够使用有或者没有偏振滤光器的单个照相机采集偏振测定数据的系统。在使用偏振滤光器时,数据获取方法包括:(1)操纵飞行器(或者其他交通工具)以在捕获图像时在不同的方向定位偏振滤光器(和照相机),(2)彼此配准不同的图像,和(3)计算图像中的关注的点的偏振测定值(诸如斯托克斯参数)。在未使用偏振滤光器时,数据获取方法包括操纵飞行器(或者其他交通工具)以在捕获图像时在不同的方向定位照相机然后进行相同的操作(2)和(3)。这些方法通过在不同的角度拍摄多个照相机图像来测量给定的场景中的偏振的量。

    一种液晶可调谐滤波器成像光谱重建方法

    公开(公告)号:CN106768327A

    公开(公告)日:2017-05-31

    申请号:CN201611107235.6

    申请日:2016-12-06

    CPC classification number: G01J3/2823 G01J3/0224 G01J3/0237

    Abstract: 本发明公开了一种液晶可调谐滤波器成像光谱重建方法,该方法利用的装置包括成像目标、准直系统、液晶可调谐滤波器(LCTF)、成像透镜和探测器阵列,该光谱重建方法包括如下步骤:1)成像光谱数据预处理;2)生成三维数据立方体D(x,y,λ);3)建立液晶可调谐滤波器光谱混叠函数模型;4)结合Richardson‑Lucy算法进行光谱重建。本发明有效地去除了光谱模糊,提高了光谱精度和光谱分辨率,恢复了成像光谱的真实信息。

    分光测量装置
    26.
    发明授权

    公开(公告)号:CN104704333B

    公开(公告)日:2017-05-10

    申请号:CN201380052250.3

    申请日:2013-10-02

    Inventor: 石丸伊知郎

    Abstract: 本发明的分光测量装置具备:分割光学系统,其将从位于被测量物的测量区域内的多个测量点分别发出的测量光束分割为第一测量光束和第二测量光束;成像光学系统,其使第一测量光束与第二测量光束发生干涉;光程差赋予单元,其对第一测量光束和第二测量光束之间赋予连续的光程差分布;检测部,其包括用于检测与上述连续的光程差分布对应的干涉光的强度分布的多个像素;处理部,其基于由检测部检测出的干涉光的光强度分布来求出被测量物的测量点的干涉图,通过对该干涉图进行傅立叶变换来获取光谱;共轭面成像光学系统,其配置在被测量物与分割光学系统之间,具有与该分割光学系统共用的共轭面;以及周期性赋予单元,其配置于共轭面,对从多个测量点发出的测量光束进行空间上的周期调制。

    波长可变滤光器
    27.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106483655A

    公开(公告)日:2017-03-08

    申请号:CN201610514041.1

    申请日:2016-07-04

    Abstract: 本发明涉及波长可变滤光器。提供一种能够在不使用带通滤光器的情况下从450nm~1100nm的宽度的波长选择性地透射期望的波长的光的波长可变滤光器。波长可变滤光器(200)是,一种波长可变滤光器,具有:n+1个(n为整数)偏光板101),被配置在同一光轴(111)上;n个单元,被配置在偏光板(101)之间,按照入射光透射的顺序在光轴(111)上排列水晶双折射板(102)、超宽带四分之一波片(103)和超宽带二分之一波片104)而构成;以及框体(201),在内部保持偏光板(101)和单元,n个各水晶双折射板(102)的厚度在将最薄的水晶双折射板的厚度设为d时为2i-1d(i=1~n),波长可变滤光器具备:筒状的旋转体,在内部保持超宽带二分之一波片(104)并且能够在框体(201)的内部以光轴(111)为中心进行旋转;以及旋转机构,使旋转体旋转。

    隐藏危险品检测方法及设备

    公开(公告)号:CN102759753B

    公开(公告)日:2015-08-26

    申请号:CN201110110590.X

    申请日:2011-04-29

    CPC classification number: G01N21/3581 G01J3/0237 G01N21/3563 G01V8/005

    Abstract: 本发明涉及隐藏危险品检测方法及设备。本发明的隐藏危险品检测方法包括:对被测物体进行太赫兹成像;判断太赫兹成像得到的被测物体太赫兹图像中是否存在藏有危险品的可疑区域;对藏有危险品的可疑区域进行多波长光谱分析测量,根据多波长光谱分析测量结果鉴别所述可疑区域中是否包含危险品;以及输出被测物体图像和危险品检测结果。还披露了一种用于实施本发明的隐藏危险品检测方法的设备。本发明的隐藏危险品检测方法及设备可同时从形状特征和物质成分的角度实现对隐藏危险品的鉴别,检测准确性大大增加。

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