公开(公告)号：DE10043992B4

公开(公告)日：2013-12-24

申请号：DE10043992

申请日：2000-09-05

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： ENGELHARDT JOHANN DR ,  HOFFMANN JUERGEN DR ,  KNEBEL WERNER DR

IPC: G02B21/00 ,  G02B21/06

Abstract: Verfahren zur Untersuchung einer Probe (11) mittels eines konfokalen Scan-Mikroskops mit mindestens einer Lichtquelle (1), vorzugsweise einem Laser, zur Erzeugung eines Beleuchtungslichtstrahls (4) für die Probe (11) und einer Strahlablenkeinrichtung (9) zur Führung des Beleuchtungslichtstrahls (4) über die Probe (11), mit den folgenden Verfahrensschritten: – Aufnehmen eines Voransichtsbilds (19, 30); – Markieren mehrerer interessierender Bereiche (16, 17; 27, 28) im Voransichtsbild (19, 30); – Zuordnen individueller Beleuchtungslichtstrahl-Wellenlängen und/oder Beleuchtungslichtstrahl-Leistungen zu den Bereichen (16, 17; 27, 28); – Beleuchten der Bereiche (24, 25) der Probe (11) gemäß der Zuordnung; – Detektieren des von der Probe (11) ausgehenden Reflexions- und/oder Fluoreszenzlichts, wobei der Beleuchtungslichtstrahl (4) derart geführt wird, dass im Wesentlichen nur die markierten Bereiche (24, 25) der Probe (11) beleuchtet werden, und wobei die Strahlablenkung zwischen zwei oder den Bereichen (24, 25) im Wesentlichen in direkter Linie von einem Bereich (24, 25) zu einem anderen Bereich (25, 24) erfolgt.

公开(公告)号：DE102011084562A1

公开(公告)日：2013-04-18

申请号：DE102011084562

申请日：2011-10-14

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： KNEBEL WERNER DR ,  BAUER TOBIAS ,  EUTENEUER PETER

IPC: G02B21/00

Abstract: Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Feststellung eines sphärischen Fehlers eines Mikroskop-Abbildungsstrahlengangs (7) bei einer mikroskopischen Abbildung einer Probe (9) mittels eines ein Objektiv (10) aufweisenden Mikroskops (1), wobei ein die Probe (9) tragendes oder bedeckendes Deckglas (2) im Abbildungsstrahlengang angeordnet ist, wobei ein Messstrahl (130) dezentriert außerhalb der optischen Achse (8) des Objektivs (10) durch das Objektiv (10) auf die Probe (9) und der an der Grenzfläche (116) des Deckglases zur Probe (9) reflektierte Messstrahl (132) über das Objektiv (10) auf einen Detektor (128) geleitet wird, der das Intensitätsprofil des reflektierten Messstrahls (132) aufnimmt, und wobei aus diesem Intensitätsprofil das Vorliegen eines sphärischen Fehlers qualitativ und/oder quantitativ bestimmt wird.

公开(公告)号：DE102011000835A1

公开(公告)日：2012-08-23

申请号：DE102011000835

申请日：2011-02-21

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： KNEBEL WERNER DR ,  GISKE ARNOLD DR

IPC: G02B21/00 ,  G02B21/06

Abstract: Beschrieben ist ein Abtastmikroskop (10) mit einer Beleuchtungseinheit (12, 15) zum Aussenden eines Beleuchtungslichtstrahls (24), einem Objektiv (34) zum Erzeugen eines länglichen Beleuchtungsfokus (62) in einem abzubildenden Objekt (40) und einer Abtastvorrichtung (20, 22, 26, 28, 30, 38, 58) zum Bewegen des Beleuchtungsfokus (62) über einen zu beleuchtenden Zielbereich des Objektes (40) durch Ändern der Einfallsrichtung, in der der Beleuchtungslichtstrahl (24) in eine Eintrittspupille (36) des Objektivs (34) fällt. Die Abtastvorrichtung (20, 22, 26, 28, 30, 38, 58) richtet den Beleuchtungslichtstrahl (24) zum Schrägstellen des Beleuchtungsfokus (62) relativ zur optischen Achse (O) des Objektivs (34) auf einen aus der Pupillenmitte versetzten Teilbereich der Eintrittspupille (36) und ändert die Einfallsrichtung des Beleuchtungslichtstrahls (24) innerhalb dieses Teilbereichs, um den Beleuchtungsfokus (62) über den zu beleuchtenden Zielbereich zu bewegen.

公开(公告)号：DE102010016818A1

公开(公告)日：2011-09-22

申请号：DE102010016818

申请日：2010-05-06

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： KNEBEL WERNER DR

IPC: G01N21/64 ,  G02B21/00

Abstract: Zur Durchführung einer Fluoreszenz-Korrelations-Spektroskopie mit einem Fluoreszenz-Mikroskop (29) wird ein Bild einer Probe (40) aufgenommen. Anhand des Bildes wird mindestens ein zu untersuchender Beleuchtungsbereich (43) der Probe (40) ausgewählt. Zu jedem ausgewählten Beleuchtungsbereich (43) wird mindestens ein Beleuchtungsfokus (42) eines Beleuchtungslichtstrahls (24) in dem entsprechenden Beleuchtungsbereich (43) der Probe (40) erzeugt, wodurch fluoreszierende Farbstoffpartikel, die mit Probenmolekülen der Probe (40) gekoppelt sind, innerhalb des entsprechenden Beleuchtungsbereichs (43) zum Fluoreszieren angeregt werden. Das von den Farbstoffpartikeln emittierte Fluoreszenzlicht (44) wird detektiert und abhängig von dem detektierten Fluoreszenzlicht (44) wird mindestens ein Diffusionskoeffizient ermittelt, der repräsentativ für eine Diffusionsfähigkeit der fluoreszierenden Farbstoffpartikel und der mit den Farbstoffpartikeln gekoppelten Probenmolekülen ist.

公开(公告)号：DE10127137A1

公开(公告)日：2002-12-19

申请号：DE10127137

申请日：2001-06-02

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： KNEBEL WERNER DR ,  OLSCHEWSKI FRANK ,  BEWERSDORF JOERG

IPC: G02B21/00

Abstract: A scan microscope focuses illumination at a pattern (89) of points with multiple foci (91) created by a faceted optical element and covering the region of interest around a synapse in the sample and then scanned rapidly to other synapses. Includes an Independent claim for the scanning procedure.