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公开(公告)号：CN1113225C
公开(公告)日：2003-07-02
申请号：CN96195864.2
申请日：1996-06-04
Applicant: 马西默有限公司
Inventor： M·K·迪尔布 , E·基尔尼-阿扎尔贝亚 , C·R·拉斯达勒 , 小·J·M·勒佩尔
IPC: G01J3/10
CPC classification number: A61B5/1495 , A61B5/0205 , A61B5/02427 , A61B5/14552 , A61B5/6826 , A61B5/6838 , A61B2562/08 , G01J3/02 , G01J3/0254 , G01J3/027 , G01J3/0275 , G01J3/0291 , G01J3/10 , G01J2003/2866 , G01N21/255 , G01N21/274 , G01N21/31 , G01N21/3151 , G01N21/39 , G01N2021/3144 , G01N2201/0627
Abstract: 本发明的方法和设备提供了这样一种系统，其中，可以通过选择它们的驱动电流在给定的范围内调节发光二极管(LEDs)162，以便获得准确的波长。本发明还提供了一种校准和利用LED探头150的方法，这样与已知的驱动电流的变化相对应的波长移动是一个已知量。通常，为了在LED传感器的应用中更好地实现校准和增加灵活性，特别是当为了获得精确的测量结果而需要精确的波长时，利用了LED的波长随驱动电流的变化而移动的原理。本发明还提供了一种系统，在其中不需要知道精确的LED波长，而在以前的系统中需要精确的波长。最后，本发明提供了一种判定发光元件例如发光二极管的工作波长的方法和设备。
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公开(公告)号：CN1194076A
公开(公告)日：1998-09-23
申请号：CN96196549.5
申请日：1996-06-21
Applicant: 斯托姆技术公司
IPC: H04N1/46
CPC classification number: G01J3/50 , G01J3/02 , G01J3/027 , G01J3/501 , G01J3/524 , H04N1/40056 , H04N1/401 , H04N1/484
Abstract: 本发明提供一种首先通过改变发射器(1－1至1－n)的功率和发射器/探测器曝光时间的持续时间(SL－1至SL－n)提供粗调节,然后通过为每个光敏器件(5)存储(13)一校正值提供细调节的组合。每个光敏器件的调节不仅校正范围,而且校正偏移,提供两个校正值。在一优选实施例中,针对每种颜色为每个光敏器件调节和存储模/数转换器(8)的低(偏移)和高(偏移加范围)电压基准电平。
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公开(公告)号：CN104062006B
公开(公告)日：2018-05-01
申请号：CN201410086386.2
申请日：2014-03-10
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor： 金井政史
CPC classification number: G01J3/0218 , B41J2/125 , B41J11/009 , G01J3/027 , G01J3/10 , G01J3/26 , G01J3/506 , G01J3/51 , G09G5/02 , G09G2320/0626 , G09G2320/0666 , G09G2320/0693 , G09G2320/08 , G09G2360/145
Abstract: 本发明涉及光测定装置、印刷装置及图像显示装置。光测定装置能够在一处测定从不同场所导来的多种光。光测定装置具有：选择性地透过期望的波长的光的一个分光器、将测定对象光导向分光器的多个导光部、以及接收从分光器出射的光的光接收部。多个导光部设置于作为测定对象光向多个导光部的入射端分别入射不同光的位置，且多个导光部的出射端向分光器的不同位置分别出射光的位置。分光器将从多个导光部入射的光分别从不同位置出射，光接收部分开接收从分光器的不同位置出射的光。
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公开(公告)号：CN107884068A
公开(公告)日：2018-04-06
申请号：CN201710826607.9
申请日：2017-09-14
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G01J3/027 , A61B5/0075 , A61B5/0082 , A61B5/443 , A61B5/6898 , A61B5/7445 , A61B2576/00 , G01B11/14 , G01J3/0272 , G01J3/10 , G01J3/2803 , G01N21/31 , G01N2201/0221 , H04M1/72519 , H04M1/72522 , H04M2250/12 , G01J3/0256 , G01J3/0291 , G01J3/42 , G01J3/4412 , G01J2003/425
Abstract: 公开了一种电子设备，包括：壳体；壳体内的显示器，通过壳体的表面露出；壳体内的发光单元和光接收单元；以及与显示器、发光单元和光接收单元电耦合的处理器。发光单元包括用于输出至少一个波长带的光的至少一个光源。光接收单元包括用于接收该至少一个波长带的光的至少一个区域。处理器被配置为基于至少一种模式来控制发光单元和/或光接收单元的功能。还公开了其他实施例。
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公开(公告)号：CN107806898A
公开(公告)日：2018-03-16
申请号：CN201710807755.6
申请日：2017-09-08
Applicant: 大塚电子株式会社
CPC classification number: G01J3/027 , G01J3/0218 , G01J3/0221 , G01J3/0264 , G01J3/28 , G01J3/2803 , G01J2003/2876 , G01N21/274 , G01N21/359 , G01D21/02 , G01D3/036
Abstract: 本发明提供一种使用至少在近红外区域具有检测灵敏度的检测器的光学测定方法。光学测定方法包含：获取在任意的曝光时间通过检测器来对任意的样本光进行测定后的输出值的步骤；以及如果获取到输出值时的曝光时间处于第二范围内则以与输出值对应的校正量来校正输出值的步骤。校正量包含如下的系数与曝光时间的平方之积，该系数为：表示在第二范围内的曝光时间通过检测器进行测定后得到的输出值相对于在第一范围内的曝光时间通过检测器进行测定后得到的输出线性偏差了多大程度的系数。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104321637B
公开(公告)日：2017-11-17
申请号：CN201280073284.6
申请日：2012-05-25
Applicant: 福斯分析股份公司
CPC classification number: G01N21/35 , G01J3/027 , G01J3/0291 , G01N21/0303 , G01N21/3577 , G01N21/8507 , G01N2021/036 , G01N2021/0375 , G01N2021/0396 , G01N2201/0668
Abstract: 一种光谱仪(102)包括一个可调节的采样空间(104)，该采样空间具有两个总体上相对的、可相对移动的侧壁(106，108)，这里这些侧壁实质上由光学半透明材料形成并且在这些侧壁之间在使用时填充一种用于分析的样品，以及一个致动器(116)被机械地联接(这里经由蜗杆传动件(118))到这些相对侧壁(108)的一者或两者并且响应一个施加到其上的命令信号可运行以进行它们的相对运动。该光谱仪(102)进一步包括一个光学位置传感器(110，112，114)，该光学位置传感器被适配为用于检测由多次遍历在这些侧壁(106，108)之间的距离的光能所产生的干涉条纹，并且用于依赖于它产生命令信号，并且优选地还被适配为用于产生一个输出，该输出将强度针对波长的指示进行标示，该波长可用于在该采样空间(104)内的样品材料的光谱分析。
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公开(公告)号：CN103727880B
公开(公告)日：2017-09-08
申请号：CN201310478380.5
申请日：2013-10-14
Applicant: 横河电机株式会社
CPC classification number: G01B11/14 , G01B11/026 , G01B11/0608 , G01B2210/50 , G01J3/0205 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0216 , G01J3/027 , G01J3/0291 , G01J3/10 , G01J3/18 , G01J3/2803 , G01J3/42 , G01J3/50
Abstract: 本发明公开了光谱特性测量设备、颜色测量设备、平面测量对象质量监控设备、位移测量方法、光谱特性测量方法和颜色测量方法。位移传感器包括：光源单元，其被构造为将具有不同的多个波长的光以倾斜的方向施加于平面测量对象的测量区域；分光镜，其被构造为测量被测量区域反射的光的光谱分布；特征量提取模块，其被构造为提取光谱分布的特征量；以及位移计算模块，其被构造为基于所提取的特征量以及预先获取的位移与特征量之间的关系来计算测量区域的位移。
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公开(公告)号：CN106575419A
公开(公告)日：2017-04-19
申请号：CN201580038188.1
申请日：2015-06-10
Applicant: 株式会社理光
IPC: G06Q50/02
CPC classification number: A01G9/247 , A01G7/00 , A01G9/24 , A01G22/00 , G01J3/0208 , G01J3/0264 , G01J3/027 , G01J3/0278 , G01J3/2803 , G01J3/2823 , G01J3/36 , G01J3/42 , G01J3/46 , G01J2003/1213 , G01N21/21 , G01N21/251 , G01N2021/8466 , G05B15/02 , G06K9/00657 , G06Q50/02 , H05B33/0854 , Y02A40/264
Abstract: 本发明为一种处理信息并生成用于控制设备的控制信号的信息处理设备(704)，所述信息处理设备特征在于具有：用于获取指示摄像对象的状态的第一摄像对象状态信息的获取装置(7045)，对于由图像摄像装置(400)拍摄的特定的摄像对象的所述第一摄像对象状态信息是从图像信息中生成的；以及用于基于所获取的第一摄像对象状态信息生成控制信号的生成装置。
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公开(公告)号：CN103674245B
公开(公告)日：2017-03-01
申请号：CN201310384997.0
申请日：2013-08-29
Applicant: 爱科来株式会社
Inventor： 北村茂
CPC classification number: G01N21/95 , G01J3/027 , G01J3/42 , G01N21/3581 , G01N21/636 , G02F2203/13
Abstract: 本发明提供了一种太赫兹光谱测定装置及方法和非线性光学晶体检查装置及方法。当从激励光光源施加的两种不同波长的光束入射在具有固有非线性系数的非线性光学晶体上时，非线性光学晶体生成THz波和其中两种不同波长的光束已经根据非线性系数进行了波长转换的SHG波，THz波是利用与晶体自身具有的非线性系数的差频率生成而获得的。生成的THz波通过样本或从其反射并且由THz检测器检测。SHG波由SHG检测器检测。控制单元从THz检测器获取THz测量值，从SHG检测器获取SHG测量值S，并且使用在没有样本的情况下获取的基线THz测量值TB和基线SHG测量值SB来利用(T/S)/(TB/SB)执行基线校正。
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公开(公告)号：CN106066206A
公开(公告)日：2016-11-02
申请号：CN201610171306.2
申请日：2016-03-24
Applicant: 真实仪器公司
CPC classification number: H05B41/30 , G01J3/0205 , G01J3/027 , G01J3/10 , G01J3/26 , G01J2003/1278 , G01N21/84 , G01N2201/061 , G01N2201/0696 , G01J3/28 , G01B11/06
Abstract: 本发明涉及用于过程监测的高动态范围测量系统。提供了一种闪光灯控制系统，其具有静态电连接到高电压电源的电容器，接着电流感测部件电连接到静态电容器和数字控制电子器件以监测静态电容器的充电电流和/或放电电流。动态可开关的电容器也可以电连接到高电压电源和数字控制电子器件，用于基于所监测的充电电流和/或放电电流将动态可开关的电容器与高电压电源相隔离。一个或多个均质化元件，包括空气间隙、漫射均质化元件、成像元件、非成像元件或光管均质化元件，可以被布置在接近于闪光灯的光路中，例如多通道分配器如果存在的话，以在时间上或光谱上或者在这二者上降低光学信号的变化系数。
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