-
公开(公告)号：CN109211741A
公开(公告)日：2019-01-15
申请号：CN201810708073.4
申请日：2018-07-02
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G01N15/02
CPC classification number: G01N15/1434 , G01B11/08 , G01N15/0211 , G01N21/51 , G01N21/53 , G01N2015/03 , G01N2015/1493 , G01N2021/015 , G01N2201/024 , G01N2201/0245 , G01N15/0205
Abstract: 本发明的光学测定装置包含：主体基座、可移动地结合于所述主体基座的光学基座、固定于所述光学基座的测定光学系统、以及使所述光学基座相对于所述主体基座进行相对移动的光学基座移动机构。所述光学基座移动机构使所述光学基座相对于所述主体基座在内部测定位置与外部测定位置之间进行相对移动。内部测定位置是指所述测定光学系统的测定对象位置位于设定在所述主体基座内的内部测定对象位置的位置。外部测定位置是指所述测定光学系统的测定对象位置位于设定在所述主体基座外的外部测定对象位置的位置。
-
-
公开(公告)号：CN102954765B
公开(公告)日：2016-12-21
申请号：CN201210285463.8
申请日：2012-08-10
Applicant: 大塚电子株式会社
CPC classification number: G01B11/06 , G01B11/0625 , G01B11/0641 , G01N21/211 , G01N2021/213
Abstract: 本发明提供一种光学特性测量装置以及光学特性测量方法。光学特性测量装置(100)具备光源(10)、检测器(40)以及数据处理部(50)。数据处理部(50)具备建模部、分析部以及拟合部。将多个膜模型方程式联立，假设包含在多个膜模型方程式中的光学常数相同来进行规定的运算，通过进行将算出的膜的膜厚以及光学常数代入膜模型方程式而获得的波形与由检测器(40)获取的波长分布特性的波形的拟合来判定包含在多个膜模型方程式中的光学常数是否相同，由分析部算出的膜的膜厚以及光学常数是否为正确的值。
-
公开(公告)号：CN103477196B
公开(公告)日：2016-06-22
申请号：CN201180069806.0
申请日：2011-10-13
CPC classification number: G01J1/0407 , F21V7/10 , G01J1/0295 , G01J1/42 , G01J2001/0481 , G01J2001/4247
Abstract: 光学测量系统（100）包括积分球（110），积分球（110）具有第一窗（132）并且在其内壁上具有反射表面（110a）。光学测量系统进一步包括用于将光源支撑在积分球的大致中央位置处的支撑构件（120），和配置在连接第一窗与由支撑构件支撑的光源的直线上的第一挡板（136）。支撑构件在相对于光源与第一窗相反的区域内被连接至积分球的内壁。
-
公开(公告)号：CN103994874A
公开(公告)日：2014-08-20
申请号：CN201410052143.7
申请日：2014-02-14
Applicant: 大塚电子株式会社
Inventor： 大久保和明
IPC: G01M11/02
CPC classification number: G01J1/08 , G01J1/42 , G01J2001/061 , G01J2001/4252
Abstract: 提供一种标准光源以及测量方法，是适合于具有与以往的标准光源不同的配光特性的光源的总光通量测量的、具有更简单结构的新的标准光源以及使用了该标准光源的测量方法。标准光源(10)包含发光部(14)、与发光部电连接的供电部(18)以及限制部(16)，该限制部(16)设置于发光部与供电部之间，限制从发光部放射的光向供电部一侧传播。限制部的被来自发光部的光入射的表面构成为进行漫反射。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103477196A
公开(公告)日：2013-12-25
申请号：CN201180069806.0
申请日：2011-10-13
CPC classification number: G01J1/0407 , F21V7/10 , G01J1/0295 , G01J1/42 , G01J2001/0481 , G01J2001/4247
Abstract: 光学测量系统（100）包括积分球（110），积分球（110）具有第一窗（132）并且在其内壁上具有反射表面（110a）。光学测量系统进一步包括用于将光源支撑在积分球的大致中央位置处的支撑构件（120），和配置在连接第一窗与由支撑构件支撑的光源的直线上的第一挡板（136）。支撑构件在相对于光源与第一窗相反的区域内被连接至积分球的内壁。
-
公开(公告)号：CN102192832A
公开(公告)日：2011-09-21
申请号：CN201110043621.4
申请日：2011-02-23
Applicant: 大塚电子株式会社
CPC classification number: G01J3/0254 , G01J1/58 , G01J2001/0481 , G01J2001/4247
Abstract: 本发明提供一种光学测量装置(100、200、300)，其包括：内壁上具有漫反射层(1a)的半球部(1)；通过半球部的实际的曲率中心，且配置为封闭半球部的开口部的、在半球部的内表面侧具有反射层的平面部(10)。平面部包括：用于将要在形成于半球部与平面部之间的积分空间内均匀化的光导入该积分空间内的窗(2、4、17)和用于抽出在积分空间内被均匀化了的光的窗(6、18)中的至少一种窗；自平面部与半球部的内壁相接触的最外周起至少占有规定宽度的区域的、由主要产生正反射的第1材质构成的外周部(12)；由与第1材质相比至少在紫外波长区域具有更高的反射率且主要产生漫反射的第2材质构成的、占有外周部的内侧的区域的内周部(14)。
-
公开(公告)号：CN101726884A
公开(公告)日：2010-06-09
申请号：CN200910209083.4
申请日：2009-10-30
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G02F1/13
Abstract: 提供一种液晶盒的倾角测定方法和装置，可以无需显微光学系统，且只需一次测定液晶盒的透射光强度。从光源(21)的光取出线偏振分量的光；把该偏振分量的光照在液晶盒(23)上以使得该光的光轴(B)与液晶盒(23)的法线成倾斜的角度(θ)；基于透过液晶盒(23)后出射的光的与偏振分量成直角方向的偏振分量中的光强度，求出光强度透射率(Tc)；用该光强度透射率(Tc)、液晶的正常光折射率(no)和异常光折射率(ne)、角度(θ)以及液晶的厚度(d)，求出液晶的倾角(β)。
-
公开(公告)号：CN100494924C
公开(公告)日：2009-06-03
申请号：CN01811473.3
申请日：2001-06-19
Applicant: 大塚电子株式会社
CPC classification number: G01J3/2803 , G01J3/28
Abstract: 在本发明的光谱测量仪中，检测器(13)的检测表面(13a)是一个二维检测表面并且从衍射光栅出来的谱光照射在检测表面(13a)上的A区。在检测表面(13a)除了谱光照射的A区以外其它区的信号强度从A区的信号强度中被减去。因此有可能以这样的方式来处理检测信号以获取准确的光谱强度信号，即消除在光谱测量仪内产生的漫射光和由在检测单元表面发生的反射及衍射所产生的无用光的不利影响。
-
公开(公告)号：CN1799079A
公开(公告)日：2006-07-05
申请号：CN200480015320.9
申请日：2004-06-02
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G09G3/00
Abstract: 随着图像传感器的视场追踪测试模型的运动而在用于测量的屏幕5上移动测试模型以便观察BEW。然后，以与上述观察中相同的速度Vc移动图像传感器的视场33以捕捉静态模型PE，并观察捕捉到的图像的分布图中出现的滚动方向上的模糊宽度W。基于所述模糊宽度W和用于捕捉静态模型PE的图像的图像传感器的曝光时间，估算BEW观察过程中测试模型的运动速度，利用所述运动速度将BEW标准化。利用标准化后的N BEW来对屏幕的运动图像质量进行评价。由此可以容易地且准确地估算出原始测试模型的运动速度，因此可以准确地评价屏幕的运动图像质量。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
143
records
(took 0.048 seconds)
