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公开(公告)号：CN1090302C
公开(公告)日：2002-09-04
申请号：CN97122106.5
申请日：1997-11-11
Applicant: 株式会社鼎新
Inventor： 古田胜信
CPC classification number: G01R1/06705 , B23Q1/58 , B23Q11/0883 , F16H25/2204 , F16H25/2418 , F16K1/22 , F16K1/226 , F16K1/24 , F16K31/44 , F16K31/60
Abstract: 一种线性驱动装置的盖结构，其包括动作方向转换器、主体箱、外传送滑块、丝杠主盖和一对辅盖，其中，动作方向转换器接受丝杠的转动，并把该转动转换成线性移动，主体箱容纳着动作方向转换器和丝杠，外传送滑块与动作方向转换器相连，以把线性移动传递至外部元件，丝杠主盖安装在主体箱上，在动作方向转换器和外传送滑块之间穿过，并沿主体箱的长度方向延伸，每个辅盖都连接在主体箱的外表面上。
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公开(公告)号：CN1339114A
公开(公告)日：2002-03-06
申请号：CN00803374.9
申请日：2000-02-07
CPC classification number: G01R35/005 , G01R27/28
Abstract: 一种多端口装置分析设备能够以改进的效率和准确度分析具有三个或更多终端的多端口装置。该多端口装置分析设备包括:一个信号源(112),用于将一个测试信号提供给所测试的多端口装置(DUT)的一个端子;多个测试端口(P1-Pn),用于将多端口DUT的所有端子连接到相应的测试端口;多个测量单元(MUl-MUn),用于测量来自相应测试端口的信号;一个参考信号测量单元(R),用于测量测试信号,以获得参考数据;多个终端电阻(TRl-TRn),每个被分配给一个测试端口;和开关装置(SWl-SWn),用于选择性地将测试信号提供给测试端口(输入端口)之一,将终端电阻从输入测试端口断开,同时将终端电阻连接到所有其它的测试端口;其中获得多端口DUT的参数,而不改变测试端口和DUT端子之间的连接,同时改变测试端口的选择直到所有的测试端口被指定为输入端口。
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公开(公告)号：CN1321891A
公开(公告)日：2001-11-14
申请号：CN01109570.9
申请日：2001-04-13
Applicant: 株式会社鼎新
Inventor： 安东尼·勒 , 罗基特·拉尤斯曼 , 詹姆斯·艾伦·特恩奎斯特 , 菅森茂
CPC classification number: G01R31/31937 , G01R31/31922
Abstract: 半导体测试系统,检测并评估被测器件,包括:事件存储器,存贮事件的定时数据;事件发生器,产生测试模式、选通信号和期望模式;引线电子设备,设置在发生器和DUT之间,从事件发生器发送测试模式到DUT,并接收DUT的输出信号,及对输出信号取样;模式比较器,比较引线电子设备的取样输出数据与期望模式,失配时产生故障信号;故障检测单元,接收DUT的输出信号,统计输出信号中的边缘数并与边缘的期望值比较测定在输出信号中的故障。
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公开(公告)号：CN1320824A
公开(公告)日：2001-11-07
申请号：CN01110514.3
申请日：2001-04-05
Applicant: 株式会社鼎新
Inventor： 菅森茂
CPC classification number: G01R31/31921 , G01R31/3004 , G01R31/3191
Abstract: 一种用于半导体测试系统中的电源电流测量单元,包括:D/A转换器,基于接受的数字信号,产生供给被测器件的电源电压;运算放大器,用于形成负反馈回路并把电源电压供给被测器件,由此通过电阻器,把电源电流提供给电源引线;电压放大器,用于放大代表电源电流量的电压;积分电路,用于在预定积分时间内对电压放大器的输出信号进行积分;A/D转换器,用于在积分时间之后,转换积分电路的输出信号。该单元能对被测器件的电源电流进行高速、准确地测试。
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公开(公告)号：CN1195776A
公开(公告)日：1998-10-14
申请号：CN98100425.3
申请日：1998-02-17
Applicant: 株式会社鼎新
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G06F11/261 , G01R31/31917
Abstract: 半导体测试系统中的仿真器,测试系统与参照周期同步地作用一测试信号在测试的半导体器件上及比较结果输出与期望数据来确定半导体器件工作是否正确。仿真器包括仿真测试系统各硬件单元的功能的仿真器单元、仿真待测试半导体器件的功能的器件仿真器、从仿真器单元取得执行测试程序必需的数据的数据采集部件、及根据取得的数据生成作用在器件仿真器上的测试信号及将结果信号与期望数据比较并将比较结果存储在其中的器件测试仿真器。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1303668C
公开(公告)日：2007-03-07
申请号：CN01136071.2
申请日：2001-09-29
Applicant: 株式会社鼎新
CPC classification number: G01R31/318314 , G06F11/261 , G06F17/5022
Abstract: 本发明提供了一种利用电子设计自动化(EDA)工具和设计测试站的组合体、高速和低成本地验证复合集成电路的设计的方法。EDA工具和器件模拟器与基于事件的测试系统连接，以便执行原始设计模拟向量和测试台并对测试台和基于事件的测试向量进行修改，一直到得到满意的结果为止。由于EDA工具与基于事件的测试系统连接，因此这些修改被捕获，从而产生提供满意结果的最终测试台。
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公开(公告)号：CN1246892C
公开(公告)日：2006-03-22
申请号：CN01104371.7
申请日：2001-02-28
Applicant: 株式会社鼎新
Inventor： 罗池特·雷兹曼
Abstract: 测试具有微处理器磁心和存储器磁心的集成电路芯片中的嵌入式模拟磁心的一种方法。其包括下列步骤：在微处理器磁心和将被测试的模拟磁心之间的集成电路芯片上提供一个测试寄存器，测试该微处理器磁心和该存储器磁心，使用一在该微处理器磁心上运行的汇编语言测试程序，以由该微处理器磁心产生一测试模式，通过该微处理器磁心来将该测试模式应用于该模拟磁心，并且由该微处理器磁心或一个外部提供的测试系统来求得模拟磁心的响应值。
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公开(公告)号：CN1244820C
公开(公告)日：2006-03-08
申请号：CN01110010.9
申请日：2001-03-22
Applicant: 株式会社鼎新
Inventor： 詹姆斯·艾伦·特恩奎斯特 , 菅森茂 , 罗基特·赖什曼 , 矢元裕明
Abstract: 一种基于事件的测试系统，包括：事件存储器，用来存储由定时数据和事件类型数据构成的事件数据，其中定时数据是由作为整数部分数据的基准时钟周期的整数倍数和作为分数部分数据的该基准时钟周期的分数倍数形成，事件类型数据代表每个事件的类型，定时数据是当前事件和预先设定的基准点之间的时间差；地址序列器，用来产生访问事件存储器以从中读出定时数据的地址数据；定时计数逻辑电路，用来产生被延迟的事件启动信号，延迟的时间为该整数部分数据与该基准时钟周期相乘而得的时间；事件产生单元，其根据事件启动信号、事件类型数据和分数部分数据来产生每个事件；和主机，用于控制所述基于事件的测试系统的整个操作。
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公开(公告)号：CN1243341C
公开(公告)日：2006-02-22
申请号：CN01110014.1
申请日：2001-03-22
Applicant: 株式会社鼎新
Inventor： 布鲁斯R·帕纳斯
Abstract: 一种把基于原始循环的测试语言的测试矢量转换为基于目标循环的测试语言的方法。该方法包括步骤：形成一组描述目标测试语言定义的波形的模板；把原始测试语言的波形分解为一组组成事件，其中每个事件包括至少表示波形的开始值和随后的边缘的数目的数据；比较模板和该组事件；当检测到匹配时存储目标测试语言的波形数据并且取回原始测试语言的波形的相应参数；对于原始测试语言的所有测试波形重复上述步骤，从而形成目标测试语言的测试矢量文件。
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公开(公告)号：CN1243250C
公开(公告)日：2006-02-22
申请号：CN01110512.7
申请日：2001-04-05
Applicant: 株式会社鼎新
Inventor： 安东尼·勒 , 罗基特·拉尤斯曼 , 詹姆斯·阿兰·特恩奎斯特 , 菅森茂
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/31935 , G11C29/56
Abstract: 一种半导体测试系统，包括：模式存储器；评估DUT输出信号的装置；数据失效存储器；和压缩装置，用于在第一次测试操作中将模式存储器的多个地址分配给数据失效存储器的一个地址，以便将每组多个地址发生的失效数据以预定的压缩比存储在数据失效存储器的相应地址中，并用于仅对检测到失效数据的一组模式存储器的多个地址执行第二次测试操作，第二次测试操作时没有地址压缩。因此，使失效数据能够存储在小存储容量的数据失效存储器中。
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