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公开(公告)号:KR1019970076068A
公开(公告)日:1997-12-10
申请号:KR1019960015578
申请日:1996-05-11
Applicant: 삼성전자주식회사
Abstract: 하프톤 위상반전층을 구성하는 물질이 스핀온그래스(SOG)인 하프톤 위상반전 마스크에 관하여 개시한다.
본 발명은 마스크 기판과, 상기 마스크 기판 상에 광이 투과하는 개구부를 갖고, 그 주위로 염료가 첨가된 스핀온그래서(SOG)로 구성된 하프톤 위상반전층을 구비하는 것을 특징으로 하는 하프톤 위상반전마스크를 제공한다. 상기 하프톤 위상반전층은 그 투과율이 0∼99%이다. 본 발명의 하프톤 위상반전 마스크는 하프톤 위상반전층을 염료가 첨가된 SOG막으로 구성하여 제조공정이 간단하고, 그 균일도도 향상시킬 수 있다.-
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公开(公告)号:KR100118399B1
公开(公告)日:1997-07-18
申请号:KR1019930018016
申请日:1993-09-08
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: H01L21/312
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公开(公告)号:KR1019970017945A
公开(公告)日:1997-04-30
申请号:KR1019950031099
申请日:1995-09-21
Applicant: 삼성전자주식회사
Inventor: 박춘근
IPC: H01L21/027
Abstract: 분위기 가스를 활용하여 하지막 레지스트의 투과도를 제어할 수 있는 다층 레지스트 형성방법이 개시되어 있다.
본 발명은 하층 레지스트 및 상층 레지스트로 구성된 2층 레지스트계, 또는 하층 레지스트, 층간 산화막, 및 상층 레지스트로 이루어진 3층 레지스트계와 같은 다층 레지스트(Multi-layer Resist)시스템에 있어서, 상기 하층 레지스트의 투과도를 조절할 수 있도록 하층 레지스트를 N
2 가스 분위기에서 베이크 처리함을 특징으로 한다. 또한, 상기 하층 레지스트의 투과도 조절을 위한 베이크 처리를 약 240∼340℃의 온도 범위와, 공기(air) 분위기에서 실시하여, 포토 공정의 해상도를 향상시킬 수 있다.-
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公开(公告)号:KR200096748Y1
公开(公告)日:1996-05-17
申请号:KR2019920025117
申请日:1992-12-11
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: H01L21/223
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