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公开(公告)号：DE102016109945A1
公开(公告)日：2017-05-11
申请号：DE102016109945
申请日：2016-05-30
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： DEISSLER BENJAMIN , SCHUMANN CHRISTIAN
Abstract: Die Erfindung betrifft ein Fluoreszenzmikroskop (100) mit einer Fluoreszenzauflicht-Beleuchtungseinheit (101) zur Erzeugung eines Fluoreszenzauflicht-Beleuchtungsstrahlengangs (201), einem Multiband-Fluoreszenzfiltersystem (105) umfassend einen Multiband-Strahlenteiler (109) zur Umlenkung des Fluoreszenzauflicht-Beleuchtungsstrahlengangs (201) in ein Objektiv (104) des Fluoreszenzmikroskops (100) und auf ein zu untersuchendes Objekt (103), wobei das Multiband-Fluoreszenzfiltersystem (105) ein Multiband-Sperrfilter (110) aufweist, das einen von dem Objekt (103) ausgehenden Fluoreszenzemissionsstrahlengang (202) zumindest zum Teil transmittiert, und einer digitalen Kamera (107) zur Erzeugung einer Fluoreszenzabbildung des Objekts (103) aus dem aufgenommenen Fluoreszenzemissionsstrahlengang (202), wobei das Fluoreszenzmikroskop (100) eine Hellfelddurchlicht-Beleuchtungseinheit (102) zur Erzeugung eines Hellfelddurchlicht-Beleuchtungsstrahlengangs (204) zur Durchlichtbeleuchtung des Objekts (103) aufweist, wobei das Multiband-Fluoreszenzfiltersystem (105) fest angeordnet ist, so dass es bei Aufnahme einer Hellfeldabbildung des Objekts (103) in einem vom Objekt (103) ausgehenden Hellfelddurchlicht-Strahlengang (203) verbleibt, und wobei die digitale Kamera (107) zur Erzeugung einer Hellfeldabbildung aus dem aufgenommenen, durch das Multiband-Sperrfilter (110) des Multiband-Fluoreszenzfiltersystems (105) transmittierten Hellfelddurchlicht-Strahlengang (203) über eine Weißabgleichsfunktion verfügt, die vor der Erzeugung der Hellfeldabbildung ausgeführt wird. Dieses Fluoreszenzmikroskop (100) ermöglicht eine einfache Umschaltung zwischen Fluoreszenzabbildung und Hellfeldlichtabbildung eines Objekts.
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公开(公告)号：DE102016102482B3
公开(公告)日：2017-05-04
申请号：DE102016102482
申请日：2016-02-12
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： BAUER TOBIAS , GONSCHIOR CORNELL PETER , SCHUMANN CHRISTIAN , WEISS ALBRECHT
IPC: G02B21/02
Abstract: Eine Vorrichtung (10) zum Schützen eines Objektivs (100) vor einer Verunreinigung durch eine Immersionsflüssigkeit umfasst ein Dichtungselement (12), das um das Objektiv (100) herum positionierbar ist, und ein auf dem Dichtungselement (12) angeordneten Absorptionselement (14) zum Absorbieren der Immersionsflüssigkeit. Das Absorptionselement (14) umgibt das Dichtungselement (12) zumindest in einem Abschnitt (L), der sich in eine Längsrichtung parallel zur Längsachse (101) des Objektivs (100) erstreckt. Ferner wird das Absorptionselement (14) durch das Dichtungselement (12) von einer Oberfläche des Objektivs (100) ferngehalten.
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公开(公告)号：DE102013222562A1
公开(公告)日：2015-05-07
申请号：DE102013222562
申请日：2013-11-06
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： EUTENEUER PETER , SCHUMANN CHRISTIAN
Abstract: Die vorliegende Erfindung betrifft ein Mikroskop (30) mit einem Objektiv (1) und einer Beleuchtungseinheit (31) zur wahlweisen Erzeugung eines durch das Objektiv (1) verlaufenden orthoskopischen Strahlengangs (14) zur punktförmigen Rasterbeleuchtung und eines durch das Objektiv (1) verlaufenden konoskopischen Strahlengang (13) zur evaneszenten Beleuchtung eines Objekts, wobei die Beleuchtungseinheit aufweist: eine Lichtquelle (10) zur Erzeugung von Beleuchtungsstrahlen entlang eines Beleuchtungsstrahlengangs (32), eine Verstelleinheit (7) zur Ablenkung des Beleuchtungsstrahlengangs (32), ein der Verstelleinheit (7) nachgeordnetes Scanokular (8) zur Fokussierung der Beleuchtungsstrahlen in eine Bildebene (11) des Scanokulars (8), und eine in der Bildebene (11) des Scanokulars (8) angeordnete Spiegelfläche (6) mit einem lichtdurchlässigen Bereich (27) zur Erzeugung des orthoskopischen Strahlengangs (14) und mit einem dem Scanokular (8) zugewandten zumindest teilweise verspiegelten Bereich (28) zur Erzeugung des konoskopischen Strahlengangs (13) aus dem Beleuchtungsstrahlengang (32), wobei die Bildebene (11) des Scanokulars (8) bezogen auf den konoskopischen Strahlengang (13) in einer zur Austrittspupille (2) des Objektivs (1) konjugierten Ebene liegt.
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公开(公告)号：DE102016115140B4
公开(公告)日：2022-07-28
申请号：DE102016115140
申请日：2016-08-16
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： SCHUMANN CHRISTIAN
Abstract: Wechselsystem für ein Mikroskop (10), umfassend mehrere afokale Vergrößerungswechselmodule (200a-200d, 300a-300d, 400a-400d) unterschiedlicher Vergrößerung, die wahlweise in einen längs der optischen Achse (O) des Mikroskops (10) verlaufenden Unendlichstrahlengang (16) einbringbar sind, dadurch gekennzeichnet, dass die Vergrößerungswechselmodule (200a-200d, 300a-300d, 400a-400d) jeweils ein Lichtumlenksystem (202, 302, 402) enthalten, wobei die Lichtumlenksysteme (202, 302, 402) die Weglänge des das jeweilige Vergrößerungswechselmodul (200a-200d, 300a-300d, 400a-400d) durchsetzenden Unendlichstrahlengangs (16) derart einstellen, dass sämtliche Vergrößerungswechselmodule (200a-200d, 300a-300d, 400a-400d) ungeachtet ihrer unterschiedlichen Vergrößerung eine Austrittspupille eines Objektivs (12) des Mikroskops (10) längs der optischen Achse (O) auf den gleichen Ort abbilden.
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公开(公告)号：DE102018126009B4
公开(公告)日：2022-05-19
申请号：DE102018126009
申请日：2018-10-19
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： WEISS ALEXANDER , SCHUMANN CHRISTIAN , CAPELLMANN RONJA
Abstract: Verfahren zur Bestimmung der Dicke eines Deck- oder Tragglases (24) in einem Mikroskop (10, 78), das ein einem Probenraum (14) zugewandtes Objektiv (12) aufweist,wobei in dem Probenraum (14) zwei optische Medien (26, 28) an zwei entgegengesetzte Oberflächen (64, 68) des Deck- oder Tragglases (24) grenzen und dadurch zwei teilreflektierende Grenzflächen bilden, die in unterschiedlichen Abständen von dem Objektiv (12) angeordnet sind,wobeider Querschnitt eines Messlichtbündels (34) mithilfe einer Aperturblende (38) begrenzt wird, die eine dezentriert mit Abstand zur optischen Achse (O3) des Objektivs (12) angeordnete Blendenöffnung (39) hat, so dass das Messlichtbündel (34) in einen Teilbereich einer Eintrittspupille (52) des Objektivs (12) geleitet wird, der gegenüber der Mitte der Eintrittspupille (52) versetzt ist, und durch das Objektiv (12) unter schrägem Einfall auf das Deck- oder Tragglas (24) gelenkt wird,zwei räumlich voneinander getrennte Reflexionslichtbündel (54a, 54b) erzeugt werden, indem das Messlichtbündel (34) jeweils zum Teil an den beiden Grenzflächen reflektiert wird,die beiden Reflexionslichtbündel (54a, 54b) durch das Objektiv (12) empfangen und auf einen positionssensitiven Detektor (60) geleitet werden,die Einfallsorte der beiden Reflexionslichtbündel (54a, 54b) auf dem positionssensitiven Detektor (60) erfasst werden, undauf Grundlage der erfassten Einfallsorte der beiden Reflexionslichtbündel (54a, 54b) die Dicke des Deck- oder Tragglases (24) ermittelt wird.
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：DE102018126002B4
公开(公告)日：2020-10-08
申请号：DE102018126002
申请日：2018-10-19
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： WEISS ALEXANDER , SCHUMANN CHRISTIAN , CAPELLMANN RONJA
Abstract: Verfahren zur Bestimmung des Brechungsindex eines optischen Mediums in einem Mikroskop (10, 78), das ein einem Probenraum (14) zugewandtes Objektiv (12) aufweist,wobei das optische Medium mit dem zu bestimmenden Brechungsindex eines von zwei optischen Medien (26, 28) ist, die in dem Probenraum (14) an zwei entgegengesetzte Oberflächen (64, 68) eines Deck- oder Tragglases (24) grenzen und dadurch zwei teilreflektierende Grenzflächen bilden, die in unterschiedlichen Abständen von dem Objektiv (12) angeordnet sind,dadurch gekennzeichnet, dassein Messlichtbündel (34) durch das Objektiv (12) unter schrägem Einfall auf das Deck- oder Tragglas (24) gelenkt wird,zwei räumlich voneinander getrennte Reflexionslichtbündel (54a, 54b) erzeugt werden, indem das Messlichtbündel (34) jeweils zum Teil an den beiden Grenzflächen reflektiert wird,die beiden Reflexionslichtbündel (54a, 54b) durch das Objektiv (12) empfangen und auf einen positionssensitiven Detektor (60) gelenkt werden,die Intensitäten der beiden Reflexionslichtbündel (54a, 54b) mittels des positionssensitiven Detektors (60) erfasst werden, undauf Grundlage der erfassten Intensitäten der beiden Reflexionslichtbündel (54a, 54b) der Brechungsindex des optischen Mediums ermittelt wird.
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公开(公告)号：DE102018128083A1
公开(公告)日：2020-05-14
申请号：DE102018128083
申请日：2018-11-09
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： SCHUMANN CHRISTIAN
Abstract: Gezeigt ist ein mikroskopisches Durchlichtkontrastierverfahren, bei dem eine Probe (16) zumindest teilweise durch eine asymmetrische erste Beleuchtungspupille (38) beleuchtet wird, die Probe (16) zumindest teilweise durch eine asymmetrische erste Detektionspupille (40) abgebildet wird, um ein erstes Teilbild (54a) zu erzeugen, wobei die erste Beleuchtungspupille (38) und die erste Detektionspupille (40) in Projektion auf eine senkrecht zu einer optischen Achse liegende Ebene derart gegeneinander verdreht und einander teilweise überlappend zueinander angeordnet sind, dass zumindest ein erster Bereich des Winkelraums in einem Hellfeld und ein von dem ersten Bereich verschiedener zweiter Bereich des Winkelraums in einem Dunkelfeld liegt und das erste Teilbild (54a) einen ersten Hellfeldanteil und einen ersten Dunkelfeldanteil aufweist, die Probe (16) zumindest teilweise durch eine asymmetrische zweite Beleuchtungspupille beleuchtet wird, die Probe (16) zumindest teilweise durch eine asymmetrische zweite Detektionspupille abgebildet wird, um ein zweites Teilbild (54b) zu erzeugen, wobei die zweite Beleuchtungspupille und die zweite Detektionspupille in Projektion auf die senkrecht zu der optischen Achse liegende Ebene derart gegeneinander verdreht und einander teilweise überlappend zueinander angeordnet sind, dass zumindest ein dritter Bereich des Winkelraums in einem Hellfeld und ein von dem dritten Bereich verschiedener vierter Bereich des Winkelraums in einem Dunkelfeld liegt und das zweite Teilbild einen zweiten Hellfeldanteil und einen zweiten Dunkelfeldanteil aufweist, und aus dem ersten Teilbild (54a) und dem zweiten Teilbild (54b) ein Bild der Probe erzeugt wird.
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48.发明专利
公开(公告)号：DE102018126007A1
公开(公告)日：2020-04-23
申请号：DE102018126007
申请日：2018-10-19
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： SCHUMANN CHRISTIAN , CAPELLMANN RONJA , WEISS ALEXANDER
Abstract: Ein Verfahren zur Korrektion eines sphärischen Abbildungsfehlers eines Mikroskops (10) mit einem Objektiv (12) und einem Deck- oder Tragglas (16), bei dem ein in dem Objektiv (12) angeordnetes Korrektionsmittel zum Korrigieren des sphärischen Abbildungsfehlers vorgesehen ist, wobei durch das Mikroskop (10) der Brechungsindex eines an das Deck- oder Tragglas (16) grenzenden optischen Mediums (22) und/oder die Dicke des Deck- oder Tragglases (16) entlang der optischen Achse des Objektivs (12) ermittelt wird, auf Grundlage des Brechungsindex des optischen Mediums (22) und/oder der Dicke des Deck- oder Tragglases (16) der sphärische Abbildungsfehler ermittelt wird, und auf Grundlage des sphärischen Abbildungsfehlers eine Stellgröße ermittelt wird, anhand derer das Korrektionsmittel (14) so eingestellt wird, dass der sphärische Abbildungsfehler korrigiert ist.
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公开(公告)号：DE102018125995A1
公开(公告)日：2020-04-23
申请号：DE102018125995
申请日：2018-10-19
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： SCHUMANN CHRISTIAN
Abstract: Beschrieben ist ein Verfahren zur Bestimmung einer Verkippung eines Deckglases (24) in einem Mikroskop (10, 78), das ein dem Deckglas (24) zugewandtes Objektiv (12) aufweist. Auf einer Oberfläche (64, 68) des Deckglases (24) werden mindestens drei Messpunkte, die eine Ebene aufspannen, definiert und für jeden der drei Messpunkte werden folgende Schritte durchgeführt: Lenken eines Messlichtbündels (34) durch das Objektiv (12) auf den Messpunkt; Erzeugen eines Reflexionslichtbündels (54), indem das Messlichtbündel (54) zumindest zum Teil an dem jeweiligen Messpunkt reflektiert wird; Lenken des Reflexionslichtbündels (54) durch das Objektiv (12) auf einen positionssensitiven Sensor (60); Erfassen des Einfallsortes des Reflexionslichtbündels (54) auf dem positionssensitiven Sensor (60); und Ermitteln des Abstands des jeweiligen Messpunktes von dem Objektiv (12) längs dessen optischer Achse (O3) auf Grundlage des erfassten Einfallsortes. Auf Grundlage der ermittelten Abstände wird eine Verkippung der durch die drei Messpunkte aufgespannten Ebene relativ zur optischen Achse (O3) des Objektivs (12) als Verkippung des Deckglases (24) bestimmt.
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公开(公告)号：DE102016123974A1
公开(公告)日：2018-06-14
申请号：DE102016123974
申请日：2016-12-09
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： SCHUMANN CHRISTIAN , GONSCHIOR CORNELL PETER , HITZLER SEBASTIAN , SCHLICKER OLIVER
Abstract: Die vorliegende Erfindung betrifft eine Beleuchtungseinrichtung (100, 200, 300, 600) für ein konfokales Mikroskop aufweisend eine Lichtquelle (101, 201, 301, 601) zur Erzeugung von Beleuchtungslicht, eine nachgeschaltete Kollimatoroptik (102, 202, 302, 602) zur Erzeugung eines kollimierten Beleuchtungsstrahlengangs sowie eine nachgeschaltete Kondensoroptik (106, 206, 209, 211, 307, 606) zur Erzeugung eines Leuchtfeldes (107, 212, 308, 607) in einer Leuchtfeldebene, eine in der Leuchtfeldebene befindliche drehbare Maskenscheibe mit einer geo-metrischen Anordnung von Lochblenden oder Mikrofokussieroptiken, die in dem Leuchtfeld (107, 212, 308, 607) zumindest zum Teil beleuchtet werden, wobei in dem kollimierten Beleuchtungsstrahlengang zwischen Kollimatoroptik (102, 202, 302, 602) und Kondensoroptik (106, 206, 209, 211, 307, 606) ein diffraktives optisches Element (104, 204, 304, 401, 604) angeordnet ist, das einen geometrischen Fluss des Beleuchtungsstrahlengangs mit vorgegebenem Winkelspektrum erzeugt, und wobei eine mechanische Modulationseinrichtung (405) vorhanden ist, um das diffraktive optische Element (401) in eine mechanische Bewegung zu versetzen und/oder wobei dem diffraktiven optischen Element (304) ein Phasenmodulator (306) nachgeschaltet ist und/oder wobei eine elektrische Modulationseinrichtung zur Modulation der Energieversorgung der Lichtquelle (101, 201, 301, 601) vorhanden ist.
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