液态金属离子源及其控制方法

    公开(公告)号:CN100536062C

    公开(公告)日:2009-09-02

    申请号:CN200480027321.5

    申请日:2004-09-17

    Inventor: 亚设·珀尔

    Abstract: 本发明提供一种用来控制液态金属离子源的方法,该液态金属离子源包含一尖端,一第一电极及一第二电极,该方法包括的步骤为:(i)将第一电极保持在第一电压等级范围及将第二电极保持在第二电压等级范围,用以在源的操作中主动模式期间撷取形成在尖端上的金属离子;(ii)将第一电极保持在第三电压等级范围及将第二电极保持在第四电压等级范围,用以在源的操作中闲置模式期间实质上减少从尖端撷取金属离子。第三电压等级和第四电压等级中至少其一并不包括零电压等级。第一电压等级不同于第三电压等级。

    一种离子注入设备和离子源装置及将离子源装置定位的方法

    公开(公告)号:CN1132218C

    公开(公告)日:2003-12-24

    申请号:CN95108133.0

    申请日:1995-06-29

    CPC classification number: H01J37/15 H01J2237/08 H01J2237/31701

    Abstract: 在一种离子注入设备中,一种可移走的对准夹具90,同一种自对中的夹紧装置92一起,被用来使引出元件孔精确地定位到同预定的束路线对准。引出元件72固定于夹紧装置的支持环94,而夹紧装置安装于对准夹具。被安装于源机箱的对准夹具同预定束路线精密对准。夹紧装置的开口环107固定于围绕着离子发生电弧室18的支持筒80。由于夹紧装置是自对中的,故不危害引出元件孔的对准。在移走对准夹具之后,将可变间隙引出电极装置130固定于源机箱。

    等离子体加工系统和方法
    50.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1397151A

    公开(公告)日:2003-02-12

    申请号:CN01804421.2

    申请日:2001-01-23

    Abstract: 一种基片加工系统包括一个加工腔(10),一个安置在腔内的电浮置的基片支撑架(12),一个为该腔提供处理气体的气体源(54),至少一个位于腔内离子源(20),与一个以一个脉冲序列使阳极(40)正偏和阴极(22)负偏给离子源提供能量的电源19(b),该脉冲序列具有可选择变化的占空因数和大小,以保持一个选择的时间平均电流,每个情况下的偏置都是相对于腔而言的。离子源(20)电离处理气体,产生离子以加工放置在腔内浮置的基片支撑架(12)上的基片。浮置基片上的偏置电压与它上面的净电荷一致,而净电荷受高能电子束流控制。一种实施方案包括两个这样的离子源(22,42)。在这种情况下,电源以一种时间复用的方式给第一和第二阳极(30,40)以及阴极(22,42)提供能量,以致在任何时间内只有第一或者第二离子源中的一个被提供能量,从而消除了离子源之间的相互作用。

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