公开(公告)号：CN106716115B

公开(公告)日：2018-01-05

申请号：CN201580049565.1

申请日：2015-08-27

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 迫幸雄

IPC: G01N23/223 ,  G01N23/207 ,  G01T1/17 ,  G01T1/36

CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N2223/076 ,  G01N2223/303 ,  G01N2223/304 ,  G01T1/17 ,  G01T1/40

Abstract: 本发明的X射线分析装置同时包括：第1补偿机构(13A、13B)，该第1补偿机构(13A、13B)输出用于使根据在预备测定求出的计数率的总计值而推算出的靶峰的波高值，与规定的期待波高值一致的第1增益；第2补偿机构(14A、14B)，该第2补偿机构(14A、14B)通过反馈控制，实时地输出应与第1增益相加的第2增益，以便使在规定的能量范围内检测出的靶峰的波高值与期待波高值一致，此外，包括反馈控制停止机构(16A、16B)，其确实地判断相对靶峰的妨碍线的有无，在判定具有妨碍线的场合，将增益设定为仅仅由第1增益构成的一定值。

公开(公告)号：CN107408417A

公开(公告)日：2017-11-28

申请号：CN201680018150.2

申请日：2016-03-23

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 河原直树

IPC: G21K1/06 ,  G01N23/223

CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N23/207 ,  G01N23/22 ,  G01N2223/315 ,  G21K1/06 ,  G21K1/062 ,  G21K1/067 ,  G21K2201/06 ,  G21K2201/061 ,  G21K2201/062 ,  G21K2201/064 ,  G21K2201/067

Abstract: 本发明的双重弯曲X射线分光元件(1)夹持于凸模成形夹具(21)所具有的双重弯曲凸面(21a)、与凹模成形夹具(22)所具有的与双重弯曲凸面(21a)吻合的双重弯曲凹面(22a)之间，在加热到400℃～600℃、按照具有双重弯曲面的形状而变形的玻璃板(3)的凹面(3a)上，形成反射X射线的反射膜(5)。

公开(公告)号：CN107076687A

公开(公告)日：2017-08-18

申请号：CN201680003309.3

申请日：2016-07-01

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 山田康治郎 ,  原真也 ,  堂井真

IPC: G01N23/223

CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N23/207 ,  G01N2223/076 ,  G01N2223/0766

Abstract: 测定线评价机构(23)根据针对薄膜而指定的组成和/或厚度，对于已指定的全部的测定线，通过理论计算而计算出推算测定强度，以规定量改变仅仅一个测定线的推算测定强度，针对每个变化的测定线，通过基本参数法，求出推算测定强度变化后的薄膜的组成和/或厚度的定量值，根据该定量值和已指定的组成和/或厚度，进行定量误差的推算和/或分析的可否的判断。

公开(公告)号：CN106716115A

公开(公告)日：2017-05-24

申请号：CN201580049565.1

申请日：2015-08-27

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 迫幸雄

IPC: G01N23/223 ,  G01N23/207 ,  G01T1/17 ,  G01T1/36

CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N2223/076 ,  G01N2223/303 ,  G01N2223/304 ,  G01T1/17 ,  G01T1/40

Abstract: 本发明的X射线分析装置同时包括：第1补偿机构(13A、13B)，该第1补偿机构(13A、13B)输出用于使根据在预备测定求出的计数率的总计值而推算出的靶峰的波高值，与规定的期待波高值一致的第1增益；第2补偿机构(14A、14B)，该第2补偿机构(14A、14B)通过反馈控制，实时地输出应与第1增益相加的第2增益，以便使在规定的能量范围内检测出的靶峰的波高值与期待波高值一致，此外，包括反馈控制停止机构(16A、16B)，其确实地判断相对靶峰的妨碍线的有无，在判定具有妨碍线的场合，将增益设定为仅仅由第1增益构成的一定值。

公开(公告)号：CN106537188A

公开(公告)日：2017-03-22

申请号：CN201580039683.4

申请日：2015-05-14

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 迫幸雄

IPC: G01T1/17 ,  G01T1/36 ,  G01N23/223

CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N2223/076 ,  G01N2223/304 ,  G01R13/00 ,  G01T1/17 ,  G01T1/36 ,  H01J35/14 ,  H01J35/30 ,  H05G1/26

Abstract: 本发明的X射线检测信号处理器(10)等包括：比较器(17)，该比较器(17)在来自具有CR电路(13a)的连续复位型的前置放大器(13)的信号的电平没有超过规定的上限值的场合，发出高电平的信号，在超过规定的上限值的场合，发出低电平的信号；控制部(18)，该控制部(18)以规定时间而使来自该比较器(17)的信号从低电平变高电平的过程延迟，将其输出给时钟振荡器(15)，停止振荡，由此，停止高速AD转换器(14)的高速AD转换，维持输出值。(15)，通过将低电平的信号输出给时钟振荡器

公开(公告)号：CN106290428A

公开(公告)日：2017-01-04

申请号：CN201610391502.0

申请日：2016-06-06

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 作村拓人 ,  中江保一

IPC: G01N23/207 ,  G01N23/223

Abstract: 本发明提供一种能够消除分配后的计数值的统计偏差与其他位置不同地被估算的影响，并能够防止校正的影响残留的X射线数据处理装置、其方法以及程序。X射线数据处理装置(200)对由像素阵列型检测器检测到的X射线强度的计数值进行校正，具备：存储部(220)，其对虚拟像素的形状以及位置与实际像素的形状以及位置的对应关系进行存储；和分配部(260)，其使用对所存储的对应关系给予了随机性的对应关系，将实际像素的计数值分配给虚拟像素，将分配给虚拟像素的计数值作为校正结果来输出。

公开(公告)号：CN103688597B

公开(公告)日：2016-10-05

申请号：CN201380001697.8

申请日：2013-04-09

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 小玉祐一

IPC: H05G1/06 ,  H05G1/20 ,  H05G1/26

CPC classification number: H05G1/06

Abstract: 本发明是将从灯丝（24）发出的电子打在靶（25）而产生X线的工业用X线产生装置（1）。设置有在灯丝（24）与靶（25）之间施加管电压的电路和收容该电路的高电压箱（2）。施加管电压的电路具有作为升压电路的Cockcroft‑Walton电路（22）和检测该Cockcroft‑Walton电路（22）内的电压的电压检测电路（26）。在升压电路（22）和电压检测电路（26）内的合适的地方连接有至少一个用于抑制在高电压箱（2）内产生集中电场的导电性构件（31a、31b）。导电性构件（31a、31b）的至少一个与高电压箱（2）的内壁面的间隔比电容器（C1、C2）等电子部件与高电压箱2的内壁面的间隔小。

公开(公告)号：CN103026215B

公开(公告)日：2016-08-31

申请号：CN201180036808.X

申请日：2011-07-28

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 中野朝雄 ,  上地义德

IPC: G01N23/207

CPC classification number: G01N23/20 ,  G01N23/20008 ,  G01N23/207 ,  G01N2223/056 ,  G01N2223/301 ,  G01N2223/33

Abstract: 本发明为了提供一种可通过人力保持，可进行测定位置的图像确认的便携式X射线衍射测量装置，使便携式X射线衍射装置构成为具备：从斜向对试样照射平行的X射线的X射线照射单元；对通过该X射线照射单元被照射了X射线的试样衍射的X射线中的平行分量的衍射X射线进行会聚来检测的衍射X射线检测单元；以及对从检测出衍射X射线的所述衍射X射线检测单元输出的信号进行处理的信号处理单元，并提供了对试样照射平行的连续波长的X射线，从被照射了该X射线的试样衍射的衍射X射线提取平行分量，对该提取出的衍射X射线的平行分量进行会聚，用能量分散型的检测元件检测该会聚而得的衍射X射线，对用该检测元件检测而得的信号进行处理的X射线衍射方法。

公开(公告)号：CN104656114A

公开(公告)日：2015-05-27

申请号：CN201410641399.1

申请日：2014-11-13

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 作村拓人 ,  中江保一 ,  前山正孝 ,  松下一之

IPC: G01T1/00

CPC classification number: G01T1/18 ,  G01N23/04 ,  G01N23/207 ,  G01N2223/643 ,  G01T1/026 ,  G01T1/171 ,  G01T1/24

Abstract: 本发明提供一种辐射线检测器、使用其的X射线分析装置及辐射线检测方法，能够维持辐射线连续入射的曝光状态而不会产生空载时间地检测辐射线。辐射线检测器(100)与外部设备(200)同步地检测辐射线，具备：在辐射线的粒子被检测到时产生脉冲的传感器(110)；被设置成能计数脉冲的多个计数器(140a、140b)；以及在从外部设备(200)接受了同步信号时切换多个计数器(140a、140b)之中对脉冲进行计数的计数器的控制电路(160)。

公开(公告)号：CN104655663A

公开(公告)日：2015-05-27

申请号：CN201410683622.9

申请日：2014-11-25

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 挂札康治 ,  飞田一郎

IPC: G01N23/207

CPC classification number: G01N23/207 ,  G01N2223/314

Abstract: 提供了一种用于X射线分析仪的光轴调整装置，其包括：入射侧臂、接收侧臂、X射线源、入射侧裂缝、X射线检测器，其中该装置包括布置在阻挡来自所述X射线源被所述X射线检测器接收的X射线的位置处的屏蔽带，和围绕所述样本轴相对于从所述X射线源到达所述X射线检测器的X射线的光轴将所述屏蔽带旋转到两个角位置的屏蔽带移动装置，并且，基于由所述X射线检测器针对所述两个角位置找到的X射线强度值来找到样本的表面相对于X射线的光轴在平行性方面的偏离量。