Abstract:
본 발명에 따른 접착홈이 형성된 알루미늄 방열층을 포함하는 양극산화알루미늄은, 표면에 하나 이상의 접착홈이 형성된 알루미늄 방열층, 상기 알루미늄 방열층의 상기 접착홈의 형상에 대응되도록 상기 접착홈 내측을 따라 형성됨과 동시에 상기 알루미늄 방열층의 표면에 형성된 알루미나층 및 상기 알루미나층 외측에 구비되는 회로층을 포함한다. 그리고, 상기 양극산화알루미늄의 제조방법은, 알루미늄 방열층의 표면에 하나 이상의 접착홈을 형성하는 가공단계, 상기 알루미늄 방열층을 아노다이징 처리하여, 알루미나층이 상기 접착홈의 형상에 대응되도록 상기 접착홈 내측을 따라 형성됨과 동시에 상기 알루미늄 방열층의 표면에 형성되도록 하는 아노다이징단계 및 상기 알루미나층 외측에 회로층을 형성하는 회로층 형성단계를 포함한다.
Abstract:
본 발명은 피코팅체에 균일한 코팅층의 형성이 가능한 코팅 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 피코팅체의 형상 변화에 따라 타겟홀더가 자동적으로 이동하여 피코팅체와 타겟간의 거리가 일정하게 유지되는 것이 가능하여 균일한 코팅층을 형성시킬 수 있는 코팅 장치에 관한 것이다. 본 발명은 진공 공간내에서 방전을 통하여 피코팅체의 코팅을 구현하도록 제공되는 타겟이 구비되며, 구동수단을 매개로 상하 이동이 가능한 타겟홀더; 및 상기 구동수단과 전기적으로 연계되어 있고, 피코팅체와 타겟간의 거리측정을 매개로 피코팅체의 형상변화에 대응하여 코팅이 균일하게 되도록 상기 구동수단에 상기 거리 측정 결과를 제공하는 거리 측정계를 포함하여 구성되는 균일한 코팅이 가능한 코팅장치를 제공한다. 본 발명의 일측면에 따르면, 피코팅체의 형상이 변화하더라도 이에 대응하여 피코팅체와 타겟간의 거리가 일정하게 유지될 수 있는 코팅 장치를 제공할 수 있으며, 이를 통해, 일정한 두께의 코팅층을 피코팅체에 형성시킬 수 있다.
Abstract:
PURPOSE: A method for manufacturing a metal member by an anisotropic temperature control is provided to eliminate a cladding process separately performing after an oxidation process, thereby improving productivity by reducing time required for a whole process. CONSTITUTION: A contact point member(1) including a first region(10) forming predetermined thickness and a second region(20) forming the rest is prepared. The contact point member is inserted into an oxidation device with a plurality of heaters(410). A cooling unit(200) is in contact with one surface of the contact point member. A circulation passage circulating by a pump(210) is formed.
Abstract:
본 발명에 따른 열가역적 수지를 포함하는 접착층을 사용한 플립 칩 접합방법은, 열에 의해 형태가 가역적으로 변하는 성질을 가지는 액체 상태의 수지에 경화제 및 촉매제를 혼합하여 액상의 혼합물을 얻는 단계, 상기 액상의 혼합물을 기판 상에 인쇄하여 접착층을 형성하는 단계, 상기 접착층을 고상화시키는 단계 및 열과 압력을 가하여 상기 기판 상에 칩을 접합시키는 단계를 포함한다.
Abstract:
PURPOSE: A flip chip package and a bonding method thereof using adhesive in which volume expansion agent is included are provided to omit an underfill process after a reflow process. CONSTITUTION: A solder ball(15) or a bump is formed on a bonding surface of a chip(10). Adhesive(30) including volume blowing agent is coated on the bonding surface of the chip in order for a part of the solder to be projected. A pad(20) of the bump or the solder ball is bonded through chip mounting and reflow soldering. The adhesive fills a space between the chip and the substrate according to the expansion of the adhesive.
Abstract:
PURPOSE: An energy harvesting system of a hybrid structure including a minute piezoelectric transducer and a thermoelectric device is provided to improve energy generation efficiency by combining a thermoelectric substrate with a harvesting system. CONSTITUTION: A plurality of piezoelectric transducers generate power by vibrating with external energy. The plurality of piezoelectric transducers are fixed to the printed circuit board. The printed circuit board collects power from the piezoelectric transducers. A thermoelectric substrate is combined with the lower side of the printed circuit board and generates power by heat from the printed circuit board or external power. A base substrate is attached to the lower side of the thermoelectric substrate and protects the printed circuit board and the thermoelectric substrate. A metal pad(340) transmits power of the piezoelectric device to the printed circuit board.
Abstract:
본 발명의 탄소나노튜브 복합 솔더볼 제조방법은 용융솔더가 통과되는 홀이 형성된 용기에 용융솔더를 넣는 준비단계, 상기 용융솔더가 상기 홀을 통과하여 중력 방향으로 하강하며, 상기 용융솔더는 하강 도중 방울 형태를 이루는 하강단계, 분사기를 이용하여 탄소나노튜브 분무액을 상기 하강단계의 용융솔더에 분사하는 분사단계 및 상기 분사단계 이후 탄소나노튜브가 혼합된 방울 형태의 용융솔더가 냉각오일에 투입되어 응고되는 응고단계를 포함한다. 그리고 본 발명의 솔더페이스트 제조방법은 상기 방법에 의하여 제조된 솔더볼을 플럭스와 섞어 솔더페이스트를 제조한다.
Abstract:
PURPOSE: A method of measuring the stress of a plating layer is provided to simply, precisely and repetitively measure the stress of the plating layer, which is used as reference when the contact level between a base and a coated layer is evaluated. CONSTITUTION: A method of measuring the stress of a plating layer is as follows. A buffer layer is formed on the top of a silicon strip substrate. A plating layer is formed on the top of the strip substrate with the buffer layer. The stress of the plating layer is measured using a curvature-radius measuring unit using a laser. The buffer layer is formed by sputtering. The plating layer is formed by sputtering. The silicon strip substrate is 1:5~10 in aspect ratio. The thickness of the silicon strip substrate is 100~300μm.