公开(公告)号：DE502006002858D1

公开(公告)日：2009-04-02

申请号：DE502006002858

申请日：2006-03-01

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： WIDZGOWSKI BERND

IPC: G02B21/00

Abstract: The method involves recording the changes of position, orientation and shape of a sample and transforming the coordinates of pixels to be illuminated based on the recorded changes. The transformed coordinates are assigned to memory addresses (5). A data storage (6) is accessed based on the memory addresses and the information for controlling a light source is read from selected locations of the data storage.

公开(公告)号：DE102005047884A1

公开(公告)日：2007-04-26

申请号：DE102005047884

申请日：2005-10-06

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： WIDZGOWSKI BERND

IPC: G02B21/00

Abstract: A scanning microscope comprises a pulsed light beam (3), a scanning unit (7) to guide the beam through the microscope optics (13) over or through an object (15) and a detector (19) of light from the object producing a detection signal. A decoupling element (60) in the beam steers at least one part of the beam onto a detector (61) that detects the pulse of the light source and supplies the scanner pulse signal. An independent claim is also included for a method of operating the microscope above.

公开(公告)号：DE102006001427A1

公开(公告)日：2006-09-07

申请号：DE102006001427

申请日：2006-01-10

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： WIDZGOWSKI BERND

IPC: G02B21/00 ,  G02B21/06

Abstract: The method involves recording the changes of position, orientation and shape of a sample and transforming the coordinates of pixels to be illuminated based on the recorded changes. The transformed coordinates are assigned to memory addresses (5). A data storage (6) is accessed based on the memory addresses and the information for controlling a light source is read from selected locations of the data storage.

公开(公告)号：DE10331995B4

公开(公告)日：2005-06-09

申请号：DE10331995

申请日：2003-07-14

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： WIDZGOWSKI BERND

IPC: G02B21/00 ,  G02B26/10

公开(公告)号：DE10253108A1

公开(公告)日：2004-05-27

申请号：DE10253108

申请日：2002-11-13

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： WIDZGOWSKI BERND

IPC: G02B21/00 ,  G12B21/20

Abstract: The confocal microscope system (1) uses a pulsed laser light source (3) which may be scanned over a raster. Each pixel (4) on a display screen (5) corresponds to a scanning raster point. Light (6) from the object enters a detector module (7) with first (9) and second (10) channels. Outputs (8) from the light detector circuit (13) go to a low-pass filter (14) in the first channel and a high- pass filter (15) in the second channel. The output (11,8) of the low-pass filter is fed to an analog/digital converter (25). The output (12,8) of the high-pass filter is fed to a pulse former (16) whose output (17) goes to a pulse counter (18) and first (20) and second (22) timers. An external sequence of pulses (23) is fed to the second timer.

公开(公告)号：DE102018132327B4

公开(公告)日：2021-02-25

申请号：DE102018132327

申请日：2018-12-14

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： WIDZGOWSKI BERND

IPC: G02F1/33 ,  G02B21/00 ,  G05D19/02 ,  G05D25/02

Abstract: Verfahren zur Ansteuerung eines akustooptischen Elements (200) mit einem akustooptischen Kristall (202) und einem piezoelektrischen Wandler (201) zur Versetzung des akustooptischen Kristalls (202) in mechanische Schwingungen,wobei der piezoelektrische Wandler (201) mit einem Ansteuersignal (300) mit wenigstens einer Ansteuerfrequenz angesteuert wird,wobei die wenigstens eine Ansteuerfrequenz während eines Durchlaufs einer mechanischen Schwingungswelle (301) durch den akustooptischen Kristall (202) abwechselnd mehrere verschiedene Werte (f1, f2) um eine Mittenfrequenz annimmt, so dass ein durch Dichteschwankungen im akustooptischen Kristall (202) erzeugtes Gitter gleichzeitig verschiedene Gitterabstände aufweist,dadurch gekennzeichnet, dass wobei die wenigstens eine Ansteuerfrequenz (f1, f2) periodisch derart schnell verändert wird, dass der Lichtstrahl (401) mindestens drei oder mehrmals auf den gleichen Gitterabstand trifft.

公开(公告)号：DE102006001427B4

公开(公告)日：2021-02-04

申请号：DE102006001427

申请日：2006-01-10

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： WIDZGOWSKI BERND

IPC: G02B21/06

Abstract: Verfahren zum Beleuchten einer Probe oder eines ROI als interessierendem Bereich der Probe mit einer Lichtquelle, wobei die Information, ob und auf welche Weise ein konkreter Punkt auf der Probe beleuchtet werden soll, in einem Datenspeicher unter einer konkreten Adresse abgelegt ist, wobei eine Positions-, Orientierungs- und/oder Gestaltsänderung der Probe aufgenommen wird und wobei daraus eine Transformation der Koordinaten der zu beleuchtenden Bildpunkte erfolgt, wobei den transformierten Koordinaten Speicheradressen eindeutig zugeordnet werden, wobei unter Zugrundelegung der Speicheradressen auf den Datenspeicher zugegriffen und dessen Inhalt zur Steuerung der Lichtquelle ausgelesen wird und wobei ein ermittelter Parameter zur Steuerung der Lichtquelle auf einen Bereich zwischen einem Minimal- und einem Maximalwert begrenzt wird.

公开(公告)号：DE102012218624B4

公开(公告)日：2020-07-09

申请号：DE102012218624

申请日：2012-10-12

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： WIDZGOWSKI BERND

IPC: G02B21/06 ,  G02B21/00

Abstract: Konfokales Laser-Raster-Mikroskop (100) mit einer Beleuchtungseinrichtung (1), welche eine Laserlichtquelle (41), die zum Beleuchten einer Probe (25) eingerichtet ist, und eine Ansteuerschaltung (40) für die Laserlichtquelle (1), die dazu eingerichtet ist, zur Versorgung der Laserlichtquelle (41) ein gepulstes Ansteuersignal (48) auszugeben, aufweist, wobei die Ansteuerschaltung (40) so eingerichtet ist, dass sie sowohl eine Pulsamplitude (A) als auch eine Pulsbreite (W) wenigstens eines Pulses des gepulsten Ansteuersignals (48) in Abhängigkeit von wenigstens einer Eingangsgröße (S) bestimmt.

公开(公告)号：DE102012107480B4

公开(公告)日：2019-10-02

申请号：DE102012107480

申请日：2012-08-15

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： WIDZGOWSKI BERND ,  SEYFRIED VOLKER ,  BIRK HOLGER ,  SCHREIBER FRANK

IPC: H01L31/024 ,  G01J1/02 ,  G02B7/00 ,  G02B21/00 ,  H01L31/0232 ,  H01L31/10

Abstract: Detektorvorrichtung, die dazu ausgebildet ist Licht zu empfangen und elektrische Signale zu erzeugen, mit einem Gehäuse und einem in dem Gehäuse angeordneten Detektor, wobei der Detektor einen Lichtsensor aufweist, der dazu ausgebildet ist, Licht zu empfangen und Elektronen freizusetzen, und der auf einem niedrigeren elektrischen Potentialniveau liegt, als das Gehäuse, wobei der Detektor durch eine elektrisch isolierende Zwischenanordnung in wärmeleitendem Kontakt zu dem Gehäuse steht, und wobei innerhalb des Gehäuses die Wärmeleitungsrichtung der Lichtausbreitungsrichtung des zu detektierenden Lichtes entgegengesetzt ist, dadurch gekennzeichnet, dass die von dem Lichtsensor freigesetzten Elektronen innerhalb des Detektors frei fliegend mittels ausschließlich einer einzigen Beschleunigungsstufe über eine Beschleunigungsstrecke beschleunigt werden.

公开(公告)号：DE102011000090B4

公开(公告)日：2016-03-24

申请号：DE102011000090

申请日：2011-01-11

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： BIRK HOLGER DR ,  WIDZGOWSKI BERND ,  NISSLE HOLGER

IPC: G02B21/00 ,  G01B11/24

Abstract: Verfahren zur rastermikroskopischen Abbildung eines Objektes (28), mit folgenden Schritten: Abtasten einer Vielzahl von Objektpunkten mittels eines Abtaststrahls (14) in aufeinander folgenden Abtastzeitintervallen, mehrmaliges Erfassen der Intensität der von dem jeweils abgetasteten Objektpunkt abgegebenen Strahlung innerhalb des zugehörigen Abtastzeitintervalls, Bestimmen eines Intensitätsmittelwertes aus den in dem jeweils abgetasteten Objektpunkt erfassten Intensitäten als Mittelwert-Bildpunktsignal, und Zusammensetzen der Mittelwert-Bildpunktsignale zu einem Mittelwert-Rasterbildsignal, dadurch gekennzeichnet, dass aus den in dem jeweils abgetasteten Objektpunkt erfassten Intensitäten zusätzlich ein Intensitätsvarianzwert als Varianz-Bildpunktsignal bestimmt wird, und die Varianz-Bildpunktsignale zu einem Varianz-Rasterbildsignal zusammengesetzt werden.