公开(公告)号：CN104535186A

公开(公告)日：2015-04-22

申请号：CN201410849148.2

申请日：2014-12-30

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 张天序 ,  戴小兵 ,  刘祥燕 ,  费锦东 ,  刘立 ,  喻洪涛 ,  姚守悝

IPC: G01J3/45

CPC classification number: G01J3/0202 ,  G01H9/004 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/2823 ,  G01J3/45 ,  G01J2003/2836 ,  H04N5/2251 ,  H04N5/2252 ,  H04N5/2254 ,  H04N5/23241 ,  H04N5/33

Abstract: 本发明公开了一种动平台红外图谱关联探测系统，该系统包括光学头罩、宽波段光学系统、二维伺服随动系统、红外光纤、傅里叶干涉光谱模块、图谱关联探测处理模块、电源模块和显示模块；入射光从光学头罩进入，至宽波段光学系统并由分光镜分光；透射的光线经过长波成像透镜组聚焦在红外探测器上成像；反射的光线经过宽光谱透镜组聚焦于光纤耦合器，由红外光纤进入傅里叶干涉光谱模块形成干涉图，并经傅里叶变换得到光谱数据；图谱关联探测处理模块有效融合红外成像与宽波段光谱数据，利用二维伺服随动系统控制宽波段光学系统中心指向，实现在动平台条件下的目标探测、跟踪与光谱测量。本发明能有效隔离动平台对系统的扰动，具有同时对场景成像和局部区域光谱测量以及多目标跟踪光谱测量的能力，速度快，数据量适宜，应用前景广泛。

公开(公告)号：CN104390703A

公开(公告)日：2015-03-04

申请号：CN201310654165.6

申请日：2013-10-11

Applicant: VTT科技研究中心

Inventor： H·萨亚里 ,  J·梅克南 ,  C·霍姆伦德 ,  U·坎托杰维 ,  J·安蒂拉 ,  R·曼尼拉

IPC: G01J3/28

CPC classification number: H04N9/735 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/26 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/45 ,  G01J2003/2866 ,  H04N17/02

Abstract: 本发明涉及用于确定光谱仪的校准参数的方法。一种图像光谱仪包括法布里-珀罗干涉仪和具有色彩敏感像素的图像传感器。所述干涉仪具有第一透射峰和第二透射峰。一种校准光谱仪的方法包括：提供具有窄谱峰的第一校准光；当参考谱峰在第一光谱位置附近时，通过将第一校准光耦合到光谱仪中而从图像传感器获取第一探测器信号值；当参考谱峰在第二光谱位置附近时，通过将第一校准光耦合到光谱仪中而从图像传感器获取第二探测器信号值；提供具有宽带宽的第二校准光；并且通过将第二校准光耦合到光谱仪中而从图像传感器获取第三探测器信号值。

公开(公告)号：CN102326049B

公开(公告)日：2014-10-22

申请号：CN200980157229.3

申请日：2009-02-23

Applicant: 立体光子国际有限公司

Inventor： R.F.狄龙 ,  N.H.K.朱德尔 ,  T.I.菲利昂 ,  G.辛赫 ,  N.E.华莱士

IPC: G01B11/25 ,  G01B11/24

CPC classification number: G02B26/06 ,  G01B11/2441 ,  G01B11/2527 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/26 ,  G01J3/45 ,  G02B5/32 ,  G02B21/361 ,  G02B27/0068 ,  G02B27/0087 ,  G02B2207/117 ,  G06T2200/04 ,  G06T2200/08

Abstract: 描述了一种用于光束的高速相移的方法和设备。具有不同光学厚度的各区域的透明板由光束沿着延伸通过所述区域的入射路径照明。透明板可以被移动或者光束可以被操纵从而生成入射路径。离开透明板的光束根据光束入射到其中的区域而具有瞬时相位值。有利的是，相位值是可重复和稳定的，而与光束在相应区域内的入射位置无关，并且以高调制率的相位变化是有可能的。该方法和设备可以用于调制诸如干涉条纹投影系统中的一对相干光束的相位差。

公开(公告)号：CN102636272B

公开(公告)日：2013-11-20

申请号：CN201210079324.X

申请日：2012-03-22

Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所

Inventor： 刘军 ,  李方家 ,  李儒新

IPC: G01J11/00 ,  G01J3/28

CPC classification number: G01J3/45 ,  G01J3/18 ,  G01J11/00 ,  G01J2003/1861 ,  G01J2003/451 ,  G02B19/0095 ,  G02B27/0988

Abstract: 一种基于瞬态光栅效应的飞秒激光脉冲测量方法和装置，本发明的实质是采用飞秒激光脉冲经三阶非线性效应介质产生的所述的瞬态光栅信号光波作参考光束对飞秒激光脉冲进行自参考光谱干涉测量。通过测量干涉光谱，利用自参考光谱相干方法来反演计算获得激光光谱和光谱相位，从而可以测量激光脉冲宽度与脉冲形状。本发明具有结构简单，计算速度快的特点，不需要偏振光学元件，减少了入射激光色散，可以测量10-300fs范围内不同波长的激光脉冲；本发明可进行单次脉冲测量，可用于飞秒激光脉冲的实时监测，获得的光谱相位反馈到相关的相位补偿装置，可优化飞秒激光脉冲输出。

公开(公告)号：CN103261868A

公开(公告)日：2013-08-21

申请号：CN201180059713.X

申请日：2011-10-18

Applicant: 株式会社藤仓

Inventor： 小川宪介

IPC: G01M11/02

CPC classification number: G01J3/45 ,  G01M11/331 ,  G01M11/335 ,  G01M11/336

Abstract: 波长色散测定装置具有：光分支部，将入射的被测定光信号分离成第1以及第2被测定光信号，在射出时使第1以及第2被测定光信号之间产生频率差；第1以及第2分支路径，具有偏振波保持特性；光移相器，被设置于第1以及第2分支路径的任意一方，使光测定光信号的相位αi周期性地变化；光结合部，对第1以及第2被测定光信号进行叠加，将相位为αi的第i光分量的干涉要素作为叠加波被测定光信号射出；光频率扫描部，扫描使叠加波被测定光信号通过的频率范围，提取频率范围的光谱分量作为分量被测定光信号射出；光检测部，将分量被测定光信号作为干涉信号；和控制部，与光移相器的相位的变化同步地沿时间序列获取与第i光分量对应的干涉信号。

公开(公告)号：CN102326068A

公开(公告)日：2012-01-18

申请号：CN201080008563.5

申请日：2010-02-19

Applicant: 万迈医疗仪器有限公司

Inventor： 谭洪 ,  谭玉山 ,  曹二华 ,  夏明 ,  罗伯特·F·祖克

IPC: G01N21/25 ,  G01N21/45 ,  G01N33/483 ,  G01B9/02

CPC classification number: G01N21/7703 ,  G01J3/45 ,  G01N21/45 ,  G01N21/648 ,  G01N21/8507 ,  G01N2021/7779 ,  G01N2201/062 ,  G01N2201/08 ,  G02B6/262 ,  G02B6/30

Abstract: 本发明涉及一种组件，其用于在样品中基于薄膜频谱干涉检测被分析物。该组件包括波导管，光学连接该波导管的整体式衬底，和直接结合至该整体式衬底的传感侧的薄膜层。该整体式衬底的折射指数比该薄膜层的透明材料的折射指数高。当样品中的被分析物分子与该薄膜层上涂覆的被分析物结合分子结合时，从第一反射面和第二反射面反射入该波导管的光之间的频谱干涉发生变化。

公开(公告)号：CN102301213A

公开(公告)日：2011-12-28

申请号：CN200980155546.1

申请日：2009-12-10

Applicant: 西利奥斯技术公司

Inventor： S·逖斯兰德 ,  M·休伯特 ,  L·洛克斯

IPC: G01J3/26

CPC classification number: G01J3/26 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/10 ,  G01J3/45

Abstract: 本发明涉及波长光谱学装置，其在一基片上包括一滤光栅元CF，所述滤光栅元包括两个镜片，两个镜片通过一隔膜隔开，该滤光栅元由多个干涉滤光器形成。此外，该装置包括一发射栅元CE，发射栅元包括多个发射源，每个发射源与干涉滤光器之一相关联。

公开(公告)号：CN101238347B

公开(公告)日：2011-05-25

申请号：CN200680028697.7

申请日：2006-08-09

Applicant: 通用医疗公司

Inventor： 本杰明·J·瓦科奇 ,  尹锡贤 ,  吉列尔莫·J·蒂尔尼 ,  布雷特·尤金·鲍马

IPC: G01B9/02 ,  G01N21/47

CPC classification number: G01B9/02044 ,  A61B5/0059 ,  A61B5/0066 ,  G01B9/02004 ,  G01B9/02072 ,  G01B9/02081 ,  G01B9/02091 ,  G01B2290/45 ,  G01B2290/70 ,  G01J3/45 ,  G01J2009/0265 ,  G01N21/21 ,  G01N21/274 ,  G01N21/4795

Abstract: 设备、方法和存储介质，其可向样品130提供至少一个第一电磁辐射并且向参考提供至少一个第二电磁辐射，使得第一和/或第二电磁辐射具有随时间变化的谱。此外，第一辐射所关联的至少一个第三辐射405的第一偏振分量可与第二辐射所关联的至少一个第四辐射400的第二偏振分量彼此相组合。第一和第二偏振可被特定控制为彼此至少近似正交。设备和方法用于扫掠源傅立叶域光学相干层析术的正交检测。

公开(公告)号：CN1997879A

公开(公告)日：2007-07-11

申请号：CN200580023280.7

申请日：2005-05-17

Applicant: 克莫麦特公司

Inventor： 波库·昂费达盛 ,  汉斯·拉森

IPC: G01J3/453 ,  G01N21/35

CPC classification number: G01J3/45 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/453 ,  G01N21/35 ,  G01N21/3563 ,  G01N21/3577 ,  G01N21/359 ,  G01N2021/3595 ,  G01N2201/0691 ,  G01N2201/129

Abstract: 本发明涉及一种把干涉信息与一试样的化学特性及/或物理特性关联对比的方针。本方针可用于一方法及一系统，并比以干涉光谱学为基础的现有技术拥有重大的技术和商业优势。本发明也提供一种标准化一干涉仪的方法，以及使用所述标准干涉仪的方法和系统。

公开(公告)号：CN1075630C

公开(公告)日：2001-11-28

申请号：CN96102997.8

申请日：1996-03-28

Applicant: 迪维安公司

Inventor： 伊凡·普里克里尔 ,  霍利斯·奥尼尔·霍尔Ⅱ

IPC: G01J3/453 ,  G01J9/02

CPC classification number: G01J3/45 ,  G01J3/4535 ,  G01J9/02

Abstract: 一种干涉仪，包括：将光源分为测试与参考光束的分束器，探测干涉图样的图象装置，测试光束反射镜，参考光束微反射镜，参考光束聚焦装置，和对光探测器。微反射镜的横向尺寸小于参考光束中心波瓣的横向尺寸，空间滤光器用以减少象差，包括置于透明基体上的反射器，反射器横向尺寸小于会聚其上的光束空间强度分布中心波瓣的横向尺寸。还提供一种在该测试系统中的滤光方法。可消除象差影响，并且在对光操作中不必改变干燥仪的配置。