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公开(公告)号：CN100480686C
公开(公告)日：2009-04-22
申请号：CN200410074286.4
申请日：2004-09-08
Applicant: DE&T株式会社
Abstract: 一种平面显示屏检查装置，用于在平台上校准作为检查对象的不同尺寸的显示屏。所述检查装置包括可在其上放置标准尺寸显示屏的平台，以及分别安装在所述平台的前、后、左、右侧用以沿水平和纵向方向校准所述显示屏的第一和第二校准装置。所述检查装置还包括第四校准装置，其设置在所述平台下方，可上升和下降，并可通过同时对小显示屏的边缘施加压力，沿水平和纵向方向校准具有预定长度和宽度的所述小显示屏，所述小显示屏的长度和宽度之一小于所述标准尺寸显示屏。所述第四校准装置包括在所述小显示屏各边缘处彼此相对并对所述小显示屏边缘施加压力的第四校准部分，以及在装卸所述小显示屏时升降所述第四校准部分的竖直传动部分。
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公开(公告)号：CN101236310A
公开(公告)日：2008-08-06
申请号：CN200710111490.2
申请日：2007-06-27
Inventor： 安载日
IPC: G02F1/13
Abstract: 本发明公开了一种利用探测单元来检测显示面板的方法，该显示面板包括形成在信号线(包括数据线或栅极线)末端处的外引线接合(OLB)焊盘、电连接于OLB焊盘的短路棒、以及用于向短路棒输入检测信号的检测信号输入焊盘。该方法包括：使包含在探测单元中的多个探针同时与OLB焊盘和检测信号输入焊盘相接触；以及通过探测单元的探针选择性地向OLB焊盘和检测信号输入焊盘中的至少一个施加检测信号。因此，使探测单元的探针与待检测的显示面板接触一次，便可以执行视觉检测和总体测试。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101162700A
公开(公告)日：2008-04-16
申请号：CN200710151749.6
申请日：2007-09-27
Applicant: DE&T株式会社
IPC: H01L21/66
Abstract: 本发明涉及晶片的检查装置，可用一个装置同时检查晶片的稀释剂附着物和涂布在晶片表面上的光敏电阻的厚度测定、以及包括边缘曝光的晶片的侧面检查。在具有上、下面和侧面的装置本体(1)内部包括：固定并使晶片旋转的吸盘(2)；第一装置(3)，设置在吸盘(2)上部，检测安装在吸盘(2)上的晶片表面的稀释剂附着物；第二装置(4)，同时检查晶片的上部侧面和下部侧面，通过组合这些检查而进行晶片的侧面检查；以及第三装置(5)，对安装在吸盘(2)上的晶片的光敏电阻的厚度进行测定。由此可确保晶片检查的迅速性和简便性，还可同时进行现有技术中不能检查的包括边缘曝光的侧面检查，所以具有可实现晶片检查的正确性和快速的效果。
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公开(公告)号：CN1743794A
公开(公告)日：2006-03-08
申请号：CN200510008869.1
申请日：2005-02-24
Applicant: DE&T株式会社
Abstract: 本发明披露了一种投光方法，用于在检验平面显示板的过程中减少投光部的水平运动，并扩大投光部的投光范围，并披露了一种实现该方法的投光器。该投光方法包括如下步骤，将平面显示板装载到平面显示板检测器上；通过水平移动安装在平面显示板检测器上方的投光器，将光线投射到已装载的平面显示板的表面上；在投光器的运动过程中，通过沿运动方向逐渐增加投光器的高度来使光角度前移。由于不必安装额外的投光器将光线投射到大尺寸平面显示板上，也不必制造大尺寸的平面显示板检测器，因而提高了平面显示板的生产率，降低了制造成本。
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公开(公告)号：CN1677178A
公开(公告)日：2005-10-05
申请号：CN200410071005.X
申请日：2004-07-26
Applicant: DE&T株式会社
Inventor： 李完馥
Abstract: 本发明提供了一种平板显示器的检测器，包括：检测装置，包括在其上安装面板的平台；面板传输装置，用于从平台分离已检测面板且同时将未检测面板输送到平台上；及面板输送装置，用于将由面板传输装置传输的已检测面板卸除到外部，将未检测面板传送到面板传输装置，其中面板传输装置包括：一对轨道，水平设置在平台和面板输送装置之间；第一和第二搬运器，分别安装在轨道上并往复运动，使沿第一和第二搬运器传输的面板相互交错；及多个装载器，分别安装在第一和第二搬运器上，向平台和面板输送装置移动，以直接对面板进行装载和卸载，然后返回到准备状态。与传统平板显示器的检测器相比，该平板显示器的检测器显著地提高了检测过程的效率和生产率。
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公开(公告)号：CN1576827A
公开(公告)日：2005-02-09
申请号：CN200310100100.3
申请日：2003-10-08
Applicant: DE&T株式会社
Abstract: 一种基片检查装置中的多用途平台，该平台用于固定、和检查基片的外部缺陷，该平台包括：一个矩形的框架；多个在所述框架上的移位装置，每个移位装置用于相应于待检基片的尺寸移动其位置；以及在每个移位装置上的固定装置，用于固定或释放基片的角部，从而允许通过简单的系统和操作来改变该平台上的基片固定装置的位置，以便将不同尺寸的基片稳定地固定在平台上。
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公开(公告)号：CN1550775A
公开(公告)日：2004-12-01
申请号：CN03156943.9
申请日：2003-09-15
Applicant: DE&T株式会社
Inventor： 沈在信
Abstract: 一种用于检查放置在目标位置的基片的缺陷的装置，包括：一个底座；一个用于放置待检基片的平台；一个可移动结构，该平台转动地安装在可移动结构的上面；和一个具有六个提升传动装置的平行操作装置，每个提升传动装置可以按预定的量向上/下移动，该提升传动装置具有与底座连接的可以在任意方向转动的一个下端，和与可移动结构连接的可以在任意方向转动的一个上端，以便在目标方向移动该可移动结构，从而允许在目标位置放置该基片和简化该检查系统。
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