公开(公告)号：DE10043992A1

公开(公告)日：2002-03-21

申请号：DE10043992

申请日：2000-09-05

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： ENGELHARDT JOHANN ,  HOFFMANN JUERGEN ,  KNEBEL WERNER

IPC: G02B21/00

Abstract: A method for examining a specimen (11) by means of a confocal scanning microscope having at least one light source (1), preferably a laser, to generate an illuminating light beam (4) for the specimen (11), and a beam deflection device (9) to guide the illuminating light beam (4) over the specimen (11) comprises, in the interest of reliable definition of details or regions of interest of the specimen (11), the following method steps: Firstly a preview image is acquired. Then at least one region of interest in the preview image is marked. This is followed by allocation of individual illuminating light beam wavelengths and/or illuminating light beam power levels to the region or regions. Illumination of the region or regions of the specimen (11) in accordance with the allocation is then accomplished. Lastly, the reflected and/or fluorescent light proceeding from the specimen (11) is detected.

公开(公告)号：DE10039520A1

公开(公告)日：2002-02-21

申请号：DE10039520

申请日：2000-08-08

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： KNEBEL WERNER ,  HOFFMANN JUERGEN

IPC: G02B21/00 ,  G02B21/16 ,  G02B21/32 ,  G02B21/36 ,  G02B21/06

Abstract: The present invention relates to a device and to a method for examining and manipulating microscopic objects (1), with a microscope (2), a light source (3, 4) used to illuminate the object (1), an illumination beam path (5), a detector (6) used to detect the light returning from the object (1), a detection beam path (7), a light source (8) used for the object manipulation and a manipulation light beam path (9). The device according to the invention and the method according to the invention are intended to permit three-dimensional examination and manipulation of objects (1) whose dimension along the optical axis is greater than the depth of focus of the microscope objective used, with the additional intention that object manipulation should be possible at all sites of the three-dimensional object (1).

公开(公告)号：DE19957418A1

公开(公告)日：2001-05-31

申请号：DE19957418

申请日：1999-11-29

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： KNEBEL WERNER ,  BRADL JOACHIM

IPC: G02B21/00 ,  G02F1/11 ,  G02F1/33

Abstract: The method involves preferably using confocal laser scanning microscopy with light intensity regulated according to the current focal position (2) in the object region (3) of the rastered, focused light beam. The regulation of the light intensity can be performed depending on the axial and/or lateral focal position using focal positions in an object region defined by the user. Independent claims are also included for the following: a raster microscope for using the method of optical scanning of an object.

公开(公告)号：DE19949272A1

公开(公告)日：2001-04-19

申请号：DE19949272

申请日：1999-10-12

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： KNEBEL WERNER ,  ULRICH HEINRICH

IPC: G02B21/06 ,  G02B21/00 ,  G02B21/16 ,  G01N21/64

Abstract: The confocal laser scan microscope has in addition to the laser source (1) a second non single mode light source (5) for the ultraviolet (UV) band which illuminates the object without focussing object and the scan (15) parameters of the objective are adjusted to achieve the required signal to noise ratio.

公开(公告)号：DE102018128264B4

公开(公告)日：2020-08-20

申请号：DE102018128264

申请日：2018-11-12

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： KNEBEL WERNER ,  FAHRBACH FLORIAN ,  FRANKE CHRISTOF ,  FEHRER DIRK-OLIVER

IPC: G02B21/06 ,  G02B5/04 ,  G02B21/24 ,  G02B21/34 ,  G02B27/10 ,  G02B27/28

Abstract: Lichtblattmikroskop, umfassend:ein Detektionsobjektiv (12) zum Abbilden eines Zielbereichs (36) einer Probe (16), der sich in einer Fokusebene des Detektionsobjektivs (12) befindet, und eine erste Lichtumlenkvorrichtung (18) mit wenigstens einer ersten Umlenkfläche (26) und einer zweiten Umlenkfläche (28), die jeweils versetzt zur optischen Achse des Detektionsobjektivs (12) angeordnet sind,dadurch gekennzeichnet, dassdas Lichtblattmikroskop (10, 42, 50, 64) ferner ein Beleuchtungsobjektiv (14) zum Fokussieren eines Beleuchtungslichtbündels (38) in die Probe und eine zweite Lichtumlenkvorrichtung (20, 44, 52) umfasst,dass das Detektionsobjektiv (12) und das Beleuchtungsobjektiv (14) einander gegenüberliegen, und die optische Achse des Detektionsobjektivs (12) und die optische Achse des Beleuchtungsobjektivs (14) parallel zueinander sind,dass die zweite Lichtumlenkvorrichtung (20, 44, 52) zwischen dem Beleuchtungsobjektiv (14) und der ersten Lichtumlenkvorrichtung (18) angeordnet und ausgebildet ist, das durch das Beleuchtungsobjektiv (14) fokussierte Beleuchtungslichtbündel (38) auf wenigstens eine der beiden Umlenkflächen (26, 28) der ersten Lichtumlenkvorrichtung (18) umzulenken, unddass die erste Umlenkfläche (26) und die zweite Umlenkfläche (28) jeweils ausgebildet sind, das durch das Beleuchtungsobjektiv (14) fokussierte Beleuchtungslichtbündel (38) in eine Richtung senkrecht zur optischen Achse des Detektionsobjektivs (12) derart umzulenken, dass das umgelenkte Beleuchtungslichtbündel (38) eine in die Fokusebene fokussierte lichtblattartige Beleuchtungslichtverteilung bildet.

公开(公告)号：DE102019110869A1

公开(公告)日：2020-06-25

申请号：DE102019110869

申请日：2019-04-26

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： KNEBEL WERNER ,  FAHRBACH FLORIAN

IPC: G02B21/18 ,  G01N21/64 ,  G02B21/06 ,  G02B21/36 ,  G02B26/08

Abstract: Die Erfindung betrifft ein Mikroskop (10) mit einer Weitfeld-Beleuchtungseinheit (12) zur Beleuchtung zumindest eines ausgewählten Bereichs einer Probe (14) und mit einer Strahlteilereinheit (16, 16') zur Erzeugung eines ersten Detektionsstrahlengangs (18) und eines zweiten Detektionsstrahlengangs (20). Das Mikroskop (10) umfasst ferner eine innerhalb des ersten Detektionsstrahlengangs (18) angeordnete Kamera-Detektionseinheit (20) zur Aufnahme von Bildern des ausgewählten Bereichs der Probe (14) und eine innerhalb des zweiten Detektionsstrahlengangs (20) angeordnete Punkt-Detektionseinheit (24) zur Erfassung eines innerhalb des ausgewählten Bereichs liegenden vorbestimmten Teilbereichs der Probe (14). Innerhalb des ersten und zweiten Detektionsstrahlengangs (18, 20) ist objektseitig der Strahlteilereinheit (16, 16') ein Detektionsobjektiv (26) angeordnet, das als gemeinsames Detektionsobjektiv für die Kamera-Detektionseinheit (22, 22') und die Punkt-Detektionseinheit (24) vorgesehen ist.

公开(公告)号：DE102018222876A1

公开(公告)日：2020-06-25

申请号：DE102018222876

申请日：2018-12-21

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： KNEBEL WERNER ,  FAHRBACH FLORIAN

IPC: G02B21/00 ,  G02B21/06

Abstract: Die Erfindung betrifft ein Mikroskop (1), insbesondere zum Lichtblattmikroskop (3) umgebautes Konfokalmikroskop (4), umfassend einen Mikroskopkorpus (5), eine mechanische Aufnahmevorrichtung (7) für Mikroskopobjektive, durch die hindurch sich ein Mikroskopstrahlengang (9) erstreckt, und ein an der Aufnahmevorrichtung (7) anbringbares optisches Modul (11) zur Beleuchtung eines Probenvolumens (13) und zum Aufsammeln und Weiterleiten von Licht (15) aus dem Probenvolumen (13), wobei das optische Modul (11) aufweist: eine erste optische Anordnung (17) mit einem ersten Strahlengang (19); eine zweite optische Anordnung (21) mit einem zweiten, den ersten Strahlengang (19) im Probenvolumen (13) schneidenden Strahlengang (23); einen optischer Strahlengangselektor (25), welcher den ersten Strahlengang (19) und/oder den zweiten Strahlengang (23) mit dem Mikroskopstrahlengang (9) zusammenführt; und ein Vorsatzelement (27) zwischen der ersten (17) oder zweiten optischen Anordnung (21) und dem Probenvolumen (13), wobei der erste (19) oder der zweite Strahlengang (23) zumindest abschnittsweise durch das Vorsatzelement (27) verläuft, wobei das Mikroskop (1) einen Flächensensor zur Detektion von aus dem Probenvolumen (13) aufgesammeltem Licht (15) umfasst.

公开(公告)号：LU93021B1

公开(公告)日：2017-11-08

申请号：LU93021

申请日：2016-04-08

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： FAHRBACH FLORIAN ,  KNEBEL WERNER

IPC: G02B21/00 ,  G02B21/36

Abstract: Beschrieben ist ein Mikroskop (50) zum Abbilden einer Probe (30), umfassend eine Beleuchtungseinheit (12) zum Aussenden von Beleuchtungslicht auf die Probe (30), einen Detektor (71) zum Erfassen von Detektionslicht, das aus der Probe (30) stammt, eine Optik zum Fokussieren des von der Beleuchtungseinheit (12) ausgesendeten Beleuchtungslichtes in die Probe (30) und zum Fokussieren des aus der Probe (30) stammenden Detektionslichtes auf den Detektor (71), und eine Scaneinheit (20) zum Scannen der Probe (30) mit dem Beleuchtungslicht. Die Beleuchtungseinheit (12) ist ausgebildet, das Beleuchtungslicht in Form von separaten Beleuchtungslichtbündeln (52, 54, 56) derart auf die Scaneinheit (20) auszusenden, dass die Beleuchtungslichtbündel (52, 54, 56) beim Scannen der Probe (30) gleichzeitig auf räumlich voneinander getrennte, streifenförmige Probenbereiche (A, B, C) fokussiert werden. Der Detektor (71) ist ausgebildet, das Detektionslicht in Form von separaten, aus den räumlich voneinander getrennten, streifenförmigen Probenbereichen (A, B, C) stammenden Detektionslichtbündeln (58, 60, 62) gleichzeitig und räumlich voneinander getrennt zu erfassen. (Figur 2) 93021

公开(公告)号：LU92807B1

公开(公告)日：2017-03-01

申请号：LU92807

申请日：2015-08-27

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： BRADL JOACHIM ,  FAHRBACH FLORIAN ,  KNEBEL WERNER

IPC: G02B21/00 ,  G01N21/64 ,  G02B21/06 ,  G02B21/16

Abstract: Die Erfindung betrifft eine Beleuchtungsanordnung für ein Lichtblatt-Mikroskop, bei dem eine Probe mit einem Beleuchtungslichtbündel (8) beleuchtet wird, das im Bereich der Probe als Lichtblatt (11) ausgebildet ist, mit einem Beleuchtungsobjektiv (4), einer Tubuslinse (3) und einer astigmatischen Optik (7). Die Beleuchtungsanordnung zeichnet sich dadurch aus, dass die astigmatische Optik (7) zwischen der Tubuslinse (3) und dem Beleuchtungsobjektiv (4) angeordnet ist und/oder keine weiteren fokussierenden oder defokussierenden Elemente zwischen der astigmatischen Optik (7) und dem Beleuchtungsobjektiv (4) angeordnet sind. Alternativ kann auch vorgesehen sein, dass die astigmatische Optik Teil des Beleuchtungsobjektivs (4) ist. Darüber hinaus betrifft die Erfindung ein Verfahren zum Beleuchten einer Probe mittels einer solchen Beleuchtungsanordnung, sowie ein Mikroskop, das eine solche Beleuchtungsanordnung beinhaltet. (Fig. 1)

公开(公告)号：LU92505A1

公开(公告)日：2016-01-25

申请号：LU92505

申请日：2014-07-22

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： KNEBEL WERNER

IPC: G01N21/64 ,  G02B21/06 ,  G02B21/16 ,  G02B27/56

CPC classification number: G02B21/16 ,  G01N21/6458 ,  G01N21/648 ,  G02B21/002 ,  G02B21/06 ,  G02B27/56

Abstract: A method for microscopic examination of a specimen includes bringing the specimen into contact with an optically transparent medium that has a higher refractive index than the specimen. An illumination light bundle is generated and directed through an illumination objective that focuses the illumination light bundle. The illumination light bundle that has passed through the illumination objective in the direction of the specimen that is to be examined is deflected using a deflector arranged on a detection objective in such a way that the illumination light bundle strikes a boundary surface between the optically transparent medium and the specimen, where the illumination light bundle is totally reflected for purposes of evanescently illuminating the specimen. Fluorescent light that is emitted by the specimen and that passes through the detection objective is detected.