Patent search ap:("ST MICROELECTRONICS GRENOBLE 2" OR "ST MICROELECTRONICS SRL") AND inv:"PAGANI ALBERTO" Page 7

61.

发明专利
DISPOSITIVO ELETTRONICO INTEGRATO PER IL MONITORAGGIO DI PRESSIONE ALL'INTERNO DI UNA STRUTTURA SOLIDA 未知

公开(公告)号：ITMI20130482A1

公开(公告)日：2014-09-30

申请号：ITMI20130482

申请日：2013-03-29

Applicant: ST MICROELECTRONICS SRL

Inventor： PAGANI ALBERTO

62.

发明专利
MANUFATTO DI MATERIALE DI COSTRUZIONE 未知

公开(公告)号：ITMI20121595A1

公开(公告)日：2014-03-26

申请号：ITMI20121595

申请日：2012-09-25

Applicant: ST MICROELECTRONICS SRL

Inventor： PAGANI ALBERTO

63.

发明专利
DISPOSITIVO OPTOELETTRONICO INTEGRATO CON GUIDA D'ONDA E RELATIVO PROCEDIMENTO DI FABBRICAZIONE 未知

公开(公告)号：ITTO20120583A1

公开(公告)日：2014-01-03

申请号：ITTO20120583

申请日：2012-07-02

Applicant: ST MICROELECTRONICS SRL

Inventor： LOI SARA , MOTTA ALESSANDRO , PAGANI ALBERTO

64.

发明专利
PACKAGE IN MATERIALE EDILIZIO PER DISPOSITIVO DI MONITORAGGIO DI PARAMETRI, ALL'INTERNO DI UNA STRUTTURA SOLIDA, E RELATIVO DISPOSITIVO. 未知

公开(公告)号：ITMI20120912A1

公开(公告)日：2013-11-26

申请号：ITMI20120912

申请日：2012-05-25

Applicant: ST MICROELECTRONICS SRL

Inventor： MURARI BRUNO , PAGANI ALBERTO , RICOTTI GIULIO , RONCHI MARCO , ZIGLIOLI FEDERICO GIOVANNI

65.

发明专利
DISPOSITIVO ELETTRONICO INTEGRATO PER IL MONITORAGGIO DI PARAMETRI ALL'INTERNO DI UNA STRUTTURA SOLIDA E SISTEMA DI MONITORAGGIO IMPIEGANTE TALE DISPOSITIVO 未知

公开(公告)号：IT1403612B1

公开(公告)日：2013-10-31

申请号：ITMI20102365

申请日：2010-12-22

Applicant: ST MICROELECTRONICS SRL

Inventor： MURARI BRUNO , PAGANI ALBERTO

IPC: G01N27/20

66.

发明专利
ELEMENTO DI MEMORIA ELETTROMECCANICO INTEGRATO E MEMORIA ELETTRONICA COMPRENDENTE IL MEDESIMO 未知

公开(公告)号：ITTO20120224A1

公开(公告)日：2013-09-16

申请号：ITTO20120224

申请日：2012-03-15

Applicant: ST MICROELECTRONICS SRL

Inventor： MORELLI MARCO , PAGANI ALBERTO , RICOTTI GIULIO

67.

发明专利
PROCESSO DI FABBRICAZIONE DI CIRCUITI ELETTRONICI INTEGRATI E CIRCUITI COSI' OTTENUTI 未知

公开(公告)号：IT1400096B1

公开(公告)日：2013-05-17

申请号：ITMI20100843

申请日：2010-05-12

Applicant: ST MICROELECTRONICS SRL

Inventor： PAGANI ALBERTO

68.

发明专利
CIRCUITO DI TEST DI UN CIRCUITO INTEGRATO SU WAFER DEL TIPO COMPRENDENTE ALMENO UNA ANTENNA DI TIPO EMBEDDED E RELATIVO CIRCUITO INTEGRATO OTTENUTO MEDIANTE SINGOLAZIONE A PARTIRE DA UNA PORZIONE DI WAFER DOTATA DI UN TALE CIRCUITO DI TEST. 未知

公开(公告)号：IT1399914B1

公开(公告)日：2013-05-09

申请号：ITMI20100744

申请日：2010-04-29

Applicant: ST MICROELECTRONICS SRL

Inventor： PAGANI ALBERTO

IPC: G01R31/28

69.

发明专利
ARCHITETTURA DI TESTING DI CIRCUITI INTEGRATI SU UN WAFER 未知

公开(公告)号：ITMI20111418A1

公开(公告)日：2013-01-29

申请号：ITMI20111418

申请日：2011-07-28

Applicant: ST MICROELECTRONICS SRL

Inventor： PAGANI ALBERTO

70.

发明专利
METODO PER CONTROLLARE IL CORRETTO POSIZIONAMENTO DI SONDE DI TEST SU TERMINAZIONI DI DISPOSITIVI ELETTRONICI INTEGRATI SU SEMICONDUTTORE E RELATIVO DISPOSITIVO ELETTRONICO. 未知

公开(公告)号：IT1397222B1

公开(公告)日：2013-01-04

申请号：ITMI20092332

申请日：2009-12-30

Applicant: ST MICROELECTRONICS SRL

Inventor： PAGANI ALBERTO

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