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公开(公告)号:TWI483279B
公开(公告)日:2015-05-01
申请号:TW100111874
申请日:2011-04-06
Applicant: 光學實驗室公司 , LIGHTLAB SWEDEN AB
Inventor: 胡魁鴻 , HU, QIU-HONG
CPC classification number: H01J1/3044 , B82Y20/00 , H01J1/304 , H01J31/123 , H01J63/02 , H01J63/04 , H01J2201/3043 , H01J2201/30446 , H01J2201/30484 , H01J2201/30488 , H01J2201/30492 , H01J2201/30496 , H01J2329/0428 , H01J2329/0439 , H01J2329/0465 , H01J2329/0468 , H01J2329/0471 , H01J2329/0473
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公开(公告)号:TWI460121B
公开(公告)日:2014-11-11
申请号:TW101127311
申请日:2012-07-27
Inventor: 洪勇智 , HUNG, YUNG JR , 李三良 , LEE, SAN LIANG
CPC classification number: H01L21/30604 , B82Y10/00 , B82Y40/00 , H01J1/304 , H01J2201/3043 , H01L21/20 , H01L21/3081 , H01L21/3083 , H01L29/0676 , H01L29/16 , H01L31/035227
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公开(公告)号:TW201404709A
公开(公告)日:2014-02-01
申请号:TW101127311
申请日:2012-07-27
Inventor: 洪勇智 , HUNG, YUNG JR , 李三良 , LEE, SAN LIANG
CPC classification number: H01L21/30604 , B82Y10/00 , B82Y40/00 , H01J1/304 , H01J2201/3043 , H01L21/20 , H01L21/3081 , H01L21/3083 , H01L29/0676 , H01L29/16 , H01L31/035227
Abstract: 本發明揭露一種圖形化矽奈米線陣列之製作方法包括:形成一矽奈米線陣列結構;形成一圖形化保護層在該矽奈米線陣列結構上,該圖形化保護層具有一覆蓋區域及一未覆蓋區域;採用一選擇性蝕刻去除在該未覆蓋區域的該矽奈米線陣列結構;以及去除殘留在該矽奈米線陣列結構上的該圖形化保護層。本發明還揭露一種矽微結構之製作方法。
Abstract in simplified Chinese: 本发明揭露一种图形化硅奈米线数组之制作方法包括:形成一硅奈米线数组结构;形成一图形化保护层在该硅奈米线数组结构上,该图形化保护层具有一覆盖区域及一未覆盖区域;采用一选择性蚀刻去除在该未覆盖区域的该硅奈米线数组结构;以及去除残留在该硅奈米线数组结构上的该图形化保护层。本发明还揭露一种硅微结构之制作方法。
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