公开(公告)号：CN101277457B

公开(公告)日：2012-05-02

申请号：CN200810087451.8

申请日：2008-03-28

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 江南世志 ,  菊池正博 ,  水口勉 ,  佐野弘幸

IPC: H04N17/04 ,  H04N17/00

Abstract: 本发明提供一种运动图像处理装置以及方法，使用电照相机(3a)多次拍摄在判定对象显示器(2)的显示画面(21)上移动的运动图像。所拍摄的数据由在判定对象显示器(2)的运动图像移动方向的位置以及这些各时刻中的显示器的发光亮度的信息组成。根据该数据，进行眼睛的运动图像跟踪模拟，通过沿着该眼睛的跟踪方向用(1)帧时间的整数倍进行积分计算，由此求判定对象显示器(2)的运动图像应答曲线。根据该运动图像应答曲线，能够进行运动图像特性评价、运动图像模糊评价。

公开(公告)号：CN101287974B

公开(公告)日：2010-09-22

申请号：CN200680038368.0

申请日：2006-04-12

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 大久保和明

IPC: G01J1/02

CPC classification number: G01J1/42 ,  G01J1/04 ,  G01J1/0422 ,  G01J1/0455 ,  G01J1/08 ,  G01J2001/0481 ,  G01J2001/4247

Abstract: 本发明提供一种光学测量装置，具备：平面镜(3)，其具有作为光入射窗或光源安装部(5)之功能的中央开口部、和可以由光检测器(6)进行测量的观测窗(6’)；和积分半球(2)，其在平面镜(3)的中央开口部内具有曲率半径的中心，且内壁面具有光漫反射面(1)的功能，平面镜(3)和积分半球(2)在内部形成积分空间。

公开(公告)号：CN100546396C

公开(公告)日：2009-09-30

申请号：CN03825722.X

申请日：2003-06-06

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 冈宏一

IPC: H04N17/04

CPC classification number: H04N17/04

Abstract: 公开了一种系统，该系统包括一个可旋转的镜子2，一个通过镜子2拍摄屏幕5图像的照相机3，一个具有覆盖部分屏幕5的探测范围的光电探测器4，和一个控制部件6。当光电探测器4探测到包含在显示在屏幕5上的移动图像中的测量图案时，光电探测器4输出探测信号。基于这个探测信号，控制部件触发镜子2旋转，并且在镜子2开始旋转后，控制部件6旋转，以使镜子2追随测量图案的运动进行旋转。不需凭借镜子旋转的电子同步和移动图像信号，就可以获得跟踪照相机3的探测器平面上的移动图像运动的图像，并用一种简单的结构来测量移动图像的显示质量。

公开(公告)号：CN1867082A

公开(公告)日：2006-11-22

申请号：CN200610082451.X

申请日：2006-05-19

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 岡宏一

IPC: H04N17/00

CPC classification number: G06T7/001 ,  G06T2207/10016 ,  G06T2207/30108 ,  H04N17/04

Abstract: 本发明公开了一种动态图像显示性能判定方法和装置以及检查画面，在判定对象显示器的画面上，使测试图像滚动显示。准备利用相同测试图像生成的、表示不同的动态图像显示性能指标值的多个样本图像，在可与所述滚动中的测试图像对比的状态下，静止显示所述多个样本图像。然后，确定与所述追踪拍摄后得到的测试图像最相似的样本图像，将所确定的样本图像的动态图像显示性能指标值作为所述测试图像的动态图像显示性能指标值。

公开(公告)号：CN1255674C

公开(公告)日：2006-05-10

申请号：CN02800492.2

申请日：2002-02-28

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 筒井和典 ,  水口勉

IPC: G01N21/85

CPC classification number: G01N21/474 ,  G01N21/8507 ,  G01N2021/4726 ,  G01N2021/4742 ,  G01N2021/4769

Abstract: 根据本发明的用于测量散射光的探头其结构如下：一光输入光纤(4)和一用于收集并传输散射光的散射光测量光纤(6)被插入探头(3)的主体中；该光纤(4)通过设置在该用于测量光散射的探头(3)中的孔向外延伸；每个光纤(4，6)的端部用套圈(66，67)覆盖；套圈(66，67)的一端被切削成截头圆锥形，以保留光纤(4，6)的一部分或整个端面；并由支撑体(70)等以这样一种方式对套圈(66，67)进行固定，使得光纤(4，6)的端面以预定的角度、其间以预定的距离被彼此靠近设置。因而，即使它们具有很差的强度，光纤的端部也可以由套圈加强和保护。此外，将套圈的端部切削成截头圆锥形，可以减小光纤端面之间的距离。

公开(公告)号：CN1556917A

公开(公告)日：2004-12-22

申请号：CN03801076.3

申请日：2003-03-24

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 藤村慎二 ,  播磨达也 ,  田口都一

IPC: G01N21/25 ,  G01N21/27 ,  G01N21/95

CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/0232 ,  G01J3/04 ,  G01J2003/326 ,  G01N21/253 ,  G01N21/474 ,  G01N21/55 ,  G01N21/59 ,  G01N2201/043

Abstract: 本发明提供了一种多点测量系统，它包括：光源(1、2)；多个照明光纤(5、6)，用于将光源发出的光传送给试样，以便照亮试样的多个点(A、B)；多个接收光纤(8、9)，用于在该多个点采集光束，该光束包括透射、反射和散射光束；光学通路选择部件(10)，它包括旋转盘(12)，该旋转盘有孔，用于通过接收光纤(11)传递由多个接收光纤(8、9)中的一个采集的光束；以及MCPD(4)。当旋转盘(12)旋转以便使孔移动至或停止在所希望的通道的光能够通过的位置处时，可以只对相应接收光纤(8、9、11)通过的光进行测量。在其它通道处的光可以通过使旋转盘旋转预定角度来测量。

公开(公告)号：CN110954301B

公开(公告)日：2024-06-28

申请号：CN201910910100.0

申请日：2019-09-25

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 大久保和明 ,  菊池正博

IPC: G01M11/02

Abstract: 本申请涉及测定系统及测定方法。测定系统包括：积分器，具有形成于相互对置的位置的入射窗和试样窗；受光器，通过在离开试样窗规定距离的位置形成的观测窗，测定积分器的照度；挡板，配置于连结积分器内的试样窗和观测窗的光学路径上；以及处理装置，通过处理从受光器输出的测定值来计算出光学特性。入射窗构成为能选择来自配置于积分器的外部的第一光源的光的向积分器内的导入和切断。试样窗构成为能选择性地装接反射率已知的漫反射构件和第二光源。

公开(公告)号：CN118235026A

公开(公告)日：2024-06-21

申请号：CN202180104033.9

申请日：2021-11-08

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 下田健作

IPC: G01J9/02 ,  G03H1/08 ,  G01B11/24 ,  G01N21/45

Abstract: 光学测定方法包括以下步骤：构成用于记录全息图的光学系统，所述全息图是利用照明光和相干的参考光将利用照明光对试样进行照明所得到的物体光进行调制而生成的全息图；在不存在试样的状态下，在照明光的光学路径上配置包括产生已知的光波分布的光学系统的校正单元；记录在校正单元产生光波分布的状态下生成的第一全息图；以及基于表示校正单元的配置位置的信息、已知的光波分布、以及第一全息图，来计算参考光的光波分布的信息。

公开(公告)号：CN111486794B

公开(公告)日：2024-02-13

申请号：CN202010074101.9

申请日：2020-01-22

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 冈本宗大 ,  稻野大辅 ,  森本晃一 ,  田口都一 ,  龟本智彦

IPC: G01B11/06 ,  G01N21/25 ,  G01N21/45 ,  G01N21/47 ,  G01N21/59

Abstract: 本发明提供一种光学测定系统和光学测定方法，提供一种针对在以往的光学测定装置中测定精度可能降低的样品也能够更高精度地测定光学特性的结构。光学测定系统包括：光源，其发出用于向样品照射的测定光；分光检测器，其接收由测定光在样品处产生的反射光或透射光；以及处理装置，其被输入分光检测器的检测结果。处理装置构成为能够执行以下处理：基于分光检测器的检测结果，来计算第一光谱；在第一光谱中确定与波长有关的振幅的变化满足规定条件的区间；以及使用从第一光谱去除所确定的区间的信息所得到的第二光谱，来计算样品的光学特性。

公开(公告)号：CN116075685A

公开(公告)日：2023-05-05

申请号：CN202080103671.4

申请日：2020-09-01

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 稻野大辅

IPC: G01B11/06

Abstract: 提供一种测定试样中包含的层的厚度即膜厚的光学测定系统。光学测定系统包括：光源，其产生测定光；受光部，其通过接收将测定光照射于试样而产生的反射光或透过光来作为观测光；探针，其与光源及受光部以光学方式连接，所述探针能够配置于任意位置；膜厚计算部，其根据基于受光部的检测结果计算出的分光反射率或分光透过率，来计算试样的膜厚；以及可靠度计算部，其计算测定可靠度，所述测定可靠度表示由膜厚计算部计算的膜厚是以何种程度适当地测定出的膜厚。