公开(公告)号：KR100501713B1

公开(公告)日：2005-07-18

申请号：KR1020030056388

申请日：2003-08-14

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 방정호 ,  이지훈 ,  이성혁 ,  오세종

IPC: H04W28/06 ,  H04L1/16 ,  H04L12/801 ,  H03M7/30

Abstract: 헤더가 압축된 패킷을 전송하는 네트워크 시스템 및 그의 제어방법이 개시된다. 본 발명에 따른 네트워크는, 기설정된 압축적용 콘택스트에 기초하여 전송대상 패킷의 헤더를 압축하는 송신노드 및 헤더압축된 전송대상 패킷의 헤더를 압축해제할 때 압축적용 콘택스트 및 기설정된 압축해제적용 콘택스트가 상호 불일치인 경우, 전송대상 패킷의 이후에 전송되는 패킷의 수신에 대응하는 MAC계층 ACK신호에 콘택스트불일치 관련정보인 피드백 메시지를 부가(piggyback)하여 이를 송신노드로 전송하는 수신노드를 포함한다. 본 발명에 의하면, 단방향 서비스에서 콘택스트 불일치로 인해 발생되는 문제점을 조속히 해결할 수 있다.

公开(公告)号：KR100498509B1

公开(公告)日：2005-07-01

申请号：KR1020030079901

申请日：2003-11-12

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 박동규 ,  김종국 ,  방정호 ,  최상영 ,  김은식

IPC: G11C29/00 ,  G01R31/26 ,  H01L21/66

CPC classification number: G11C29/56004 ,  G11C29/56 ,  G11C2029/2602

Abstract: 검사시간을 단축하는 플래시 메모리 테스터 및 이를 이용한 전기적 검사방법에 관해 개시한다. 이를 위해 본 발명은, 병렬 검사가 가능한 반도체 메모리 테스터에 존재하는 제1 메모리에 추가로 제2 메모리를 설치하고, 제1 메모리 및 제2 메모리를 이용하여 여러 개의 피검사소자내의 동일 주소에 각각 다른 데이터를 전송시켜 직렬검사 항목인 트림 검사(Trim test), 리페어 검사(Repair test) 및 인밸리드 블록 마스킹 검사(Invalid block masking test)를 병렬로 검사한다.

公开(公告)号：KR100496861B1

公开(公告)日：2005-06-22

申请号：KR1020020058349

申请日：2002-09-26

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 방정호 ,  신경선 ,  김성옥 ,  정애용

IPC: G01R31/26 ,  H01L21/66

CPC classification number: G01R31/2893 ,  G01R31/01 ,  G01R31/2851

Abstract: 하나의 핸들러에 2개 이상의 테스트 보드를 갖는 테스트 장비 및 그 테스트 방법이 개시된다. 본 발명은 테스터와 연결된 하나의 핸들러로 로딩되는 다수개의 반도체 소자들을 테스트하는 것으로, 핸들러는 테스터에서 제공되는 테스트 사이클을 카운트하여 홀수번 신호와 짝수번 신호로 구분하여 발생하는 테스트 해드와, 다수개의 반도체 소자들이 제1 사이트와 제2 사이트에 나뉘어져 로딩되고 홀수번 신호 및 짝수번 신호에 응답하여 선택적으로 테스트되는 해드 보드를 포함한다. 따라서, 본 발명은 테스터에 하나의 핸들러를 연결하고 핸들러의 테스트 보드를 2개 이상의 사이트로 나누거나 테스트 보드를 2개 이상 구비하여 테스트 보드로 로딩된 반도체 소자들을 테스트하기 때문에 테스트 장비는 큰 용적을 차지하지 않는다. 그리고, 하나의 사이트 또는 하나의 테스트 보드의 반도체 소자들을 테스트하는 동안 다른 사이트 또는 다른 테스트 보드의 반도체 소자들을 테스트 결과에 따라 소팅할 수 있기 때문에 테스트 아이들 시간 없이 테스트 가능하다.

公开(公告)号：KR1020050035613A

公开(公告)日：2005-04-19

申请号：KR1020030071078

申请日：2003-10-13

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 이남권 ,  이화철 ,  전찬섭 ,  조병후 ,  방정호 ,  조근원

IPC: H01L21/822 ,  G01R31/26 ,  H01L21/66

Abstract: 본 발명은 반도체 장치 및 그것을 테스트하기 위한 방법에 관한 것으로서, 본 발명에 따른 반도체 장치는 내장회로부와 전기적으로 연결되는 복수의 비교기, 그 비교기와 전기적으로 연결되는 AND 또는 OR 논리게이트, 그리고 그 AND 또는 OR 논리게이트와 전기적으로 연결되면서 MBT(Monitoring Burn-in Tester)와도 전기적으로 연결되는 입출력단자를 포함하는 구성을 가지며, 본 발명에 따른 반도체 장치의 테스트 방법은 MBT를 사용하여 이와 같은 반도체 장치를 하나의 DQ(data queue)로서 테스트 함을 특징으로 한다.
이에 따라, 반도체 장치의 테스트 스캔 횟수가 감소되므로, 반도체 장치의 테스트 시간이 단축되어 반도체 제조공정의 생산 효율이 향상되는 이점이 있다.

公开(公告)号：KR1020050007815A

公开(公告)日：2005-01-21

申请号：KR1020030047415

申请日：2003-07-11

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 김우일 ,  심현섭 ,  이형영 ,  곽영기 ,  방정호 ,  주기봉

IPC: G11C29/00

CPC classification number: G01R31/31905 ,  G11C2029/2602

Abstract: PURPOSE: A parallel test device of an integrated circuit is provided, which enable a user to supply the maximum current selectively generated from the power source to the DUT(Device Under Test) to improve the test efficiency. CONSTITUTION: A parallel test device of an integrated circuit includes a plurality of power sources(VS1,VS2,VS3), a plurality of switching devices(210,220,230,240) and a controller(180). The plurality of power sources supplies the test current to the plurality of DUTs. The plurality of switching devices is connected between each of the DUTs and the power source to selectively supply the test current. The controller controls the operation of the switching devices. The plurality of the DUTs is connected to one power source in parallel. And, the test current is applied to only one of the DUTs connected in parallel in response to the operation of the switching device.

Abstract translation: 目的：提供集成电路的并联测试装置，使得用户能够将从电源选择性地产生的最大电流提供给DUT（被测设备）以提高测试效率。 构成：集成电路的并联测试装置包括多个电源（VS1，VS2，VS3），多个开关装置（210,220,230,240）和控制器（180）。 多个电源向多个DUT提供测试电流。 多个开关器件连接在每个DUT和电源之间以有选择地提供测试电流。 控制器控制开关器件的工作。 多个DUT并联连接到一个电源。 并且，响应于开关装置的操作，测试电流仅被施加到并联连接的一个DUT。

公开(公告)号：KR1020050001770A

公开(公告)日：2005-01-07

申请号：KR1020030042062

申请日：2003-06-26

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 이성혁 ,  방정호 ,  오세종 ,  이지훈

IPC: H04W16/00

CPC classification number: H04L47/824 ,  H04L47/70 ,  H04L47/724 ,  H04L47/767 ,  H04L47/781 ,  H04W28/26 ,  H04W36/12 ,  H04W40/00 ,  H04W76/10

Abstract: PURPOSE: A resource reservation system and a resource reservation method under mobile network environment are provided to establish a new RSVP(Resource Reservation Protocol) in an access network only, through an FREE(Fast resource Reservation and Release) manager, thereby reducing a burden caused when intermediate routers of a core network manage an RSVP session. CONSTITUTION: When an MN(Mobile Node) is handed off as a receiver, a FREE manager(FM) transmits a path request message for opening a new path to plural adjacent ARs(Access Routers) if a FREE initialization message is received from the MN. If the MN reaches one of communication areas among the adjacent ARs, the FREE manager(FM) establishes the new path between the MN and the FREE manager through the adjacent ARs of the reached communication area according to the path request message.

Abstract translation: 目的：提供移动网络环境下的资源预留系统和资源预留方法，通过免费（快速资源预留和释放）管理器在接入网中建立新的RSVP（资源预留协议），从而减轻负担 当核心网的中间路由器管理RSVP会话时。 构成：当MN（移动节点）作为接收者切换时，如果从MN接收到免费初始化消息，则免费管理器（FM）向多个相邻的AR（接入路由器）发送用于打开新路径的路径请求消息 。 如果MN到达相邻AR之间的一个通信区域，则免费管理器（FM）根据路径请求消息通过到达的通信区域的相邻AR建立MN与FREE管理器之间的新路径。

公开(公告)号：KR100448190B1

公开(公告)日：2004-09-10

申请号：KR1020020003386

申请日：2002-01-21

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 방정호

IPC: G09G3/296

CPC classification number: G09G3/2965 ,  G09G2330/025 ,  G09G2330/04

Abstract: A plasma display panel apparatus includes a pair of discharge sustaining electrodes, a panel capacitor to supply charged voltage alternately to each electrode of the pair of discharge sustaining electrodes, a switching device for discharge that is turned on when the panel capacitor is discharged, to thereby pass through discharged current of the panel capacitor, a current sensing part to sense the current passed through by the switching device for discharge, and an over-current controlling part that turns off the switching device for discharge when the current sensed in the current sensing part is at or above a predetermined reference value. With this configuration, the plasma display panel apparatus protects the switching device from over-current generated during an abnormal driving of the discharge sustaining electrode driving circuit.

Abstract translation: 一种等离子体显示面板装置包括一对放电维持电极，用于交替地向该对放电维持电极中的每个电极提供充电电压的面板电容器，用于在面板电容器放电时导通的放电开关装置，从而由​​此 经过所述面板电容器的放电电流，电流感测部件，用于感测由所述开关装置通过以便放电的电流;以及过电流控制部件，当在所述电流感测部件中感测到的电流时关断用于放电的所述开关装置 等于或高于预定参考值。 利用这种配置，等离子体显示面板设备保护开关装置免受放电维持电极驱动电路的异常驱动期间产生的过电流的影响。

公开(公告)号：KR1020040021961A

公开(公告)日：2004-03-11

申请号：KR1020020053756

申请日：2002-09-06

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 방정호 ,  신경선 ,  박호순 ,  정애용

IPC: G01R31/28

Abstract: PURPOSE: A method for inspecting a semiconductor IC is provided to detect and remove an operational error of a test program by using an operating system to inspect a test device. CONSTITUTION: A method for inspecting a semiconductor IC includes a connection process, a compiling process, and an execution process. The connection process is to connect a test device to a host(S10). The compiling process is to compile a test program of the test device by using a complier of the host(S20). The complied test program of the test device is executed within the host(S30). The host includes an operating system. In addition, the host performs the compiling process and the execution process for the test program.

Abstract translation: 目的：提供一种用于检查半导体IC的方法，通过使用操作系统来检测和去除测试程序的操作错误来检查测试装置。 构成：用于检查半导体IC的方法包括连接处理，编译处理和执行处理。 连接过程是将测试设备连接到主机（S10）。 编译过程是通过使用主机的编译器编译测试设备的测试程序（S20）。 测试装置的编制测试程序在主机内执行（S30）。 主机包括一个操作系统。 此外，主机执行测试程序的编译过程和执行过程。

公开(公告)号：KR1020030092734A

公开(公告)日：2003-12-06

申请号：KR1020020030512

申请日：2002-05-31

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 방정호 ,  신경선 ,  김환석

IPC: G06F11/00

Abstract: PURPOSE: A data processing method is provided to process data, messages and events generated in a test step which is one among IC(Integrated Circuit) production steps. CONSTITUTION: The method comprises several steps. It is checked whether data, messages or events are stored at a common directory(S100). A type of the data stored at the common directory is detected(S110). The data type can be an alarm message, a tracking message, engineering data or production data. The data is stored at a directory corresponding to the detected type(S120). For example, if the data stored at the common directory is the alarm message, the data gets copied to an alarm directory.

Abstract translation: 目的：提供一种数据处理方法来处理在IC（集成电路）生产步骤之一的测试步骤中生成的数据，消息和事件。 构成：该方法包括几个步骤。 检查数据，消息或事件是否存储在公共目录中（S100）。 检测存储在公共目录中的数据的类型（S110）。 数据类型可以是报警消息，跟踪消息，工程数据或生产数据。 数据存储在与检测到的类型相对应的目录中（S120）。 例如，如果存储在公用目录中的数据是报警消息，则将数据复制到报警目录。

公开(公告)号：KR100408418B1

公开(公告)日：2003-12-06

申请号：KR1020010072985

申请日：2001-11-22

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 방광규 ,  신경선 ,  강상석 ,  주현욱 ,  방정호 ,  최호정

IPC: H01L21/82

CPC classification number: G11C17/14 ,  G11C29/785 ,  H01L23/5258 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/00

Abstract: A laser link structure used in semiconductor devices and a fuse box using the laser link structure preferably include a plurality of first conductive line patterns positioned in parallel at predetermined intervals, and a second conductive line pattern broadly formed on the plurality of first conductive line patterns for forming hole regions which link the second conductive line pattern to the plurality of first conductive line patterns. Preferably, at least one hole region is formed on each of the plurality of first conductive line patterns, and via holes are formed in the hole regions.

Abstract translation: 在半导体器件中使用的激光链接结构和使用激光链接结构的熔丝盒优选包括以预定间隔平行定位的多个第一导线图案以及广泛地形成在多个第一导线图案上的第二导线图案，用于 形成将第二导线图案连接到多个第一导线图案的孔区域。 优选地，在所述多个第一导线图案中的每一个上形成至少一个孔区域，并且在所述孔区域中形成通孔。