用于将光学组件重新聚焦的方法

    公开(公告)号:CN107873088A

    公开(公告)日:2018-04-03

    申请号:CN201580076750.X

    申请日:2015-12-22

    Inventor: 阿诺·德沃

    Abstract: 本发明涉及一种使用来源于短脉冲光源(2)的至少一个光束(fu)将光学机构重新聚焦在目标表面(100)上的方法,所述光学机构包括用于将所述光束(fu)聚焦在所述目标表面(100)上的至少一个光学器件(5),其中所述重新聚焦在知悉了所述光学机构被视为聚焦的参考条件(d1)之后发生。根据方法:检测聚焦信号,其表示由所述目标表面(100)反射的光束(fr)与不由所述目标表面(100)反射且从所述源(2)导出的参考光束(fref)之间的脉冲的时间叠加,所述光束中的一个由延迟线(14)延迟,基于所述参考条件,使得其上放置了所述延迟线(14)的所述光束的光学路径变化以导致所述聚焦信号到达或超过预定义阈值,以及基于对在参考条件(d1)与所述聚焦信号到达或超过所述预定义阈值的第二条件(d2)之间的光学路径的变化的知悉,重新调节所述聚焦。

    光电子装置
    75.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107532940A

    公开(公告)日:2018-01-02

    申请号:CN201680024713.9

    申请日:2016-04-29

    Abstract: 一种光电子装置,包括光电子半导体芯片、波长转换元件和检测器组件。光电子半导体芯片被设计为发射具有第一峰值波长的光。波长转换元件被设计为将由光电子半导体芯片发射的光转换为具有第二峰值波长的光。光电子装置被设计为发射具有第一峰值波长的光和具有第二峰值波长的光。第一峰值波长处于可见频谱范围中并且第二峰值波长处于非可见频谱范围中,或者,第一峰值波长处于非可见频谱范围中并且第二峰值波长处于可见频谱范围中。光电子装置意欲向目标区域中发射峰值波长处于非可见频谱范围中的光。检测器组件被设计为检测从目标区域反向散射且峰值波长处于非可见频谱范围中的光。

    降低损耗的谐振器
    79.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103988104B

    公开(公告)日:2017-09-19

    申请号:CN201280061656.3

    申请日:2012-10-09

    Abstract: 一种用于检测电磁辐射的设备包括:衬底上的波导和至少一个谐振器;以及在每个谐振器和衬底之间的低折射率区域。所述低折射率区域的折射率比谐振器的材料的折射率小。所述低折射率区域可以是环形的,其宽度可以与回音壁谐振模式下电磁辐射集中的区域的宽度相对应。所述低折射率区域可以是衬底和谐振器之间的空气间隙。所述设备可以是用于对电磁辐射的多个预定波长进行检测的光谱仪。

    原子吸收光度计及原子吸收测定方法

    公开(公告)号:CN107076666A

    公开(公告)日:2017-08-18

    申请号:CN201480083329.7

    申请日:2014-11-11

    Inventor: 杉原加寿雄

    CPC classification number: G01N21/3103 G01J3/10 G01J3/42 G01N2021/3111

    Abstract: 本发明提供一种一方面可抑制试样的消耗量、另一方面可在短时间内容易地进行使用多种方法的本底修正的原子吸收光度计及原子吸收测定方法。本发明根据1个数据获取周期内所获得的各测定期间(T41~T46)内的测定数据,通过D2灯法、塞曼法及自蚀法这各种方法来进行本底修正。使用第1~第3本底测定期间(T44、T46、T42)内所获得的各测定数据(本底数据)对原子吸收测定期间(T41)内所获得的共通的测定数据(原子吸收数据)进行本底修正。

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