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公开(公告)号：CN1625694A
公开(公告)日：2005-06-08
申请号：CN02828817.3
申请日：2002-04-25
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 中村浩人
CPC classification number: G01R31/2893
Abstract: 一种电子部件试验装置，在将被试验电子部件(20)搭载于电子部件输送介质(11、12、13)的状态下将被试验电子部件(20)的输入输出端子推压到测试头(100)的触头部(100a)进行测试；其中：具有测试头(100)和多个移动机构：该测试头(100)具有由触头部(100a)的集合构成的多个触头群(111、112、113)；该多个移动机构可独立地控制；各移动机构使搭载了被试验电子部件(20)的电子部件输送介质(11、12、13)移动到对应的各触头群(111、112、113)进行测试。
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公开(公告)号：CN1197286C
公开(公告)日：2005-04-13
申请号：CN01132538.0
申请日：2001-08-10
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: H04J13/02
CPC classification number: H04B17/327 , H04B17/23 , H04B2201/70703
Abstract: 本发明提供一种当解调具有不同扩展码长度的信道被多路复用到其上的信号时，用于显示各预定信道多信号物理量的物理量显示装置和方法，其中的装置包括：用于存储将被显示的显示对象信道和所述显示对象信道的所述扩展码长度的信道存储装置；用于计算所述显示对象信道物理量的物理量计算装置；用于显示所述显示对象信道的物理量的物理量显示装置；用于选择所述显示对象信道的任一信道的信道选择装置；以及不同类型物理量显示装置，用于在显示所述显示对象信道物理量的显示屏上的不同区域，显示被选择的显示对象信道中与所述物理量不同类型的不同类型物理量。
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公开(公告)号：CN1526075A
公开(公告)日：2004-09-01
申请号：CN02813836.8
申请日：2002-07-04
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 山下毅
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R31/2868 , G01R31/2867 , G01R31/2874
Abstract: 一种推杆30，由能够直接接触待测试的电子元件的推杆主体31和33，在推杆主体31、33上提供的热吸收及辐射体35，在推杆主体31上提供的、能够直接或者间接接触待测试的电子元件2加热器311，以及在推杆主体31、33和加热器311之间提供的绝热材料312组成。依照这种推杆30，能够执行对电子元件的温度控制，以便使电子元件接近用于测试的目标规定温度。
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公开(公告)号：CN1479873A
公开(公告)日：2004-03-03
申请号：CN01820180.6
申请日：2001-12-07
Applicant: 株式会社爱德万测试
CPC classification number: G01R31/2863 , G01R1/0408 , G01R1/0458 , G01R31/01
Abstract: 提供一种电子零件试验用插座以及应用此插座的电子零件试验装置。拟解决的问题是不使噪声进入施加给IC器件等电子零件的试验信号和从IC器件等电子零件读出的响应信号中，从而控制IC插座等电子零件试验用插座的温度，为了解决该课题，通过气体流出口65与气体流入口76使电子零件试验用插座底盘6的第一空间67与电子零件试验用插座7的插座主体内部空间75连通，同时通过气体流入口66与气体流出口77使电子零件试验用插座底盘6的第二空间68与电子零件试验用插座7的插座主体内部空间75连通。
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公开(公告)号：CN1138984C
公开(公告)日：2004-02-18
申请号：CN99117943.9
申请日：1999-08-20
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 小林义仁
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R31/2851 , G01R31/2893
Abstract: 本发明是一种将测试信号输入到要测试的电子元件里，根据其响应输出信号，判断电子元件好坏的电子元件的测试方法，在第一测试里，对多个电子元件组成的电子元件群的各电子元件A1、A2，输入共同的测试信号，根据其响应信号，判断该测试的电子元件群全体好坏。在第二测试(再检测)里，对于由第一测试工序判断为不合格的各测试电子元件，分别输入互相独立的测试信号，根据其响应信号，判断该测试的单个电子元件A1、A2的好坏。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1468377A
公开(公告)日：2004-01-14
申请号：CN01816675.X
申请日：2001-10-01
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 宫内康司
IPC: G01R23/173
CPC classification number: G01R23/173
Abstract: 例如，在频谱分析器中省略防止图像信号输入的预选择器，藉此预置测量频率范围之外的图像信号可以被抑制。中频Fi在预置测量频率范围内设置为从F1到F2。扫描该扫描信号的频率部分F1+Fi到F2+Fi以确定第一测量数据，扫描该扫描信号的频率部分F1－Fi到F2－Fi以确定第二测量数据。对于每一个被测频率点相互比较第一和第二测量数据。如果彼此相等，则输出数据；否则，输出最小数据值。因此，将获得测量数据而基于该图像信号的图像数据被抑制。
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公开(公告)号：CN1120501C
公开(公告)日：2003-09-03
申请号：CN98117469.8
申请日：1998-07-25
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 根本真
CPC classification number: G01R1/06705
Abstract: 一种测试头定位装置，操作性好，安全性高，且价廉。在测试头的相对的2个位置上分别设置气缸。其总驱动力与测试头重量大致相等，作为平衡器工作。升降机构分别设置在测试头的相对的侧部，由进给丝杠、与该进给丝杠螺接的2个可动螺母部件、一端安装在各可动螺母部件上的驱动杆、在各驱动杆上安装的从动杆构成各升降机构，利用一侧的进给丝杠的手动旋转，移动各可动螺母部件，使驱动杆和从动杆回转，从而使测试头升降。
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公开(公告)号：CN1109896C
公开(公告)日：2003-05-28
申请号：CN97181378.7
申请日：1997-12-02
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 桥本好弘
Abstract: 一种施加电压测定电流的装置及方法，向运算放大器的正相输入端子提供规定电压，向反相输入端子提供施加到负载上的电压，在所述运算放大器的输出端子和负载之间连接电流测定电阻器，测定该电流测定电阻器上产生的电压，在对所述负载施加规定电压的状态下，测定流过负载的电流，其中，与电流测定量程对应，串联连接多个电流测定电阻器，将电流旁路开关元件与各电流测定电阻器并联连接，在各电流测定电阻器上产生的电压超过规定值时，该电流旁路开关元件接通，依次自动测定各电流测定电阻器各端部上产生的电压，对各测定结果进行减法处理，算出各电流测定电阻器上产生的电压，由该算出结果选择某个包含在测定量程中的最佳值，求出流过负载的电流，该装置及方法能够不使用高精度的电阻器，以很好的精度，高速测定电流值。
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公开(公告)号：CN1103452C
公开(公告)日：2003-03-19
申请号：CN96112295.1
申请日：1996-08-04
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R1/06705
Abstract: 一种在高速运动中也能对IC器件进行高精度测量的IC处理器的测试部。相对IC处理器本体基座10a自由装卸地构成使IC测试器的测试头32与IC处理器的恒温室20结合的装配工具62，相对装配用具62自由装卸地构成装配IC插座导向件70。因此可将性能板35与IC插座的端子间的电气路径缩至极短，性能板35上也可直接装置IC插座。由于准备了对应于测试头的装配用具，则可使用所有类型测试头。
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公开(公告)号：CN1336554A
公开(公告)日：2002-02-20
申请号：CN01122028.7
申请日：2001-06-22
Applicant: 株式会社爱德万测试
CPC classification number: G01R31/2893 , G01R31/01 , G01R31/2851
Abstract: 本发明提供使被试验IC与接触部接触的接触臂,该接触臂备有保持头、浮动机构和流体压缸。上述保持头用于保持被试验电子零件。上述浮动机构,设在可接近或远离上述接触部的驱动机构与上述保持头之间,将保持头可摆动地支承在上述驱动机构上。上述流体压缸,设在上述驱动机构与上述保持头之间,调节从驱动机构对保持头的相对推压力。对一个保持头设有多个隔膜压缸。
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