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公开(公告)号：WO2011016607A1
公开(公告)日：2011-02-10
申请号：PCT/KR2009/007812
申请日：2009-12-24
Inventor： 유병소
CPC classification number: H01L21/67132 , G01R31/2635
Abstract: 본 발명의 목적은 대상물을 용이하게 픽업할 수 있는 픽업장치 및 이를 포함하는 엘이디 칩 분류장치를 제공하는 것이다. 이를 위해, 본 발명은 유지부재 상에 위치한 대상물을 픽업하기 위한 픽업장치에 있어서, 상기 유지부재의 하측에 설치되며, 유지부재를 향한 면에 홈이 형성되어 있는 지지부재; 상기 지지부재의 홈의 내측에서 상기 유지부재를 향하여 돌출되도록 설치되며, 상기 유지부재를 관통하여 상기 대상물을 지지할 수 있는 지지핀; 및 상기 대상물의 상측에 설치되며, 상기 대상물을 픽업하기 위한 픽커를 포함하며, 상기 지지부재의 홈에는 공기의 유출입을 위한 적어도 하나의 흡기공이 관통 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 픽업장치를 제공한다.
Abstract translation: 本发明的目的是提供一种能够容易地拾取目标物体的拾取装置和包括该拾取装置的LED芯片分级装置。 为了实现该目的，本发明提供一种用于拾取位于保持构件上的目标物体的拾取装置，包括：支撑构件，其安装在保持构件的下侧，并且形成有凹槽 在面对所述保持构件的表面上; 从所述支撑构件的所述槽的内侧朝向所述保持构件突出的支撑销，并且穿过所述保持构件来支撑所述目标物体; 以及拾取器，其安装在目标物体的上侧，并且拾取目标物体，其中至少一个用于空气的流入和流出的吸气孔被安装成穿过支撑构件的槽。
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公开(公告)号：WO2012091316A3
公开(公告)日：2012-07-05
申请号：PCT/KR2011/009451
申请日：2011-12-08
Inventor： 유병소
IPC: B23K26/073 , B23K26/42 , G02B26/00
Abstract: 본 발명은, 레이저 빔을 생성하는 레이저 광원, 및 상기 레이저 빔을 대상물의 내부로 유도하는 광학 유닛을 포함하는 레이저 가공 장치로서, 상기 광학 유닛은, 상기 레이저 빔의 발산각을 교정하는 빔 정형 모듈, 상기 레이저 빔을 회절시키는 회절격자, 및 상기 레이저 빔을 대상물의 내부로 집광하여 스폿을 형성시키는 집광렌즈를 포함하는 것을 특징으로 하는 레이저 가공 장치를 제공한다.
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公开(公告)号：WO2011099708A2
公开(公告)日：2011-08-18
申请号：PCT/KR2011/000559
申请日：2011-01-27
CPC classification number: G01R31/2887
Abstract: 본 발명은 회전 및 승강 모션의 동시 조절을 위한 단일 구동부를 구비한 회전장치에 관한 것으로, 회전 중심으로부터 외측으로 연장된 지지 프레임과, 지지프레임의 끝단에서 피검사체를 안착시키는 안착부재를 포함하는 검사테이블과, 전기적 신호를 인가 받아 회전력을 생성하는 구동부와, 검사테이블의 회전 중심 하부에 연결되어, 구동부로부터 회전력을 도입 받아 검사테이블의 단속적인 회전 및 승강 모션으로 변환하는 전동부재를 포함한다.
Abstract translation: 旋转装置技术领域本发明涉及具有用于同时调节旋转和升降运动的单个驱动部件的旋转装置，该旋转装置包括从旋转中心向外延伸的支撑框架， 控制单元连接到检查台的旋转中心的下部并且适于接收来自驱动单元的旋转力以将检查台转换成检查台的间歇旋转和升降运动， 。
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公开(公告)号：WO2010095809A3
公开(公告)日：2010-08-26
申请号：PCT/KR2009/007809
申请日：2009-12-24
Inventor： 유병소
Abstract: 본 발명의 목적은 엘이디 칩이 가지는 성능을 정확하게 측정할 수 있는 엘이디 칩 테스트장치를 제공하는 것이다. 이를 위해 본 발명은, 엘이디 칩의 특성을 측정하는 엘이디 칩 테스트장치에 있어서, 상기 엘이디 칩을 지지하며, 상기 엘이디 칩의 특성을 측정하는 테스트위치로 상기 엘이디 칩을 회전시키는 회전부재; 및 상기 회전부재의 옆에 설치되며, 상기 테스트위치에서 상기 엘이디 칩의 특성을 측정하는 테스트부를 포함하는 것을 특징으로 하는 엘이디 칩 테스트장치를 제공한다.
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公开(公告)号：WO2018151581A1
公开(公告)日：2018-08-23
申请号：PCT/KR2018/002082
申请日：2018-02-20
Applicant: (주)큐엠씨
Abstract: 본 발명은 레이저 스크라이빙 장치에 대한 것으로서, 레이저 빔을 출력하는 레이저 광원, 상기 레이저 빔을 제 1 레이저 빔 및 제 2 레이저 빔으로 분할하는 스플리터, 상기 제1 레이저 빔 또는 제2 레이저 빔 경로상에서 발산각을 조절하는 빔 익스펜더 텔레스코프, 상기 제1 레이저 빔 및 제2 레이저 빔을 결합하는 빔 컴바이너, 및 상기 빔 컴바이너에 의하여 결합된 제 1 레이저 빔 및 제 2 레이저 빔을 집광하는 집광 렌즈를 포함한다. 이때, 상기 제 1 레이저 빔 및 제 2 레이저 빔의 초점 거리가 상이한 것을 특징으로 한다.
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：WO2013002503A3
公开(公告)日：2013-01-03
申请号：PCT/KR2012/004793
申请日：2012-06-18
Abstract: 발광 다이오드의 제조 방법으로서, 기판의 일면에 반사막이 형성된 발광 다이오드를 마련하는 공정, 상기 반사막의 일부를 제거하여 기판의 일부 영역을 노출시키는 공정, 및 상기 노출된 기판의 일부 영역을 통해 상기 기판의 내부에 레이저 빔을 집광시킴으로써 상기 기판을 스크라이빙(scribing)하는 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 발광 다이오드의 제조 방법을 제공한다.
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公开(公告)号：WO2010095810A2
公开(公告)日：2010-08-26
申请号：PCT/KR2009/007811
申请日：2009-12-24
Inventor： 유병소
CPC classification number: G01R31/2635 , G01R31/2893
Abstract: 본 발명의 목적은 엘이디 칩이 가지는 성능을 정확하게 테스트하고, 테스트된 엘이디 칩을 분류할 수 있는 엘이디 칩 분류장치를 제공하는 것이다. 이를 위해 본 발명은, 엘이디 칩의 특성을 측정하여 엘이디 칩을 분류하는 엘이디 칩 분류장치에 있어서, 상기 엘이디 칩이 안착되는 안착부재를 포함하며, 상기 안착부재에 엘이디 칩이 로딩되는 로딩위치와, 상기 엘이디 칩이 테스트되는 테스트위치와, 상기 안착부재로부터 상기 엘이디 칩이 언로딩되는 언로딩위치로 상기 안착부재를 회전시키는 공급부; 상기 공급부의 옆에 설치되며, 상기 로딩위치에서 상기 안착부재로 테스트될 엘이디 칩을 공급하는 로딩부; 상기 공급부의 옆에 설치되며, 상기 테스트위치에서 상기 엘이디 칩의 특성을 측정하는 테스트부; 및 상기 공급부의 옆에 설치되며, 상기 언로딩위치에서 상기 안착부재로부터 테스트된 엘이디 칩을 수거하는 언로딩부를 포함하는 것을 특징으로 하는 엘이디 칩 분류장치를 제공한다.
Abstract translation: 本发明旨在提供一种能够准确地测试LED芯片的性能并对这些测试的LED芯片进行分类的LED芯片分类装置。 为此，本发明提供了一种用于测量LED芯片的性能，然后对LED芯片进行分类的LED芯片分类装置，该装置包括：供给部分，其包括用于其上的LED芯片的座部件，供给部分使 将座椅构件安装到LED芯片被装载到座椅构件的加载位置，到测试LED芯片的测试位置和LED芯片从座椅构件卸载的卸载位置; 装载部分安装在供应部分旁边，以将待测试的LED芯片从装载位置传送到座椅部件; 测试部分安装在供应部分旁边，以测量LED芯片在测试位置的属性; 以及安装在供应部分旁边的卸载部分，以便在卸载位置从座椅构件收集被测试的LED芯片。
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公开(公告)号：KR102042100B1
公开(公告)日：2019-11-07
申请号：KR1020180028864
申请日：2018-03-12
Applicant: (주)큐엠씨
Inventor： 유병소
IPC: H01L21/67 , H01L21/677
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公开(公告)号：KR1020180096070A
公开(公告)日：2018-08-29
申请号：KR1020170022268
申请日：2017-02-20
Applicant: (주)큐엠씨
CPC classification number: G02B5/30 , G02B26/02 , G02B27/14 , G02B27/28 , H01L21/268 , H01L21/76 , H01L21/78 , H01S3/10 , H01S3/10061 , G02B27/141 , G02B27/283
Abstract: 본발명은레이저스크라이빙장치에대한것으로서,. 레이저빔을출력하는레이저광원, 상기레이저빔을제1 레이저빔 및제2 레이저빔으로분할하는스플리터, 상기스플리터에의하여분할된제2 레이저빔의편광방향을 90도회전하는제1 파장판, 상기제1 레이저빔 또는제2 레이저빔 경로상에서발산각을조절하는빔 익스펜더텔레스코프, 상기제1 레이저빔 및제2 레이저빔을결합하는빔 컴바이너, 및상기빔 컴바이너에의하여결합된제1 레이저빔 및제2 레이저빔을집광하는집광렌즈를포함한다. 이때, 상기제1 레이저빔 및제2 레이저빔의초점거리가상이한것을특징으로한다.
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公开(公告)号：KR1020140059874A
公开(公告)日：2014-05-19
申请号：KR1020120125411
申请日：2012-11-07
Applicant: (주)큐엠씨
Abstract: The present invention relates to an electronic component inspection and classification device for classifying electronic components by characteristic after inspecting the electronic components. The electronic component classification device according to an embodiment quickly and accurately performs a task of classifying the electronic components by classifying the electronic components into groups in a lump.
Abstract translation: 本发明涉及一种电子部件检查和分类装置，用于在检查电子部件之后通过特性对电子部件进行分类。 根据实施例的电子部件分类装置通过将电子部件分组成一组而快速且准确地执行对电子部件进行分类的任务。
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