Cu-Ni合金溅射靶
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111936660A

    公开(公告)日:2020-11-13

    申请号:CN201980022696.9

    申请日:2019-04-17

    Abstract: 本发明提供一种Cu‑Ni合金溅射靶,其包含Ni,且其余部分由Cu和不可避免的杂质组成,其中,当将在相邻的晶粒之间的取向差在5°以上且180°以下的范围内的晶粒之间所形成的晶界的长度设为总晶界长度L,并将使面心立方晶格的(111)面及(110)面作为旋转轴旋转的情况下分别确认到3个晶格点的取向差的晶界的长度设为孪晶晶界长度LT时,由LT/L×100定义的孪晶比率在35%以上且65%以下的范围内。

    圆筒型溅射靶及其制造方法

    公开(公告)号:CN110337507A

    公开(公告)日:2019-10-15

    申请号:CN201880012802.0

    申请日:2018-04-03

    Abstract: 本发明提供一种圆筒型溅射靶及其制造方法,本发明的圆筒型溅射靶的制造方法包括:基底处理工序,在作为圆筒型靶(2)的接合面的内周面和作为圆筒型衬管(3)的接合面的外周面中的至少一方涂布基底处理接合材料以形成基底处理层(11);及接合工序,在基底处理工序之后,将填充用接合材料填充到圆筒型靶(2)与插入到该圆筒型靶内的衬管(3)之间的间隙并进行固化,基底处理接合材料的熔点或固相线温度超过填充用接合材料的熔点或固相线温度。

    硅部件及硅部件的制造方法
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119110983A

    公开(公告)日:2024-12-10

    申请号:CN202380029070.7

    申请日:2023-03-30

    Abstract: 该硅部件(10)具备由含Si材料构成的多个板状部件(11,12),板状部件(11,12)在厚度方向上接合,在板状部件(11,12)彼此之间形成有接合层(20),接合层(20)中的Si相的面积率为12%以下。优选接合层(20)中的Si相的纵横比为3.0以下。

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