Abstract:
PURPOSE: A CMP apparatus having an insertion pad for forming a local pad is provided to improve dispersion of polishing rates on a wafer by forming selectively the local step on an upper surface of a polishing pad assembly. CONSTITUTION: A platen(12) is rotatable. A polishing pad assembly(20) is arranged on an upper surface of the platen. An insertion pad(30) is inserted between the platen and the polishing pad in order to form selectively a local step on an upper surface of the polishing pad assembly. The polishing pad assembly is formed with a soft polishing pad and a hard polishing pad. The insertion pad is a film having a predetermined thickness and the film is formed with a reinforced material. A thickness of the insertion pad is 0.5 to 300mm.
Abstract:
PURPOSE: A polishing pad and a CMP(Chemical Mechanical Polishing) apparatus having the same are provided to be capable of preventing the generation of surface scratch at a window for reducing the noise contained in the light reflected from a substrate. CONSTITUTION: A polishing pad(202) is provided with a window(204), the second groove(204a) formed at the center portion of the window, a plurality of circular type first grooves(202a) spaced apart from each other, and the third groove(204b) formed at the peripheral portion of the window for connecting the first grooves with the second groove. At this time, light is supplied to the surface of a substrate through the second groove. Preferably, the first, second, and third groove have the same depth with each other.
Abstract:
화학 기계적 연마(CMP) 공정에서, 웨이퍼의 마이크로 스크래치를 억제할 수 있는 CMP 장비의 슬러리 공급 장치 및 이를 이용한 슬러리 공급 배관의 세정방법에 관하여 개시한다. 이를 위하여 본 발명은, 슬러리를 혼합하여 공급하는 슬러리 탱크와, 상기 슬러리 탱크에 연결되어 CMP 장비의 연마패드로 슬러리(slurry)를 공급할 수 있는 제1 슬러리 공급 배관과, 상기 제1 슬러리 공급배관과 연결되고 CMP 장비의 연마패드로 슬러리를 공급할 수 있는 제2 슬러리 공급 배관과, 상기 제1, 2 슬러리 공급 배관과 연결되는 수산화 칼륨 공급 배관을 포함하는 수산화 칼륨 탱크와, 상기 수산화 칼륨 공급 배관 및 제1, 제2 슬러리 공급배관에 설치되어 제1, 제2 슬러리 공급 배관에 수산화 칼륨을 택일적으로 공급할 수 있고, 제1, 제2 슬러리 공급 배관에서 CMP 장비의 연마패드로 슬러리를 택일적으로 공급할 수 있는 3 방향 밸브를 구비하는 것을 특징으로 하는 CMP 장비의 슬러리 공급 장치 및 이를 이용한 슬러리 공급배관의 세정 방법을 제공한다.
Abstract:
In a semiconductor device including an insulating structure and a manufacturing method thereof, the semiconductor device has, in a substrate divided into a first region and a second region, a first pattern structure of a first height in the substrate of the first region. In the substrate of the second region, a second pattern structure of a second height which is higher than the first height is formed. On the substrate, included is an insulating structure which includes a protruding filler pattern which has an upper surface which is higher than the upper surface of the first pattern structure, has a shape which covers the first and the second pattern structure, and has at least one step-shaped sidewall on the boundary part of the first and second regions. The insulating structure has a structure for easy planarization due to polishing.
Abstract:
A method of manufacturing a phase-change memory device is provided to unify a contact area of a first electrode contacting a tungsten pattern by polishing an upper surface of the tungsten pattern. A tungsten layer, an amorphous carbon layer pattern, a mask pattern having a photoresist pattern are formed on a substrate(100). The tungsten layer is etched by using the mask pattern to form a tungsten pattern(128), and then the mask pattern is removed. A first insulating layer is formed on the tungsten pattern to bury a gap between the tungsten patterns, and then the first insulating layer and the tungsten pattern are planarized. A second insulating layer is formed on the first insulating layer and the tungsten pattern. A first electrode(136) is formed to embed an opening of the second insulating layer, and then a phase-change material layer and a second electrode(142) are formed on the first electrode.
Abstract:
An apparatus of attaching a polishing pad is provided to install a table contact body, a support for the table contact body and a pad supporting member on which the polishing pad is mounted such that the attachment precision of the polishing pad is improved. An apparatus(200) of attaching a polishing pad comprises a table contact body(210), a plurality of supports(220) for supporting the table contact body and a pad supporting member(230). The table contact member makes contact with a side of a rotation table(130). The support is provided on the table contact body such that the support vertically moves with respect to the table contact body. The pad supporting member is detachably installed on the table contact body. A polishing pad is mounted on the pad supporting member.
Abstract:
본 발명은 반도체소자 제조공정에서 설비의 가동을 중단시키지 않고 플래튼이 아이들(IDLE) 상태에서 웨이퍼표면에 형성된 금속층을 평탄화하기 위한 폴리싱패드의 교체를 교체가능하도록 하는 반도체 웨이퍼 폴리싱장치의 플래튼 구조 및 그 플래튼에 고정되는 폴리싱패드 교체방법에 관한 것이다. 웨이퍼 폴리싱장치에서 플래튼에 형성되어 있는 폴리싱패드를 편리하게 교체할 수 있고, 교체시간을 줄이기 위한 본 발명의 폴리싱장치의 플래튼 구조는, 웨이퍼를 폴리싱하기 위한 폴리싱패드가 부착된 패드플레이트와, 상기 패드플레이트와 결합되는 플래튼 본체와, 상기 플래튼 본체에 형성되어 진공통로를 제공하는 적어도 하나 이상의 진공홀을 포함한다. 웨이퍼 폴리싱, 폴리싱패드, 폴리싱패드 교체, 패드플레이트, 플래튼
Abstract:
웨이퍼를 연마하여 평탄화하기 위한 연마 패드 어셈블리, 이를 갖는 웨이퍼 연마 장치 그리고 이들을 이용한 웨이퍼 연마 방법에서 연마 패드는 적어도 세 부분으로 나누어지고, 모든 부분이 동일한 방향으로 회전하면서 상기 웨이퍼를 연마한다. 상기 연마 패드는 적어도 한 부분이 나머지 부분과 다른 속도를 가지고 회전한다. 또한 상기 웨이퍼는 상기 연마 패드의 서로 속도가 다른 부분 사이 왕복 이동하면서 연마된다. 따라서 상기 웨이퍼의 연마시 연마 균일도를 향상시킬 수 있다.
Abstract:
PURPOSE: A slurry supply apparatus is provided to be capable of preventing generation of a pulsation phenomenon in supplying slurry and uniformly supplying the slurry. CONSTITUTION: A slurry supply apparatus(100) is provided with a circulation pipe(110) for circulating slurry, a cylinder(120) connected with the circulation pipe for storing the slurry, and the first piston(124) for dividing the inner portion of the cylinder into the first region connected with the circulation pipe and the second region connected with a supply pipe. At this time, the first piston includes the first through hole for connecting the first region with the second region. The slurry supply apparatus further includes the second piston(126) connected with one side of the first piston for switching the first through hole and a driving part(150) connected with the first and second piston for controlling the first and second piston. Preferably, the first and second piston have the same shape with each other.