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公开(公告)号：KR102224924B1
公开(公告)日：2021-03-08
申请号：KR1020140164693A
申请日：2014-11-24
Applicant: 삼성전자주식회사 , 한양대학교 에리카산학협력단
Abstract: 차동 출력을 갖는 델타-시그마 모듈레이터가 개시된다. 상기 델타-시그마 모듈레이터는, 비 반전 적분 신호와 반전 적분 신호를 생성하는 스위치드-커패시터 적분기를 포함한다. 상기 스위치드-커패시터 적분기는, 제어 신호에 응답하여 입력 신호를 샘플링하고, 상기 제어 신호에 응답하여 상기 입력 신호 및 피드백 신호를 적분 커패시터터를 통해 적분하는 스위치드-커패시터 회로와, 상기 피드백 신호를 생성하는 피드백 회로를 포함할 수 있다.
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公开(公告)号：KR101845512B1
公开(公告)日：2018-04-04
申请号：KR1020110079727
申请日：2011-08-10
Applicant: 삼성전자주식회사
Inventor： 정영재
CPC classification number: G06F9/24 , G06F9/4401
Abstract: 메모리시스템의초기화방법이제공된다. 상기메모리시스템의초기화방법은초기화신호를수신하고, 상기초기화신호를수신받아초기화데이터를이용한제 1 초기화동작을수행하고, 상기제 1 초기화동작에의해동작대기신호가활성화되지않으면강제초기화모드를설정하고, 상기강제초기화모드의설정에따라상기초기화데이터를사용하지않는제 2 초기화동작을수행한다.
Abstract translation: 提供了一种初始化存储器系统的方法。 存储器系统的初始化方法可以包括接收初始化信号，接收初始化信号，使用初始化数据执行第一初始化操作，并且如果操作待机信号未被第一初始化操作激活，则设置强制初始化模式 并且根据强制初始化模式的设置执行初始化数据未被使用的第二初始化操作。
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公开(公告)号：KR1020160061808A
公开(公告)日：2016-06-01
申请号：KR1020140164693
申请日：2014-11-24
Applicant: 삼성전자주식회사 , 한양대학교 에리카산학협력단
Abstract: 차동출력을갖는델타-시그마모듈레이터가개시된다. 상기델타-시그마모듈레이터는, 비반전적분신호와반전적분신호를생성하는스위치드-커패시터적분기를포함한다. 상기스위치드-커패시터적분기는, 제어신호에응답하여입력신호를샘플링하고, 상기제어신호에응답하여상기입력신호및 피드백신호를적분커패시터터를통해적분하는스위치드-커패시터회로와, 상기피드백신호를생성하는피드백회로를포함할수 있다.
Abstract translation: 公开了具有差分输出的Δ-Σ调制器。 Δ-Σ调制器包括产生非反相积分信号和反相积分信号的开关电容积分器。 开关电容积分器可以包括：开关电容器电路，其响应于控制信号对输入信号进行采样，并响应于控制信号经由积分电容器对输入信号和反馈信号进行积分; 以及产生反馈信号的反馈电路。
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公开(公告)号：KR1020120048874A
公开(公告)日：2012-05-16
申请号：KR1020100110304
申请日：2010-11-08
Applicant: 삼성전자주식회사
CPC classification number: G11C29/12 , G06F11/27 , G11C29/16 , G11C29/48 , G11C2029/0401 , G06F13/14
Abstract: PURPOSE: A memory card which inserts a test firmware to a controller is provided to perform a memory test in a state that the memory is not connected to an external device by inserting self-test firmware to a controller. CONSTITUTION: A memory cell(12) records data. A connector(14) is connected to an external device and transmits/receives a signal including a command and data. A controller(11) switches a signal with the connector and analyzes the received signal. The controller accesses the memory cell according to an analysis result. A firmware(13) controls an operation of the controller and is set up in a test or user mode.
Abstract translation: 目的：提供将测试固件插入控制器的存储卡，以通过将自检固件插入控制器，在存储器未连接到外部设备的状态下执行存储器测试。 构成：存储单元（12）记录数据。 连接器（14）连接到外部设备，并发送/接收包括命令和数据的信号。 控制器（11）用连接器切换信号并分析接收到的信号。 控制器根据分析结果访问存储单元。 固件（13）控制控制器的操作，并以测试或用户模式进行设置。
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5.发明授权다중 반사 방지층을 포함한 반도체 구조물 및 그 구조물을이용한 ＰＲ 패턴 형성 방법 및 반도체 소자의 패턴 형성방법 失效包括多个抗反射层的半导体结构，使用该结构形成PR图案的方法以及半导体元件的图案形成方法
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR1020130082374A
公开(公告)日：2013-07-19
申请号：KR1020120003561
申请日：2012-01-11
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: H01L21/336 , H01L29/78
CPC classification number: H01L29/66825 , H01L21/28273 , H01L29/788
Abstract: PURPOSE: A method for manufacturing a semiconductor device is provided to prevent the characteristic deterioration of the semiconductor device by suppressing byproducts through dual protection patterns when conductive films are etched. CONSTITUTION: A first insulation film (101), a first conductive film (102), a dielectric film (103), a metal film, and a hard mask film are successively formed on a substrate (100). A hard mask pattern (116) is formed by patterning the hard mask film. A metal gate electrode (105a) with an exposed side is formed by patterning the metal film. A first protection film is formed on the exposed side of the metal gate electrode. A second gate electrode (104a) with an exposed side is formed by patterning a second conductive film. A second protection film (108) is formed on the exposed side of the second gate electrode.
Abstract translation: 目的：提供一种制造半导体器件的方法，用于通过在蚀刻导电膜时通过双重保护图案抑制副产物来防止半导体器件的特性劣化。 构成：在基板（100）上依次形成第一绝缘膜（101），第一导电膜（102），电介质膜（103），金属膜和硬掩模膜。 通过图案化硬掩模膜形成硬掩模图案（116）。 通过图案化金属膜形成具有暴露侧的金属栅电极（105a）。 第一保护膜形成在金属栅极的暴露侧上。 通过图案化第二导电膜形成具有暴露侧的第二栅电极（104a）。 第二保护膜（108）形成在第二栅电极的暴露侧上。
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公开(公告)号：KR1020130017348A
公开(公告)日：2013-02-20
申请号：KR1020110079727
申请日：2011-08-10
Applicant: 삼성전자주식회사
Inventor： 정영재
CPC classification number: G06F9/24 , G06F9/4401
Abstract: PURPOSE: An initializing method of a memory system is provided to resolve recognition failure in a user environment by performing a second initializing operation without initializing data when an operation standby signal is not initialized by a first initializing operation with the initializing data. CONSTITUTION: A boot code stored in a boot memory of a controller is executed according to the reception of an initializing signal(S120). Initializing data stored in a non-volatile memory device is loaded to an operating memory of the controller according to the execution of the boot code(S140). The initializing data loaded to the operating memory is executed(S150). When an operation standby signal is not activated by the execution of the initializing data, the boot code is re-executed(S180). The initializing data stored in the non-volatile memory device is deleted. New initializing data is updated in the non-volatile memory device and the updated initializing data is loaded to the operating memory(S210). [Reference numerals] (AA) Start; (BB) End; (S110) Receiving an initializing signal; (S120) Executing a boot code; (S130) Confirming initializing data?; (S140) Loading the initializing data in an operating memory; (S150) Executing the initializing data; (S160) Enabling a standby signal?; (S170) FRM setting; (S180) Re-executing the boot code; (S190) Initializing a non-volatile memory device; (S200) Updating the initializing data; (S210) Loading the updated initializing data in the operating memory; (S220) Executing the updated initializing data
Abstract translation: 目的：提供一种存储器系统的初始化方法，用于通过执行第二初始化操作来解决用户环境中的识别失败，而在初始化数据的初始化操作未初始化操作待机信号时，不初始化数据。 构成：根据初始化信号的接收，执行存储在控制器的引导存储器中的引导代码（S120）。 存储在非易失性存储器件中的数据的初始化根据引导代码的执行被加载到控制器的操作存储器（S140）。 执行加载到操作存储器的初始化数据（S150）。 当通过执行初始化数据未激活操作待机信号时，重新执行引导代码（S180）。 存储在非易失性存储器件中的初始化数据被删除。 在非易失性存储器件中更新新的初始化数据，并将更新的初始化数据加载到操作存储器（S210）。 （附图标记）（AA）开始; （BB）结束; （S110）接收初始化信号; （S120）执行引导代码; （S130）确认初始化数据？ （S140）将初始化数据加载到操作存储器中; （S150）执行初始化数据; （S160）启用待机信号？ （S170）FRM设定; （S180）重新执行引导代码; （S190）初始化非易失性存储器件; （S200）更新初始化数据; （S210）将更新的初始化数据加载到操作存储器中; （S220）执行更新的初始化数据
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公开(公告)号：KR100567623B1
公开(公告)日：2006-04-04
申请号：KR1020040042021
申请日：2004-06-09
Applicant: 삼성전자주식회사
Inventor： 정영재
Abstract: 반도체 기판을 신속하게 검사하여 이를 가공 공정에 바로 적용하기 위한 가공 방법 및 가공 장비에 있어서, 반도체 기판들을 해당 가공 장비에 로딩 후, 샘플링 검사의 필요여부를 판단한다. 샘플링 검사가 필요 시, 샘플 반도체 기판을 선택하여 초기 상태를 측정한 후, 시험 가공 공정을 수행한다. 이후, 해당 가공 장비 내부에 배치된 검사 장치에서 샘플 반도체 기판을 검사하고, 검사 결과를 실시간으로 제어부에 제공하여 주 가공 공정의 진행 여부 및 추가 검사 공정의 진행 여부를 판단한다. 이 경우, 검사 유닛은 프로세스 챔버와 선택적으로 연통되며, 제어부는 검사 유닛으로부터 검사 결과를 실시간으로 제공받아 가공 공정을 제어한다. 본 발명에 의하면, 검사소요 시간을 최대한 단축할 수 있으며, 검사 결과를 바로 가공 공정에 반영함으로써 생산수율을 극대화할 수 있다.
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公开(公告)号：KR100457844B1
公开(公告)日：2004-11-18
申请号：KR1020020050942
申请日：2002-08-27
Applicant: 삼성전자주식회사
Inventor： 정영재
IPC: H01L21/3065
CPC classification number: H01J37/321 , H01L21/28123 , H01L21/31116 , H01L21/32136 , H01L21/32137
Abstract: Disclosed is an etching method for semiconductor processing by which a pattern loading phenomenon is reduced. First, plasma is generated while setting a bias power applied to a wafer to zero and applying a source power. After a predetermined time period, an etching process is implemented onto a predetermined layer formed on the wafer by setting the bias power to a predetermined value. Since by-products generated during preceding etching processes can be readily removed during an etching using plasma, an etching process change due to a difference of pattern densities can be reduced. In addition, a progressive pattern loading generated as the number of processed wafers increase, can be prevented.
Abstract translation: 公开了一种用于半导体加工的蚀刻方法，通过该方法降低了图案加载现象。 首先，将施加到晶片的偏置功率设置为零并施加源功率，同时产生等离子体。 在预定时间段之后，通过将偏压功率设置为预定值，在形成在晶片上的预定层上实施蚀刻工艺。 由于在之前的蚀刻过程中产生的副产物可以在使用等离子体的蚀刻期间容易地去除，所以可以减少由于图案密度的差异而引起的蚀刻过程变化。 另外，可以防止随着处理晶片的数量增加而产生的渐进式图案加载。
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公开(公告)号：KR101806807B1
公开(公告)日：2017-12-11
申请号：KR1020100110304
申请日：2010-11-08
Applicant: 삼성전자주식회사
CPC classification number: G11C29/12 , G06F11/27 , G11C29/16 , G11C29/48 , G11C2029/0401
Abstract: 메모리카드가제공된다. 본발명의일 실시예에따른메모리카드는데이터를기록및 저장할수 있으며, 복수의상태로전환가능한메모리셀과, 외부장치와연결가능하며, 상기외부장치와커맨드및 데이터를포함하는신호를송수신할수 있는커넥터과, 상기커넥터와신호를교환하며, 수신된신호를분석하고그 분석결과에따라상기메모리셀에접근하여데이터를기록, 조회및 변경하는컨트롤러와, 상기컨트롤러의내부에배치되는메모리영역으로서상기컨트롤러의동작을제어하고, 테스트모드또는유저모드로설정가능한펌웨어를포함하되, 상기펌웨어가테스트모드로설정된경우상기외부장치로부터테스트커맨드를수신하면상기메모리셀의불량검사를수행하고상기불량검사가종료되면상기커넥터를통해상기외부장치로불량검사결과를송출한다.
Abstract translation: 提供存储卡。 根据本发明的一个实施例的存储卡能够记录和存储数据，且可连接与存储单元和可切换的多个状态的外部设备，能够发送和接收信号，包括所述外部设备和所述命令和数据 一种控制器，用于与连接器交换信号，分析接收到的信号，根据分析结果访问存储器单元，以及记录，查询和改变数据;以及控制器 并且可以控制控制器的操作并且可以设置为测试模式或用户模式的固件，当固件设置为测试模式时，如果从外部设备接收到测试命令， 检查完成后，通过连接器将缺陷检查结果传送到外部设备。
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