수직형 메모리 장치
    3.
    发明公开
    수직형 메모리 장치 审中-实审
    垂直记忆装置

    公开(公告)号:KR1020170049886A

    公开(公告)日:2017-05-11

    申请号:KR1020150150764

    申请日:2015-10-29

    CPC classification number: H01L27/11582 H01L23/5283 H01L27/1157 H01L27/11575

    Abstract: 수직형메모리장치는기판, 기판의상면에대해수직방향으로연장하는복수의채널들, 각각복수의채널들중 소정의개수의채널들을감싸며수직방향및 수평방향을따라서로이격되도록배열되는복수의게이트라인들, 게이트라인들중 동일레벨의게이트라인들과전기적으로연결되는공통배선들, 및공통배선들을통해게이트라인들에전기적으로연결되는신호배선들을포함한다.

    Abstract translation: 垂直型存储器装置包括多个被布置沿所述多个信道来间隔开门,多个每个周围的方向上延伸的通道的一预定数目的信道的垂直和水平方向垂直于所述衬底的上表面上, 与栅极线中的相同电平的栅极线电连接的公共布线以及通过公共布线电连接到栅极线的信号布线。

    비휘발성 메모리 장치 및 비휘발성 메모리 장치의 프로그램 방법
    4.
    发明公开
    비휘발성 메모리 장치 및 비휘발성 메모리 장치의 프로그램 방법 审中-实审
    非易失性存储器件和非易失性存储器件的编程方法

    公开(公告)号:KR1020170085776A

    公开(公告)日:2017-07-25

    申请号:KR1020160005322

    申请日:2016-01-15

    Abstract: 본발명에따른비휘발성메모리장치의프로그램방법은, 선택된워드라인의메모리셀들에적어도둘 이상의프로그램루프들을수행하는단계, 상기프로그램루프들각각을수행한결과를이용하여페일비트트렌드(Fail Bit Trend)를생성하는단계, 상기페일비트트렌드를이용하여상기메모리셀들에마지막으로수행될제 N 프로그램루프를포함하는복수의프로그램루프들을예측하는단계및 상기예측결과를기반으로상기제 N 프로그램루프수행시에상기메모리셀들에제공되는제 N 프로그램전압레벨을변경하는단계를포함한다.

    Abstract translation: 根据本发明的用于对非易失性存储器件进行编程的方法包括以下步骤:在选定的字线的存储器单元中执行至少两个编程循环;生成失败位趋势 使用故障位趋势估计包括要在存储器单元中最后执行的第N个编程循环的多个编程循环,并且基于预测结果执行第N编程循环 并且第二次改变提供给存储器单元的第N编程电压电平。

Patent Agency Ranking