Abstract:
전자 장치가 소재의 전자 구조를 예측하는 방법의 일 실시예는, 상기 제1 소재를 구성하는 원소들에 관련된 사용자의 입력 데이터를 수신하는 단계, 상기 수신된 입력 데이터를, 상기 제1 소재의 상태 밀도를 추정하기 위한 학습 모델에 적용하는 단계 및 상기 학습 모델로부터 출력되는 상기 제1 소재의 에너지 준위 별 상태 밀도를 나타내는 제1 그래프를 출력하는 단계를 포함하며, 상기 학습 모델은, 상기 제1 소재를 구성하는 복수의 원소들 중 적어도 일부로 구성된 복수의 제2 소재들에 대한 기 입력된 데이터 및 상기 복수의 제2 소재들 각각의 에너지 준위 별 상태 밀도를 나타내는 복수의 제2 그래프에 기초하여, 상기 제1 그래프를 생성하도록 학습된 것일 수 있다.
Abstract:
According to an embodiment of the present invention, a method of manufacturing a low-reflection surface body (30) includes a first step of preparing material (10) including a column structure (11) at a surface; a second step of preparing aluminum surface-material (20) by processing the column structure (11) to have an aluminum film (21); and a third step of oxidizing the aluminum surface-material (20) to form a nanoflake layer (31) to manufacture a low-reflection surface body (30) having a dual projection structure (33). The method of manufacturing the low-reflection surface body (30) totally and internally reflects and absorbs wavelengths in ranges of visible ray and infrared ray regions to provide the low-reflection surface body (30) which is a surface able to remarkably reduce reflection rate and can be applied in a surface of a photovoltaic element or surface processing of various displays by a simple, low-cost, and eco-friendly process.
Abstract:
Disclosed are a multi-dimensional virtual experimental apparatus for designing a nanodevice and a method for the same. The disclosed multi-dimensional virtual experimental apparatus for designing a nanodevice includes a virtual sample determining part for determining a virtual experimental material for designing a nanodevice; a virtual process experimental part for applying at least one process to the virtual experimental material determined by the virtual sample determining part; and a virtual process analyzing part for analyzing each process result applied to the virtual experimental material in the virtual process experimental part. The virtual process analyzing part further includes a multi-level analyzing part for analyzing the process result based on one or more particle levels.