Abstract:
본 발명은 발아율을 이용한 품질측정 시스템에 관한 것으로, 쌀 시료들이 정렬되는 시료 정렬부와, 상기 시료 정렬부상에서 쌀 시료들에 자외선, 가시광 및 근적외선 대역의 파장범위를 갖는 광을 조사하는 하나 이상의 광원과, 상기 광원에서 조사된 광이 쌀 시료들에 의해 반사되어 나오는 서로 다른 대역의 반사광 스펙트럼을 검출하기 위한 센서들을 포함하는 분광 측정부와, 상기 센서들로부터 출력되는 반사광 스펙트럼을 비교 분석하여 발아율 측정정도를 높이기 위하여 측정된 발아율 데이터를 이치화하여 발아율을 예측하는 발아율 예측부와, 발아율(x1)의 일차식으로 표시되는 식미예측치(y) 계산 함수에 상기 예측된 발아율 정보를 대입하여 얻어지는 식미예측치(y) 값으로 쌀의 품질을 평가 출력하는 식미 평가부를 포함함을 특징으로 한다. 본 발명은 결정계수가 높은 식미 수식을 개발하여 쌀에 대한 식미를 정확히 평가하는 쌀의 식미평가방법에 관한 것으로, (a) 현미의 발아율 정보를 획득하여 현미의 식미예측치를 계산하는 단계; (b) 백미의 품질인자 정보를 획득하여 백미의 식미예측치를 계산하는 단계; 및 (c) 상기 현미의 식미예측치와 백미의 식미예측치에 가중치를 적용하여 종합적으로 쌀의 식미를 평가하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다. 본 발명은 곡물의 발아율 예측 시스템 및 발아율 예측 방법에 관한 것으로 곡물 시료에 대한 분광분석 데이터와 형상 특성 및 색 특성 데이터를 인공지능 알고리즘 기반의 발아율 예측 프로그램에 적용하여 곡물 시료의 발아율을 보다 정확하게 예측할 수 있다.