具有气压修正的带电粒子显微镜

    公开(公告)号:CN105590822A

    公开(公告)日:2016-05-18

    申请号:CN201510768953.7

    申请日:2015-11-12

    Applicant: FEI公司

    Abstract: 本发明涉及具有气压修正的带电粒子显微镜。一种使用带电粒子显微镜的方法,包括以下步骤:在样品保持器上提供样品;引导来自源的带电粒子的射束通过照明器从而照射样品;使用检测器来检测响应于所述照射而从样品发出的辐射通量,特别地包括以下步骤:为显微镜提供气压传感器;从所述气压传感器为自动控制器提供压强测量信号;调用所述控制器以使用所述信号作为到控制程序的输入,以基于所述信号来补偿所述射束和所述样品保持器的相对位置误差。

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