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    Positioning device for inspection element
    1.
    发明专利
    Positioning device for inspection element 有权
    检查元件定位装置

    公开(公告)号：JP2005098999A

    公开(公告)日：2005-04-14

    申请号：JP2004238764

    申请日：2004-08-18

    Applicant: F Hoffmann La Roche Ag ,  エフ.ホフマン−ラ ロシュ アーゲーF. Hoffmann−La Roche Aktiengesellschaft

    Inventor： HUBNER UTE ,  STENKAMP BERND ,  SCHABBACH MICHAEL ,  KERN BERNHARD

    IPC: G01N33/66 ,  G01N33/487 ,  G01N35/00 ,  G01N35/04

    CPC classification number: G01N35/00029 ,  G01N2035/00039

    Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a positioning device for an inspection element capable of evaluating reliably the inspection element in a narrow detection area.
    SOLUTION: The positioning device has a support face 2 for supporting the inspection element 1, the first switch element 3 functioned as a reference, and provided on the support face 2 or on a reference face of the inspection element 1 on the support face 2, and the second switch element 4 arranged in parallel to the first switch element 3, mounted on the inspection element 1 having position-specific surface structure, and movable vertically with respect to the second support face 2 in response to surface structure of the inspection element 1.
    COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

    Abstract translation: 要解决的问题：提供一种能够可靠地评估检测元件在狭窄检测区域中的检查元件的定位装置。

    解决方案：定位装置具有用于支撑检查元件1的支撑面2，第一开关元件3作为基准，并且设置在支撑面2上或检查元件1的支撑体上的基准面上 面2和与第一开关元件3平行布置的第二开关元件4，安装在具有位置特定表面结构的检查元件1上，并响应于第二开关元件3的表面结构相对于第二支撑面2而垂直移动 检验要素1.版权所有（C）2005，JPO＆NCIPI

    METHOD FOR ANALYZING A SAMPLE ON A TEST ELEMENT AND ANALYSISSYSTEM
    4.
    发明专利
    METHOD FOR ANALYZING A SAMPLE ON A TEST ELEMENT AND ANALYSISSYSTEM 未知

    公开(公告)号：CA2597295A1

    公开(公告)日：2008-05-07

    申请号：CA2597295

    申请日：2007-08-15

    Applicant: HOFFMANN LA ROCHE

    Inventor： SCHULAT JOCHEN ,  SCHMID WILFRIED ,  KERN BERNHARD ,  SCHWOEBEL WOLFGANG ,  DICKOPF KAI ,  ALBRECHT GERTRUD ,  KALVERAM STEFAN ,  SCHMELZEISEN-REDEKER GUENTER ,  STENKAMP BERND ,  MENKE ANDREAS ,  MEINECKE DIETER

    IPC: G01N21/15 ,  G01N21/78

    Abstract: The invention relates to a method for analyzing a sample on a test element ( 1) in an analysis system (9) having a test element receptacle (13) and an analysis un it (10), comprising monitoring whether an analysis region (2) of the test element (1) is positioned in the test element receptacle (13) in an analysis position relative to the analysis unit (10), the monitoring comprising the steps of .cndot. irradiation of the analysis region (2) with light from at least one light source (11, 17), .cndot. detection of light scattered or reflected at the analysis region (2) by a detector (12) for obtaining detection signals, and .cndot. evaluation of the detection signals by an evaluation unit. In this case, delimitation of a light-transmissive region (14) arranged between the test element (1) and the detector (12) is effected by a delimiting element (15) having a light-opaque region (16), the delimiting element (15) being positioned relative to the light source (11, 17) and the detector (12) in such a way th at light scattered or reflected at an analysis region (22) of a test element (1) that is arranged in the test element receptacle (13) in an incorrect position in the Z direction essentially impinges on the light-opaque region (16) and does not reach the detector (12), and by comparison of the detection signals with at least one predetermined limit value for identifying an incorrect position in the Z direction in the case where the limit value is undershot.

    Procedimiento para el análisis de una muestra en un elemento de prueba y sistema de análisis
    5.
    发明专利
    Procedimiento para el análisis de una muestra en un elemento de prueba y sistema de análisis 未知

    公开(公告)号：ES2434440T3

    公开(公告)日：2013-12-16

    申请号：ES06123573

    申请日：2006-11-07

    Applicant: HOFFMANN LA ROCHE

    Inventor： SCHULAT JOCHEN ,  STENKAMP BERND ,  SCHMELZEISEN-REDEKER GUENTHER ,  SCHMID WILFRIED ,  ALBRECHT GERTRUD ,  MENKE ANDREAS ,  KERN BERNHARD ,  SCHWOEBEL WOLFGANG ,  MEINECKE DIETER ,  DICKOPF KAI ,  KALVERAM STEFAN

    IPC: G01N21/84

    Abstract: Procedimiento para el análisis de una muestra en un elemento de prueba (1), en un sistema de análisis (9) quetiene una zona receptora (13) del elemento de prueba y una unidad de análisis (10), que comprende el control de siuna zona de análisis (2) del elemento de prueba está posicionada en el receptáculo del elemento de prueba en unaposición de análisis con respecto a la unidad de análisis, definiendo la dirección Z una dirección perpendicular a lazona de análisis (2), comprendiendo el control las siguientes etapas: - irradiación de la zona de análisis (2) con luz procedente, como mínimo, de una fuente de luz de análisis (18) yuna fuente de luz de control (17), - detección de la luz procedente de la fuente de luz de análisis (18) y de la fuente de luz de control (17) distribuidao reflejada en la zona de análisis (2) por un detector (12) para obtener una primera y respectivamente segundaseñal de detección, y - evaluación de las señales de detección por una unidad de evaluación.de manera que una zona (14) transparente a la luz dispuesta entre el elemento de prueba (1) y el detector (12), estádelimitada por un elemento limitador (15) que tiene una zona (16) no transparente a la luz, estando dispuesto elelemento de delimitación (15) con respecto a la fuente (18) de luz de análisis, la fuente (17) de luz de control y eldetector (12), de manera tal que la luz procedente de la fuente (17) de luz de control, distribuida o reflejada en unazona de análisis (22) de un elemento de prueba (1), que ha sido dispuesto en la zona receptora (13) del elemento deprueba en posición falseada en la dirección Z choca esencialmente sobre la zona no transparente a la luz de análisis(16) y no alcanza el detector y la luz distribuida o reflejada en una zona de análisis (22) de un elemento de prueba(1) que está dispuesto en la zona receptora (13) del elemento de prueba en posición falseada en la dirección Zchoca esencialmente sobre la zona transparente a la luz (14),

    DISPOSITIVO DE POSICIONAMMIENTO PARA ELEMENTO DE PRUEBA.
    6.
    发明专利
    DISPOSITIVO DE POSICIONAMMIENTO PARA ELEMENTO DE PRUEBA. 未知

    公开(公告)号：ES2318222T3

    公开(公告)日：2009-05-01

    申请号：ES04019390

    申请日：2004-08-16

    Applicant: HOFFMANN LA ROCHE

    Inventor： HUBNER UTE ,  STENKAMP BERND ,  SCHABBACH MICHAEL ,  KERN BERNHARD

    IPC: G01N33/66 ,  G01N35/00 ,  G01N33/487 ,  G01N35/04 ,  G01N35/10

    Abstract: Dispositivo de posicionamiento para un elemento de prueba (1), que comprende - una superficie de apoyo (2) para el elemento de prueba (1), - un primer componente de conmutación (3) que se asienta sobre la superficie de apoyo (2) al lado del elemento de prueba (1), o bien sobre una superficie de referencia del elemento de prueba (1) dispuesto sobre la superficie de apoyo (2), y que sirve como referencia, y - un segundo componente de conmutación (4) que se asienta sobre el elemento de prueba (1) cuya superficie está configurada con especificidad posicional, que está dispuesto paralelamente al primer componente de conmutación (3), y que puede ser desviado perpendicularmente a la superficie de apoyo (2) en función de la configuración superficial del elemento de prueba (1), en el que la posición de conmutación de un interruptor destinado a señalizar un posicionamiento del elemento de prueba (1) depende de la desviación del segundo componente de conmutación (4) con respecto al primer componente de conmutación (3), sirviendo un plano sobre el que se apoya el primer componente de conmutación (3) como plano de referencia, con respecto al que se realiza la conmutación.

    METHOD FOR ANALYZING A SAMPLE ON A TEST ELEMENT AND ANALYSIS SYSTEM
    8.
    发明专利
    METHOD FOR ANALYZING A SAMPLE ON A TEST ELEMENT AND ANALYSIS SYSTEM 未知

    公开(公告)号：CA2597295C

    公开(公告)日：2011-07-26

    申请号：CA2597295

    申请日：2007-08-15

    Applicant: HOFFMANN LA ROCHE

    Inventor： STENKAMP BERND ,  SCHMELZEISEN-REDEKER GUENTER ,  SCHMID WILFRIED ,  MEINECKE DIETER ,  DICKOPF KAI ,  ALBRECHT GERTRUD ,  MENKE ANDREAS ,  KERN BERNHARD ,  SCHWOEBEL WOLFGANG ,  SCHULAT JOCHEN ,  KALVERAM STEFAN

    IPC: G01N21/15 ,  G01N21/78

    Abstract: The invention relates to a method for analyzing a sample on a test element (1) in an analysis system (9) having a test element receptacle (13) and an analysis unit (10), comprising monitoring whether an analysis region (2) of the test element (1) is positioned in the test element receptacle (13) in an analysis position relative to the analysis unit (10), the monitoring comprising the steps of .cndot. irradiation of the analysis region (2) with light from at least one light source (11, 17), .cndot. detection of light scattered or reflected at the analysis region (2) by a detector (12) for obtaining detection signals, and .cndot. evaluation of the detection signals by an evaluation unit. In this case, delimitation of a light-transmissive region (14) arranged between the test element (1) and the detector (12) is effected by a delimiting element (15) having a light-opaque region (16), the delimiting element (15) being positioned relative to the light source (11, 17) and the detector (12) in such a way that light scattered or reflected at an analysis region (22) of a test element (1) that is arranged in the test element receptacle (13) in an incorrect position in the Z direction essentially impinges on the light-opaque region (16) and does not reach the detector (12), and by comparison of the detection signals with at least one predetermined limit value for identifying an incorrect position in the Z direction in the case where the limit value is undershot.

    POSITIONING DEVICE FOR A TEST ELEMENT
    9.
    发明专利
    POSITIONING DEVICE FOR A TEST ELEMENT 未知

    公开(公告)号：CA2478196C

    公开(公告)日：2009-09-29

    申请号：CA2478196

    申请日：2004-08-19

    Applicant: HOFFMANN LA ROCHE

    Inventor： HUEBNER UTE ,  SCHABBACH MICHAEL ,  KERN BERNHARD ,  STENKAMP BERND

    IPC: G01N33/66 ,  G01N37/00 ,  A61B5/15 ,  G01N33/487 ,  G01N35/00 ,  G01N35/04

    Abstract: The invention relates to a positioning device for a test element (1), comprising - a support surface (2) for the test element (1), - a first switch component (3) serving as a reference and sitting on the support surface (2) or on a reference surface of the test element (1) lying on the support surface (2), and - a second switch component (4) which is arranged parallel to the first switch component (3), sits on the test element (1) having a position-specifi c surface configuration, and can be displaced perpendicular to the support surface (2) depending on the surface configuration of the test element (1), the switch position of a switch depending on a displacement of the second switch component (4) relative to the first switch component (3).

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