公开(公告)号：DE112018003053T5

公开(公告)日：2020-02-27

申请号：DE112018003053

申请日：2018-06-07

Applicant: IBM

Inventor： VEZYRTZIS CHRISTOS ,  OWCZARCZYK PAWEL

IPC: H03K5/14

Abstract: Ein System beinhaltet einen Satz von Verzögerungsschaltungen, die logisch in einer Kettenkonfiguration verbunden sind, eine Mehrzahl von Flipflop-Schaltungen, die jeweils logisch mit dem Verzögerungsausgang jeder der Verzögerungsschaltungen verbunden sind, die Ebenen von Flipflop-Schaltungen bilden, eine Taktschaltung, die jeweils logisch mit jeder der Ebenen von Flipflop-Schaltungen verbunden ist, und wobei die Mehrzahl von Flipflop-Schaltungen logisch so konfiguriert ist, dass sie als Reaktion darauf, dass ein Verzögerungseingang einer ersten Verzögerungsschaltung in dem Satz von Verzögerungsschaltungen ein Ausgangssignal von einer programmierbaren Verzögerungsschaltung empfängt, und als Reaktion auf ein Empfangen zeitversetzter Taktsignale von den Taktschaltungen, angibt, wie weit sich ein von dem Verzögerungsausgang jeder der Verzögerungsschaltungen übertragenes Flankensignal innerhalb der Mehrzahl von Flipflop-Schaltungen jeweils ausbreitet.

公开(公告)号：DE112023001803T5

公开(公告)日：2025-03-06

申请号：DE112023001803

申请日：2023-01-17

Applicant: IBM

Inventor： COLLURA ADAM ,  ROMAIN MICHAEL ,  HUOTT WILLIAM ,  OWCZARCZYK PAWEL ,  JACOBI CHRISTIAN ,  SAPORITO ANTHONY ,  SHUM CHUNG-LUNG ,  BUYUKTOSUNOGLU ALPER ,  WEBEL TOBIAS ,  CADIGAN JR MICHAEL ,  LOGSDON PAUL ,  CAREY SEAN ,  ANDERSON KARL ,  CICHANOWSKI MARK ,  PAYER STEFAN

IPC: G06F1/28

Abstract: Das hierin beschriebene Verfahren und die hierin beschriebenen Systeme ermöglichen es, unerwünschte Leistungs- oder Spannungsschwankungen in Bereichen einer Halbleitereinheit zu erkennen und abzuschwächen. Das Verfahren umfasst ein Erkennen eines Bereichs eines Prozessorchips wie zum Beispiel einen einzelnen Prozessor, der eine verringerte Leistungsaufnahme und eine daraus resultierende örtliche Spannungsspitze (z.B. eine Spitze, die Vmax übersteigt) aufweist, die das allgemeine Lebensende der Einheit beschleunigen würde. Die beschriebenen Systeme reagieren durch Aktivieren von Schaltungen oder Stromerzeugern, die sich in dem betreffenden Bereich befinden, um mittels eines Schutzstroms zusätzliche Leistung zu entnehmen. Der Schutzstrom setzt die lokalen Spannungsspitzen wieder auf innerhalb eines bestimmten vorgegebenen Bereichs herab. Die daraus resultierende Verringerung der Zeit oberhalb von Vmax beim Prüfen verringert die Anzahl von Einheiten, die aufgrund von Vmax-Überschreitungen aussortiert werden müssen, und erhöht die erwartete Zuverlässigkeit und Lebensdauer der Einheit im Betrieb.