显示装置和显示方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115047647A

    公开(公告)日:2022-09-13

    申请号:CN202210675747.1

    申请日:2019-12-03

    Abstract: 本公开涉及显示装置和显示方法。显示装置包括激光照射装置和控制装置。激光照射装置被配置为用波长大于等于380nm且小于等于780nm的激光束照射空气中的显示位置处的照射点,并在显示位置处产生等离子体。控制装置被配置为控制从至少一个激光照射装置发射的激光束的强度,以使得在显示位置处从等离子体发射的等离子体光的强度与从激光束产生的并且被等离子体散射的散射光的强度之间的关系成为用于显示有色像素的预定关系。

    显示装置和显示方法
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111290133A

    公开(公告)日:2020-06-16

    申请号:CN201911217074.X

    申请日:2019-12-03

    Abstract: 本公开涉及显示装置和显示方法。显示装置包括激光照射装置和控制装置。激光照射装置被配置为用波长大于等于380nm且小于等于780nm的激光束照射空气中的显示位置处的照射点,并在显示位置处产生等离子体。控制装置被配置为控制从至少一个激光照射装置发射的激光束的强度,以使得在显示位置处从等离子体发射的等离子体光的强度与从激光束产生的并且被等离子体散射的散射光的强度之间的关系成为用于显示有色像素的预定关系。

    激光加工设备、控制方法、存储介质及产品制造方法

    公开(公告)号:CN116441763A

    公开(公告)日:2023-07-18

    申请号:CN202310067708.8

    申请日:2023-01-12

    Inventor: 森本弘之

    Abstract: 本公开涉及激光加工设备、控制方法、存储介质及产品制造方法。激光加工设备包括扫描激光的光学扫描单元;将激光会聚到工件上的聚光透镜;检测来自工件的等离子光的等离子光传感器;以及控制单元,被配置为生成针对用于加工工件的激光的加工位置数据,其中控制单元使光学扫描单元扫描激光,并使等离子光传感器获取检测来自工件的等离子光的检测结果,以及控制单元基于检测结果生成针对用于加工工件的激光的加工位置数据。

    检测设备、校正设备、处理设备、以及物品制造方法

    公开(公告)号:CN116067621A

    公开(公告)日:2023-05-05

    申请号:CN202211322170.2

    申请日:2022-10-27

    Abstract: 本发明公开了检测设备、校正设备、处理设备、以及物品制造方法。提供了能够准确地检测关于激光的光轴的位置信息并且减小测量误差的检测设备,包括:第一分割单元,所述第一分割单元被配置为将从光源输出的激光分割成多个光束;检测单元,所述检测单元被配置为检测所述多个光束中的每一个的位置;光引导单元,所述光引导单元被配置为将多个分割的光束以彼此不同的光学路径长度引导到所述检测单元;以及控制单元,所述控制单元被配置为基于所述检测单元检测的所述多个光束中的每一个的位置的差异计算激光的角度偏差或位置偏差,其中所述检测单元是检测所述光引导单元引导的所述多个光束中的每一个的位置的一个传感器。

    显示装置和显示方法
    7.
    发明授权

    公开(公告)号:CN111290133B

    公开(公告)日:2022-07-05

    申请号:CN201911217074.X

    申请日:2019-12-03

    Abstract: 本公开涉及显示装置和显示方法。显示装置包括激光照射装置和控制装置。激光照射装置被配置为用波长大于等于380nm且小于等于780nm的激光束照射空气中的显示位置处的照射点,并在显示位置处产生等离子体。控制装置被配置为控制从至少一个激光照射装置发射的激光束的强度,以使得在显示位置处从等离子体发射的等离子体光的强度与从激光束产生的并且被等离子体散射的散射光的强度之间的关系成为用于显示有色像素的预定关系。

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