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公开(公告)号：CN1988046A
公开(公告)日：2007-06-27
申请号：CN200610170140.9
申请日：2006-12-22
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G01R31/3008 , G11C29/02 , G11C29/025 , G11C29/028 , G11C29/50 , G11C2029/1204 , G11C2029/5006
Abstract: 本发明的半导体泄漏电流检测器具备：第1模拟开关，使被测定电流导通或不导通；第2模拟开关，使参考电流导通或不导通；积分电容元件，连接于所述第1模拟开关和第2模拟开关，由所述被测定电流或所述参考电流充电；放电部件，使所述积分电容元件进行放电；和比较部件，将放电后由参考电流产生在所述积分电容元件中的积分电压、以及放电后由被测定电流产生在所述积分电容元件中的积分电压，分别与参考电压进行比较。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN100468574C
公开(公告)日：2009-03-11
申请号：CN200510068513.7
申请日：2005-04-28
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11C16/22
Abstract: 非易失性半导体存储器件(101)包括连接到指令解码器(108)的特殊指令使能/无效信号线(120)。特殊指令使能/无效信号经信号线(120)从外部输入给指令解码器(108)。由此，在初始化该器件(101)时，指令解码器(108)可以使特殊指令有效并且该器件(101)可以转变到对应特殊指令的模式。另一方面，指令解码器(108)可以使特殊指令无效，例如，当用户使用该器件(101)时，由此，即使在错误地发布特殊指令时，也能防止执行特殊指令。
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公开(公告)号：CN1503133A
公开(公告)日：2004-06-09
申请号：CN200310124822.2
申请日：2003-10-30
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G06F11/22
CPC classification number: G11C29/1201 , G11C16/04 , G11C29/48 , G11C2029/0401 , G11C2029/2602
Abstract: 为了提供一种非易失性存储器微机，其中可以省略掉使用逻辑测试器对微机单元进行测试的步骤，因此降低了测试成本。存储器测试器向非易失性存储器微机提供测试数据和期望数据，并且非易失性存储器微机将它们存储到非易失性存储器中。接着，在收到地址信号时，非易失性存储器根据对应于地址信号的测试数据和期望数据输出测试信号和期望信号。测试信号被提供给微机单元中的电路块，用于驱动该电路块。电路块返回测试结果信号，该信号同期望信号一块被输出该存储器测试器。存储器测试器对测试结果信号和期望信号进行比较，以判断微机单元运行是否正常。
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公开(公告)号：CN100412990C
公开(公告)日：2008-08-20
申请号：CN200510064128.5
申请日：2005-04-11
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11C16/10
Abstract: 从状态寄存器输出表示写指令的执行状态的n位状态信号。在写数据时，输出切换电路输出(n×m)位数据，在该(n×m)位数据中，状态信号图形重复m次。在数据读取时，输出切换电路将存储在存储单元阵列中的数据输出。
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公开(公告)号：CN1244052C
公开(公告)日：2006-03-01
申请号：CN200310124822.2
申请日：2003-10-30
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G06F11/22
CPC classification number: G11C29/1201 , G11C16/04 , G11C29/48 , G11C2029/0401 , G11C2029/2602
Abstract: 为了提供一种非易失性存储器微机，其中可以省略掉使用逻辑测试器对微机单元进行测试的步骤，因此降低了测试成本。存储器测试器向非易失性存储器微机提供测试数据和期望数据，并且非易失性存储器微机将它们存储到非易失性存储器中。接着，在收到地址信号时，非易失性存储器根据对应于地址信号的测试数据和期望数据输出测试信号和期望信号。测试信号被提供给微机单元中的电路块，用于驱动该电路块。电路块返回测试结果信号，该信号同期望信号一块被输出该存储器测试器。存储器测试器对测试结果信号和期望信号进行比较，以判断微机单元运行是否正常。
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公开(公告)号：CN1691206A
公开(公告)日：2005-11-02
申请号：CN200510068513.7
申请日：2005-04-28
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11C16/22
Abstract: 非易失性半导体存储器件(101)包括连接到指令解码器(108)的特殊指令使能/无效信号线(120)。特殊指令使能/无效信号经信号线(120)从外部输入给指令解码器(108)。由此，在初始化该器件(101)时，指令解码器(108)可以使特殊指令有效并且该器件(101)可以转变到对应特殊指令的模式。另一方面，指令解码器(108)可以使特殊指令无效，例如，当用户使用该器件(101)时，由此，即使在错误地发布特殊指令时，也能防止执行特殊指令。
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