清洁室、局部清洁系统、其使用方法及清洁室安全系统

    公开(公告)号:CN1712831A

    公开(公告)日:2005-12-28

    申请号:CN200510076480.0

    申请日:2005-06-14

    CPC classification number: H01L21/67733 F24F3/161 H01L21/67017

    Abstract: 一种清洁室、局部清洁系统、其使用方法及清洁室安全系统,实现简便地短时间地能够构筑在清洁室内区域具有必要的清洁度的局部清洁化区域。本发明的局部清洁化系统,包括在清洁室内天花板下配置了格子状运送用轨道和沿着运送用轨道运送可能的自走式风扇过滤单元。通过将自走式风扇过滤单元,使用运送用轨道在清洁室内所规定的区域移动,可在清洁室内所规定区域形成与除该所规定区域以外的区域清洁度高的局部清洁化区域。

    半导体器件的制造方法
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1661792A

    公开(公告)日:2005-08-31

    申请号:CN200510006565.1

    申请日:2005-02-23

    CPC classification number: H01L21/02074 H01L21/3212 H01L21/7684 H01L21/76877

    Abstract: 本发明公开了一种半导体器件的制造方法,在衬底上的绝缘膜形成布线沟后,以在绝缘膜上将布线沟埋起的方式形成铜膜。接着,研磨存在于布线沟外部的铜膜部分形成布线后,对衬底进行清洗处理。其后,在真空状态下除去露出在布线之间的绝缘膜部分附近的残留水分。这样,通过除去对铜膜进行化学机械研磨后残留在绝缘膜上的水分,便防止铜迁移到绝缘膜上,并防止布线之间的短路。

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