半导体存储器件
    11.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114284269A

    公开(公告)日:2022-04-05

    申请号:CN202111134033.1

    申请日:2021-09-27

    Abstract: 一种半导体存储器件,包括:在第一方向上延伸的位线;在位线上的沟道图案,该沟道图案包括彼此面对的第一垂直部分和第二垂直部分以及连接第一垂直部分和第二垂直部分的水平部分;第一字线和第二字线,提供在水平部分上并且在第一垂直部分和第二垂直部分之间,并且在与位线交叉的第二方向上延伸;以及栅极绝缘图案,提供在第一字线和沟道图案之间以及在第二字线和沟道图案之间。

    半导体存储器装置
    12.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114068548A

    公开(公告)日:2022-02-18

    申请号:CN202110495619.4

    申请日:2021-05-07

    Abstract: 提供了一种半导体存储器装置。所述半导体存储器装置包括:字线,在基底上沿竖直方向延伸;沟道层,围绕字线以构造单元晶体管,并且呈具有预定水平宽度的水平环形形状;位线,沿第一水平方向设置在沟道层的一端处,并且沿垂直于第一水平方向的第二水平方向延伸;以及单元电容器,沿第一水平方向设置在沟道层的另一端处,单元电容器包括沿竖直方向延伸的上电极层、围绕上电极层的下电极层以及设置在上电极层与下电极层之间的电容器介电层。

    半导体存储器装置
    13.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113224063A

    公开(公告)日:2021-08-06

    申请号:CN202110074133.3

    申请日:2021-01-20

    Abstract: 半导体存储器装置可以包括在第一方向上彼此间隔开的第一电极和第二电极以及与第一电极和第二电极两者接触的第一半导体图案。第一半导体图案可以包括在第一方向上顺序地设置的第一子半导体图案至第四子半导体图案。第一子半导体图案和第四子半导体图案可以分别与第一电极和第二电极接触。第一子半导体图案和第三子半导体图案可以具有第一导电类型,第二子半导体图案和第四子半导体图案可以具有与第一导电类型不同的第二导电类型。第一子半导体图案至第四子半导体图案中的每一个可以包括过渡金属和硫族元素。

    三维半导体存储器件
    14.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112018120A

    公开(公告)日:2020-12-01

    申请号:CN202010465503.1

    申请日:2020-05-27

    Abstract: 提供了三维半导体存储器件。一种三维半导体存储器件包括堆叠结构,该堆叠结构包括在衬底上的栅电极。该三维半导体存储器件包括穿透堆叠结构并沿第一方向以Z字形形状顺序布置的第一垂直结构、第二垂直结构、第三垂直结构和第四垂直结构。此外,该三维半导体存储器件包括在第一方向上延伸的第一位线。第一位线垂直地重叠第二垂直结构和第四垂直结构。第二垂直结构的中心和第四垂直结构的中心以相同的距离与第一位线间隔开。第一垂直结构以第一距离与第一位线间隔开。第三垂直结构以第二距离与第一位线间隔开。

    包括可变电阻层的半导体存储器件

    公开(公告)号:CN111863829A

    公开(公告)日:2020-10-30

    申请号:CN201911410986.9

    申请日:2019-12-31

    Abstract: 本发明构思涉及一种包括可变电阻层的半导体存储器件。该半导体存储器件包括堆叠结构,该堆叠结构包括交替且重复堆叠的多个绝缘层和多个互连层。柱结构设置在堆叠结构的侧表面上。柱结构包括绝缘柱和可变电阻层,可变电阻层设置在绝缘柱上并位于绝缘柱和堆叠结构之间。沟道层设置在可变电阻层上并位于可变电阻层和堆叠结构之间。栅电介质层设置在沟道层上并位于所述多个互连层和沟道层之间。沟道层设置在可变电阻层和栅电介质层之间。

    竖直存储器件
    16.
    发明公开
    竖直存储器件 审中-公开

    公开(公告)号:CN111354760A

    公开(公告)日:2020-06-30

    申请号:CN201910897773.7

    申请日:2019-09-20

    Abstract: 一种竖直存储器件包括衬底上的栅电极和第一结构。栅电极可以在垂直于衬底的上表面的第一方向上彼此间隔开。第一结构沿第一方向延伸穿过栅电极,并且包括在平行于衬底的上表面的水平方向上顺序堆叠的沟道和可变电阻结构。可变电阻结构中可以包括量子点(QD)。

    垂直半导体器件
    17.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111312720A

    公开(公告)日:2020-06-19

    申请号:CN201911198874.1

    申请日:2019-11-29

    Abstract: 本公开提供了垂直半导体器件。一种垂直半导体器件包括:导电图案结构,在第一方向上延伸;沟槽,在交叉第一方向的第二方向上的两个相邻的导电图案结构之间;存储层,设置在沟槽的侧壁上;第一绝缘层,设置在沟槽中并在第一方向上彼此间隔开;沟道图案,设置在存储层上且在沟槽中,并在第一方向上彼此间隔开;以及蚀刻停止层图案,设置在沟槽中。每个导电图案结构包括交替堆叠在基板的上表面上的导电图案和绝缘层。每个蚀刻停止层图案设置在对应的第一绝缘层和存储层中的阻挡电介质层之间。蚀刻停止层图案在第一方向上彼此间隔开。

    非易失性存储器装置及其编程方法

    公开(公告)号:CN108630275A

    公开(公告)日:2018-10-09

    申请号:CN201711419411.4

    申请日:2017-12-25

    Abstract: 本发明提供一种非易失性存储器装置及其编程方法。提供一种执行多个编程循环的非易失性存储器装置的编程方法。所述多个编程循环中的至少一个编程循环包括:在第一间隔和第二间隔期间将选择的单元串的通道划分为第一侧通道和第二侧通道;在第一间隔期间,通过施加第一电平的串选择线电压来使选择的单元串的串选择晶体管截止,并升高第一侧通道的第一电压和第二侧通道的第二电压;在第二间隔期间,通过施加与第一电平不同的第二电平的串选择线电压来使串选择晶体管导通,并对与第一侧通道或第二侧通道对应的选择的存储器单元执行热载流子注入(HCI)编程操作。

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