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公开(公告)号：CN103411554B
公开(公告)日：2015-11-18
申请号：CN201310354495.3
申请日：2013-08-15
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 基于量子点效应的量子随动针孔微结构角谱扫描测量装置属于超精密三维微细结构表面形貌测量领域，主要涉及一种基于量子点效应的量子随动针孔微结构角谱扫描测量装置；该装置设置有角谱扫描照明光路和量子随动针孔探测光路，并采用量子点物质膜；这种设计，不仅可以避免现有会聚光束照明技术导致的某些区域无法照明或复杂反射的问题，有效解决探测信号强度衰减和背景噪声增强，造成的测量精度降低，甚至无法测量的问题，而且可以实现每个CCD相机像素前均有对应的量子针孔存在，从而使得量子随动针孔与CCD相机像素之间无需进行精密装调，同时避免照明光束与量子光束的光谱重叠，有利于量子光谱信号的检测。
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公开(公告)号：CN103411938B
公开(公告)日：2015-07-22
申请号：CN201310354510.4
申请日：2013-08-15
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/64
Abstract: 反斯托克司性质荧光随动针孔微结构角谱扫描测量装置属于超精密三维微细结构表面形貌测量领域，主要涉及一种反斯托克司性质荧光随动针孔微结构角谱扫描测量装置；该装置设置有角谱扫描照明光路和荧光随动针孔探测光路，并采用反斯托克司性质荧光物质；这种设计，不仅可以避免现有会聚光束照明技术导致的某些区域无法照明或复杂反射的问题，有效解决探测信号强度衰减和背景噪声增强，造成的测量精度降低，甚至无法测量的问题，而且可以实现每个CCD相机像素前均有对应的荧光针孔存在，从而使得荧光随动针孔与CCD相机像素之间无需进行精密装调，同时可以采用具有一定穿透能力的近红外激光器，并使得CCD相机具有更广泛的选择。
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公开(公告)号：CN103411938A
公开(公告)日：2013-11-27
申请号：CN201310354510.4
申请日：2013-08-15
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/64
Abstract: 反斯托克司性质荧光随动针孔微结构角谱扫描测量装置属于超精密三维微细结构表面形貌测量领域，主要涉及一种反斯托克司性质荧光随动针孔微结构角谱扫描测量装置；该装置设置有角谱扫描照明光路和荧光随动针孔探测光路，并采用反斯托克司性质荧光物质；这种设计，不仅可以避免现有会聚光束照明技术导致的某些区域无法照明或复杂反射的问题，有效解决探测信号强度衰减和背景噪声增强，造成的测量精度降低，甚至无法测量的问题，而且可以实现每个CCD相机像素前均有对应的荧光针孔存在，从而使得荧光随动针孔与CCD相机像素之间无需进行精密装调，同时可以采用具有一定穿透能力的近红外激光器，并使得CCD相机具有更广泛的选择。
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公开(公告)号：CN101520306B
公开(公告)日：2011-01-26
申请号：CN200910071664.6
申请日：2009-03-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于空间载波的干涉共焦测量装置与方法属于表面形貌测量技术领域；该装置包括：激光器、准直聚焦物镜、针孔、准直扩束物镜、偏振分光镜、四分之一波片、分光镜、探测聚焦物镜、第二微驱动器、收集物镜；沿激光器主光轴方向的分光镜后面依次配置辅助参考镜和第一微驱动器，主参考镜配置在分光镜与探测聚焦物镜之间，在收集物镜的焦点处，放置CCD相机，主控计算机与CCD相机、第一微驱动器连接；采用二次共焦方法，建立位移相位关系，通过倾斜辅助参考镜，引入载波信号，获得载波干涉图，利用空间载波移相算法求解被测表面相位信息，最后拟合出表面形貌和三维轮廓，适用于微结构三维形貌的动态、快速、高精度测量。
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公开(公告)号：CN101413784A
公开(公告)日：2009-04-22
申请号：CN200810209586.7
申请日：2008-12-02
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 复色超分辨差动共焦测量大线性量程数据融合方法属于超精密三维微结构表面测量领域；该方法首先利用式1和式2分别计算得到第一和第二超分辨差动共焦测量支路的输出信息，其中式3分别是采用复色超分辨差动共焦测量装置获取的第一和第二测量支路的实际输出光强信息，(式1、2、3见右上)然后截取Γ1和Γ2得到有效输出和，最后构造系统线性输出融合函数：见式4作为系统最终位移响应输出，其中ΓB′为平移因子，λ1和λ2是第一和第二测量支路波长；该方法保留了复色超分辨差动共焦测量高空间分辨力、抑制共模加性噪声和线性量程扩展的优点，同时可以抑制乘性噪声干扰，获得线性程度更好、线性测量范围更大的输出特性曲线。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN100412228C
公开(公告)日：2008-08-20
申请号：CN200610010136.6
申请日：2006-06-08
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 铝或铝合金基体表面离子注入与沉积复合强化处理方法，它涉及一种金属材料表面离子注入与沉积复合强化处理方法。它解决了类金刚石碳膜与铝或铝合金基体间残余应力大、结合力和承载能力差，DLC在高速重载条件下耐磨损性能低，易从铝或铝合金基体上剥落的问题。合成方法按以下步骤进行：(一)铝或铝合金超声清洗；(二)铝或铝合金氩离子溅射清洗；(三)钛离子注入；(四)PIIID法沉积Ti；(五)PIIID法沉积TiN；(六)PIIID法沉积Ti(CN)；(七)PIIID法沉积TiC；(八)合成类金刚石碳膜，即得到表面有多层梯度膜的铝或铝合金；步骤(二)至(八)在真空室内进行。本发明中多层梯度膜上的DLC的磨损寿命比相同厚度的单层DLC提高10倍以上，摩擦系数低于0.1。
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公开(公告)号：CN118858867A
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN202410829095.1
申请日：2024-06-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种电子元器件的功率循环测试系统及其测试方法，属于电子元器件的性能测试技术领域，为解决现有电子元器件检测过程中功率循环测试技术存在缺陷的问题，它包括：数据采集模块，以设定采样频率实时或定点采集电子元器件的电性能参数；环境模拟模块，模拟电应力条件以实现功率循环；自动控制模块，通过预设测试参数，动态调整电子元器件的运行状态，当电子元器件的实际参数达到预设测试参数范围时，停止测试；数据处理显示模块，用于显示数据采集模块的电性能参数，还用于对定点采集的电性能参数进行数据提取，并对测试过程中电性能参数的数据变化进行显示。用于实现多个电子元器件在不同的测试条件下进行实时检测。
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公开(公告)号：CN114723152A
公开(公告)日：2022-07-08
申请号：CN202210404985.9
申请日：2022-04-18
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明公开了一种场地复合污染治理效果综合评估指标体系的构建方法，包括如下步骤：构建指标体系框架，将指标体系分为目标层、准则层、要素层和指标层；从要素层中初步筛选出若干个评价指标；利用德尔菲法对评价指标进行调整，获得初筛评价指标；利用灰色关联度—粗糙集法、病态指数循环分析‑相关系数法和聚类加因子分析法对初筛评价指标进行筛选，获得优化指标体系；利用优度评价方法对优化指标体系进行优劣性的检验，得到最优指标体系。本发明能够系统化、全面化地对污染场地修复进行全面、科学的评价，从而为构建符合国内区域特性的复合污染场地治理效果综合评估方法，实现场地复合污染治理效果的定量化分析与评估提供依据。
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公开(公告)号：CN110146972A
公开(公告)日：2019-08-20
申请号：CN201910390024.5
申请日：2019-05-10
Applicant: 哈尔滨工业大学 , 北京锐驰恒业仪器科技有限公司 , 江苏锐精光电有限公司
IPC: G02B19/00
Abstract: 本发明公开了一种集光器，包括：透镜阵列板、集光孔阵列板、导光槽和侧向集光系统；所述导光槽内设置有集光孔阵列板，所述集光孔阵列板的底部设有一级反射体，所述侧向集光系统设置于所述导光槽一侧，所述透镜阵列板安装于所述导光槽的上方，与所述导光槽形成一体式封闭结构。在本发明中，光线通过透镜阵列板照射入集光孔阵列板，通过所述集光孔阵列板上的反射体对光线逐一反射进行传递，并传递至侧向集光系统，最终本发明可以将所有从透镜阵列板射入的光集成一束，产生了极强的集光效果，且本发明结构简单，降低了制作成本，且减小了集光器的体积，安装也更加方便。
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公开(公告)号：CN109580640A
公开(公告)日：2019-04-05
申请号：CN201811497545.2
申请日：2018-12-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明提供一种环形光式暗场共焦亚表面无损检测装置和方法，属于光学精密测量技术领域。点光源发出的光依次经过准直镜、环形光发生器、分光棱镜和物镜，物镜将激光汇聚至待测样品，载有待测样品信息的反射光和散射光依次经过物镜和分光棱镜，入射至探测互补光阑，反射光被探测互补光阑遮挡，散射光依次经过探测互补光阑、收集透镜和探测针孔，最终入射至光电探测器，从而完成对亚表面的检测。本发明采用环形光束照明，结合探测互补光阑实现暗场共焦，解决了普通共焦显微技术检测亚表面损伤信噪比低的问题，适用于亚表面无损检测。
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