金属鉴别装置以及金属鉴别方法

    公开(公告)号:CN1643369A

    公开(公告)日:2005-07-20

    申请号:CN03806120.1

    申请日:2003-03-14

    CPC classification number: G01N21/67

    Abstract: 本发明的金属鉴别装置的特征在于包括电弧放电装置,该电弧放电装置含有在其自身和待鉴别的对象之间引起放电,从而激发待鉴别的对象并使其发光的放电电极、用于收集电弧放电装置发出的光的光纤、用于测量由光纤收集的光的发射光谱的分光光度计、作为鉴别处理部分的个人计算机,用于将分光光度计测量的发射光谱的数据与预先存储的多个标准样品的发射光谱数据进行比较来鉴别待鉴别的对象的类型,以及破坏待鉴别的对象的表面的至少一部分的破坏处理部分。

    荧光X线分析方法以及荧光X线分析装置

    公开(公告)号:CN1993614B

    公开(公告)日:2010-12-22

    申请号:CN200580026554.8

    申请日:2005-07-21

    CPC classification number: G01N23/223 G01N2223/076

    Abstract: 一种荧光X线分析方法,可以测量未知试样中含有的元素浓度,而不需要依赖于人的视觉等判别试样,或不需要预先得到来自试样提供方的信息。(1)通过对试样照射X线来判定试样的种类是非金属类材料还是金属类材料的任一种,(2)根据判定的试样种类,选择荧光X线分析的测量条件,(3)根据所选择的测量条件,通过荧光X线分析,测量试样中含有的一种或多种元素的浓度,由此,例如可测量电子/电气设备的部件中含有的Cd、Pb、Hg等微量元素的浓度。

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