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公开(公告)号:CN1805834B
公开(公告)日:2010-09-15
申请号:CN200480016713.1
申请日:2004-10-29
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: B29B17/02
CPC classification number: B29B17/02 , B29B2017/0262 , B29K2055/02 , B29K2705/00 , B29K2705/08 , B29K2705/10 , B29L2009/005 , B29L2031/3425 , Y02W30/622
Abstract: 金属涂层除去设备(1)包括:第一电极(13),设置成与作为待除去物体的金属涂层(101)相对;第二电极(14),设置成与金属涂层(101)相对,并距离第一电极(13)为预定距离;和脉冲功率发生器(11),例如,用作放电能量输送部分。该脉冲功率发生器(11)在第一电极(13)和第二电极(14)之间输送放电能量,以便允许在第一电极(13)和第二电极(14)之间发生放电。通过允许在第一电极(13)和第二电极(14)之间发生放电,可以除去金属涂层(101)。
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公开(公告)号:CN100532050C
公开(公告)日:2009-08-26
申请号:CN200580012232.8
申请日:2005-05-26
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: B29B17/02
CPC classification number: B29B17/0412 , B26F1/386 , B29B17/02 , B29B2017/0456 , B29K2313/00 , B29K2705/00 , B29K2711/12 , B29L2031/445 , B29L2031/726 , Y02W30/622 , Y02W30/625 , Y10T83/2216 , Y10T83/758
Abstract: 提供一种由于作为再循环工序的一个环节而除去异种材料物,因此效率好,且在作业者的作业安全方面或作业环境方面都不存在问题的异种材料除去方法及其装置。在本发明的装置中,从塑料制品的外侧按压塑料制品,同时使工作部动作,并使刃部移动,从而冲裁异种材料物。
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公开(公告)号:CN1643369A
公开(公告)日:2005-07-20
申请号:CN03806120.1
申请日:2003-03-14
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01N21/67
CPC classification number: G01N21/67
Abstract: 本发明的金属鉴别装置的特征在于包括电弧放电装置,该电弧放电装置含有在其自身和待鉴别的对象之间引起放电,从而激发待鉴别的对象并使其发光的放电电极、用于收集电弧放电装置发出的光的光纤、用于测量由光纤收集的光的发射光谱的分光光度计、作为鉴别处理部分的个人计算机,用于将分光光度计测量的发射光谱的数据与预先存储的多个标准样品的发射光谱数据进行比较来鉴别待鉴别的对象的类型,以及破坏待鉴别的对象的表面的至少一部分的破坏处理部分。
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公开(公告)号:CN1993614B
公开(公告)日:2010-12-22
申请号:CN200580026554.8
申请日:2005-07-21
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01N23/223
CPC classification number: G01N23/223 , G01N2223/076
Abstract: 一种荧光X线分析方法,可以测量未知试样中含有的元素浓度,而不需要依赖于人的视觉等判别试样,或不需要预先得到来自试样提供方的信息。(1)通过对试样照射X线来判定试样的种类是非金属类材料还是金属类材料的任一种,(2)根据判定的试样种类,选择荧光X线分析的测量条件,(3)根据所选择的测量条件,通过荧光X线分析,测量试样中含有的一种或多种元素的浓度,由此,例如可测量电子/电气设备的部件中含有的Cd、Pb、Hg等微量元素的浓度。
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公开(公告)号:CN100507515C
公开(公告)日:2009-07-01
申请号:CN200480020782.X
申请日:2004-07-15
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G01N21/3563 , G01N21/01
Abstract: 本发明的塑料识别装置将作为识别对象物的试验片(1)的至少2个面作为识别面使用,识别识别对象物的塑料的种类。本发明的塑料识别装置具备:识别试验片(1)中包含的塑料的种类的识别检测单元(3、4);为了将试验片(1)的与识别检测单元(3、4)相对的识别面从第1面(1a)变为第2面(1b)而给试验片(1)施加外力将试验片(1)倾倒的倾倒机构(7a、7b)。
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公开(公告)号:CN1965228A
公开(公告)日:2007-05-16
申请号:CN200580013285.1
申请日:2005-04-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01N23/223
CPC classification number: G01N23/223 , G01N2223/076
Abstract: 是对于放置在X射线照射室(7)上侧的试料台架(2)上的试料(1),在自试料(1)上方关闭试料罩(6)而遮蔽围住试料(1)之后,对试料(1)的下面照射X射线而进行分析的荧光X射线分析方法,其中,在试料(1)放置在试料台架(2)上并关闭试料罩(6)的情况下,由试料罩检测机构(8)检测出试料罩(6)已关闭,就自动地从X射线源(3)照射X射线而开始进行分析。
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公开(公告)号:CN1947003A
公开(公告)日:2007-04-11
申请号:CN200580013286.6
申请日:2005-04-27
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01N23/223
CPC classification number: G01N23/223 , G01N2223/076
Abstract: 本发明,解决不是在作为测定时间所设定的时间后就得不到浓度的计算结果这样的现有荧光X射线分析的问题。本发明的荧光X射线分析方法和荧光X射线分析装置,采用其结构为:设定试料的测定条件之后开始测定,并对试料中所包含的元素的测定浓度及测定精度进行计算,且当该精度成为满足预先规定的测定条件之值时结束测定,从而输出此时的浓度。
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公开(公告)号:CN1909982A
公开(公告)日:2007-02-07
申请号:CN200580002991.6
申请日:2005-01-18
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: B08B7/00 , B29C63/0013 , Y10S156/924 , Y10T156/1174 , Y10T156/195 , Y10T156/1956
Abstract: 本发明提供一种能够容易地将牢固地粘贴在显示面板上的薄膜剥离的薄膜剥离装置。薄膜剥离装置具有:圆柱状的马达辊(3),具有比构成阴极射线管的真空管(7)的表面面板(7a)的短边的长度长的有效长度,且具有自转功能;抵板(4),紧密地配置在马达辊(3)的表面上;和铰接夹(5),设置在马达辊(3)的有效长度的外侧,将抵板(4)压接在马达辊(3)的表面上。
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公开(公告)号:CN1315895A
公开(公告)日:2001-10-03
申请号:CN99810452.3
申请日:1999-07-01
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: B23K35/0244 , B23K35/025 , B23K35/3618 , H05K3/3463 , H05K3/3484
Abstract: 在含有Sn和Zn的钎料粉末的表面附着有机酸盐。或者在焊剂中添加0.5~10重量%的非离子表面活性剂。这样提供钎焊性良好、抑制焊剂中的活性成分和合金成分反应的无铅钎料粉末和钎焊膏。
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公开(公告)号:CN1947003B
公开(公告)日:2010-12-29
申请号:CN200580013286.6
申请日:2005-04-27
Applicant: 松下电器产业株式会社 , 精工电子纳米科技有限公司
IPC: G01N23/223
CPC classification number: G01N23/223 , G01N2223/076
Abstract: 本发明,解决不是在作为测定时间所设定的时间后就得不到浓度的计算结果这样的现有荧光X射线分析的问题。本发明的荧光X射线分析方法和荧光X射线分析装置,采用其结构为:设定试料的测定条件之后开始测定,并对试料中所包含的元素的测定浓度及测定精度进行计算,且当该精度成为满足预先规定的测定条件之值时结束测定,从而输出此时的浓度。
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