用于检测电子装置的自由下落的方法和设备

    公开(公告)号:CN100417945C

    公开(公告)日:2008-09-10

    申请号:CN200510098684.4

    申请日:2005-09-09

    CPC classification number: G11B19/04 G01P15/00 G01P15/0891 G01P15/18

    Abstract: 本发明提供一种用于检测电子装置的自由下落的方法和设备。该方法包括:使用加速度传感器来感知该电子装置的下落加速度;确定感知到的下落加速度是否小于预定阈值;当感知到的下落加速度小于预定阈值时,确定下落加速度是否是具有统计显著性的统计常数并且是否在预定的时间内被保持;和当下落加速度是统计常数并且在预定的时间内被保持时,确定该电子装置自由下落。因此,可以正确地感知电子装置的自由下落,而不管当测量该电子装置的下落加速度时由于环境条件,如温度的变化和该电子装置旋转时产生的旋转加速度所产生的重力加速度的误差。

    生成磁场图和使用磁场图检查移动体的姿态的方法和装置

    公开(公告)号:CN1651864A

    公开(公告)日:2005-08-10

    申请号:CN200510005598.4

    申请日:2005-01-21

    CPC classification number: G01R33/10 G05D1/0259 G05D1/0274

    Abstract: 提供一种生成磁场图的方法,包括:对于移动体的每个位置获得磁场信息,该磁场信息是关于影响移动体的磁场的信息;以及基于对于移动体的每个位置的磁场信息来构造磁场图。可通过使用从磁场图观察的磁场信息和实际测量的磁场信息之间的差值而获得的概率,来统计地检查移动体的姿态。尽管使用对移动体所处的照明状态灵敏的摄像机来估计移动体的姿态,也可使用在与照明无关的情况下获得的磁场图来相对精确地检查移动体的姿态,而较少受到移动体所处的照明状态的影响。因此,能够可靠地检查移动体的姿态。

    电子设备以及用于其的托架

    公开(公告)号:CN108369641B

    公开(公告)日:2022-08-16

    申请号:CN201680073408.9

    申请日:2016-08-31

    Abstract: 一种要被放置在托架上的电子设备可以包括:壳体,包括半球形状的部分并在电子设备被放置在托架上时在任意位置与托架物理地接触;显示器,布置在壳体的另一部分上;照相机模块,用于在显示器面向的方向上获得图像;传感器模块,用于感测电子设备的取向;以及处理器,用于基于所获得的图像来确定电子设备的目标取向,并基于电子设备的所感测的取向和目标取向来创建用于改变电子设备的取向的控制数据。

    执行手眼标定的机器人和电子设备

    公开(公告)号:CN110167722A

    公开(公告)日:2019-08-23

    申请号:CN201880005842.2

    申请日:2018-01-02

    Abstract: 提供了一种用于执行手眼标定的机器人。机器人包括:机器臂,包括多个关节、多个臂部和末端效应器;通信接口;以及控制电路。控制电路在外部对象由末端效应器抓取之后控制机器臂将外部对象放置在工作台上,从外部对象的图像获取外部对象的中心点在相机的坐标系中的坐标,当外部对象被放置在工作台上时,基于末端效应器在机器人的基坐标系中的坐标和外部对象的中心点在相机的坐标系中的坐标来计算用于定义末端效应器的坐标系与相机的坐标系之间的关系的标定参数。

    X射线成像设备及其控制方法

    公开(公告)号:CN104644197B

    公开(公告)日:2019-08-20

    申请号:CN201410642274.0

    申请日:2014-11-11

    Abstract: 公开了X射线成像设备及其控制方法。提供了一种能够进行以下操作的X射线成像设备以及控制该X射线成像设备的方法:使用卡尔曼滤波器追踪感兴趣对象的位置以减少被检体的X射线辐射曝光量;计算指示跟踪的精确度的协方差;控制准直器使得感兴趣对象的位置和计算的协方差可以与被辐射有X射线的区域的位置和面积相关联。所述X射线成像设备包括:X射线源;准直器,调整由X射线源辐射的X射线的辐射区域;处理器,在X射线图像中确定感兴趣区域(ROI),跟踪ROI中的感兴趣对象的位置,控制准直器使得被辐射有X射线的区域能够与跟踪感兴趣对象的结果互锁。

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