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公开(公告)号：CN107479146A
公开(公告)日：2017-12-15
申请号：CN201710728504.9
申请日：2017-08-23
Applicant: 北京工业大学
CPC classification number: G02B6/4296 , G02B6/4226 , G02B7/00
Abstract: 本发明公开了一种基于光纤耦合/准直器的激光器光纤调节装置，属于精密光学仪器技术领域。该激光器光纤调节装置包括光纤耦合系统、传输系统、光纤准直系统。所述光纤耦合系统包括激光器(1)、光纤耦合装置(2)和底座(3)；所述传输系统包括光纤跳线(4)；所述光纤准直系统包括光纤准直装置(5)和底板(6)。本发明以激光器出射的激光光束为基准，通过光纤耦合器完成激光器光纤的空间调节，实现激光光束的低损耗传输；然后经由光纤准直器将传输后的激光光束准直后出射，作为精密光学仪器的工作光源。
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公开(公告)号：CN115164808B
公开(公告)日：2023-07-21
申请号：CN202210693859.X
申请日：2022-06-19
Applicant: 北京工业大学
Abstract: 本发明公开了基于齿轮特征线统一模型的齿轮接触线测量与评价方法，包括：建立齿轮特征线统一模型；建立基于齿轮特征线统一模型下的齿轮接触线模型；基于齿轮特征线统一模型下测量齿轮接触线；定义齿轮接触线评价指标；齿轮接触线误差计算；齿轮接触线误差质量评价。该方法在传统渐开线测量的基础上增加沿齿轮轴向的运动，或者是在传统螺旋线测量的基础上增加沿齿轮径向的运动。该方法定义齿轮接触线的评价指标和符号：接触线总偏差、接触线形状偏差、接触线倾斜偏差，为后续的齿面质量评价提供基础。该方法基于测得的齿轮接触线，根据计算得到的偏差值和接触线本身的公差值来计算左右齿面的质量等级，进而评定齿面质量。
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公开(公告)号：CN115307575A
公开(公告)日：2022-11-08
申请号：CN202210754278.2
申请日：2022-06-28
Applicant: 北京工业大学
IPC: G01B11/245
Abstract: 本发明公开了一种柱状零件非接触式三维测量装置及方法，包含铸铁基座，待测工件，密珠主轴系统，线激光传感器安装部件，工作台围板，上工作台，后电气柜，电脑显示器，装置操作柜，报告单打印机。本发明实现了柱状零件外形全信息的扫描抓取，取代现有结构采用部分信息来表示零件外形形貌特征。本发明提供非接触式测量技术，有效消除了接触式测量引起的测头磨损和测头半径补偿误差。本发明采用封装式线激光传感器，实现了操作简单、便捷。本发明通用性强，可以用于多种类柱状零件的精密测量，应用范围广泛。
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公开(公告)号：CN115307572A
公开(公告)日：2022-11-08
申请号：CN202210745581.6
申请日：2022-06-27
Applicant: 北京工业大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明公开了一种定宽平面式线激光传感器位姿标定件，建立非接触式三维齿轮测量系统，包括中心旋转结构体，所述中心旋转结构体的上下端面为平整结构；所述中心旋转结构体的侧面设有多个特定几何形状单元，每个结构单元包括外圆柱面和V型槽；各个结构单元之间设有竖直断面结构，竖直断面结构为中心旋转结构体的侧面竖直结构面；中心旋转结构体的中间设有内圆柱面；所述的竖直断面结构单元包括过渡平面、定宽平面、基准平面；下端面和上端面为中心旋转结构体的上下端面。标定方法利用最小二乘对直线的拟合技术成熟，精度较高，能够真实反映实际坐标数值的相互关系。
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公开(公告)号：CN114993230A
公开(公告)日：2022-09-02
申请号：CN202210693851.3
申请日：2022-06-19
Applicant: 北京工业大学
Abstract: 本发明公开了基于齿轮特征线统一模型的法向啮合齿廓测量与评价方法，包括：建立齿轮特征线统一模型；基于齿轮特征线统一模型测量法向啮合齿廓；定义法向啮合齿廓的评价指标；法向啮合齿廓偏差计算及齿面质量评定。该方法无需复杂公式的推导和复杂的坐标变化，根据齿轮特征线统一模型中齿轮特征线类型指示参数为3的情况下即可实现法向啮合齿廓的测量，简单、方便、易操作。该方法定义法向啮合齿廓的评价指标和符号：法向啮合齿廓总偏差、法向啮合齿廓形状偏差、法向啮合齿廓倾斜偏差。该方法可以计算得到齿面上测得法向啮合齿廓的各项偏差值；并依据上述偏差值来计算左右齿面的偏差允许的公差等级，进而评定齿面质量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113358025A
公开(公告)日：2021-09-07
申请号：CN202110556943.2
申请日：2021-05-21
Applicant: 北京工业大学
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明公开了一种线激光传感器空间位姿标定件及标定方法，结合齿轮测量中心接触式测量的优势和简单的几何特征标定件，通过简单易行的标定操作实现线激光传感器的精确标定。在一个标准芯轴基础上，在轴线中间位置布置一个长方体金属块，标准芯轴上下端面中心各设置一个锥形孔用于固定。该标定件的标准芯轴部分的上部分轴段S1与下部分轴段S2要求同轴度和圆柱度均为1μm。平面I与平面II的垂直度为1μm，且平面I与平面II与标准芯轴轴线的平行度均为1μm。该标定件结构简单，现有的制造工艺能够满足高精度几何特征的加工需求，与齿轮测量中心接触式测量的优势相结合，标定操作简单易行，可实现线激光传感器的精确标定。
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公开(公告)号：CN109884658B
公开(公告)日：2020-11-27
申请号：CN201910160827.1
申请日：2019-03-04
Applicant: 北京工业大学
Abstract: 本发明公开了基于激光追踪仪多站位测量系统的激光追踪仪站位方法，该方法的实现过程如下，搭建激光追踪仪多站位测量系统；基于Levenberg‑Marquardt算法的激光追踪仪站位自标定；参数μi选择。激光追踪仪站位坐标优化；利用Levenberg‑Marquardt算法及协方差矩阵的奇异值分解变换方法优化激光追踪仪站位坐标。本方法能够提高激光追踪仪站位坐标精度，更精准的修正多轴机床坐标误差，从而使修正结果达到更高的精度。
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公开(公告)号：CN108917605B
公开(公告)日：2020-04-03
申请号：CN201810771009.0
申请日：2018-07-13
Applicant: 北京工业大学
Abstract: 本发明公开了基于双波长法补偿空气折射率的激光追踪系统ZEMAX仿真方法，用于分析光学系统中各个光学元件的非理想对系统能量的影响，基于双波长法补偿空气折射率的激光追踪测量系统的光学系统原理，根据各个光学元件之间的结构，设置多重结构的参数，然后进行顺序调整，建立基于双波长法补偿空气折射率的激光追踪测量系统的模型。设定各光学元件的参数，分析干涉信号条纹对比度，实现光学系统最优化的参数设定，达到提高激光追踪测量系统测量精度的目的，对激光追踪测量光学系统设计和光学元件的选择具有指导意义。
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公开(公告)号：CN110095101A
公开(公告)日：2019-08-06
申请号：CN201910320615.5
申请日：2019-04-20
Applicant: 北京工业大学
IPC: G01B21/04
Abstract: 本发明公开了一种用于柱状零件测量仪的坐标系标定装置及方法，该坐标系标定装置包括柱状零件测量仪的主体部分和基于激光位移传感器的激光头部分。精密转台部件包括，精密转台防护罩、精密转台、三爪卡盘和标准圆环。二维导轨部件包括，水平电动导轨、水平滑座、水平电机、钢架、垂直电机、垂直电动导轨和垂直滑座。激光头部分自上而下依次为激光位移传感器、激光位移传感器转接板、二维角度调节板、激光位移传感器支撑板、手动二维滑台、左侧加强筋、右侧加强筋、L型支撑板和螺纹通孔。本发明能够有效地消除由制造误差和安装误差引起的坐标系标定误差，提高柱状零件测量仪的测量精度，保证柱状零件测量仪的可靠性。
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公开(公告)号：CN108413877B
公开(公告)日：2019-07-26
申请号：CN201810138006.3
申请日：2018-02-10
Applicant: 北京工业大学
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明公开了一种用于激光跟踪测量系统的水平轴微调装置，属于激光测量领域。该水平轴微调装置主要包括三个部分。第一，水平面前后方向上的微动部分，通过旋转水平轴水平方向调节机构二实现支撑板在内的大部分结构前后微动。第二，起导向作用的部分，导向作用的部分主要结构为底板，底板在微调过程中对于整个激光跟踪测量系统的相对位置不变。第三，支撑板水平状态平衡调节部分，主要包括紧定螺钉、圆柱销和弹簧。该装置基于一种标准球相对位置不改变的激光跟踪测量系统中的微调装置，通过调节水平回转轴线的前后微调实现水平轴与垂直轴相交。通过水平轴微调装置实现俯仰轴在水平面前后方向上的微动，提高了激光跟踪测量系统的测量精度。
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