硅基光子分子的设置与制备方法

    公开(公告)号:CN100504564C

    公开(公告)日:2009-06-24

    申请号:CN200710025127.9

    申请日:2007-07-13

    Applicant: 南京大学

    Abstract: 硅基光子分子的设置方法,以气相共形薄膜生长制备的光子分子,在玻璃和硅衬底设有直径尺寸为0.5-5μm,高度为0.4-2μm的柱形平台,并以共形薄膜生长方法制备含两个或多个有源层为a-SiNz的三维限制微腔结构:即形成两个有源层的三维DBR限制结构的微腔;设有两个DBR位于两个有源层两侧微腔的谐振波长为λ,DBR包括4±10个周期的中低折射率层和高折射层的a-SiNx和a-SiNy薄膜,每个折射层厚度为λ/(4n);n是折射率,有源层是折射率在低折射率层和高折射层的折射率之间a-SiNz薄膜,厚度为λ/(2n);两个有源层之间的距离为m个周期,DBR的厚度d=m×L,m为0.5-9.5,L为一个周期高低折射率薄膜的厚度。

    气相共形薄膜生长制备光子量子点的方法

    公开(公告)号:CN100464472C

    公开(公告)日:2009-02-25

    申请号:CN200710020973.1

    申请日:2007-04-05

    Applicant: 南京大学

    Abstract: 气相共形薄膜生长制备的光子量子点,在玻璃和硅衬底先设有横向尺寸为0.5-5μm,高度为0.4-2μm的柱形平台;在其上设有以共形薄膜生长制备有源层为a-SiNz的受DBR三维限制微腔;其中设有两个DBR位于有源层两侧,微腔的谐振波长为λ,DBR包括6±2个周期的低折射率层和高折射层的a-SiNx/a-SiNy薄膜,每个折射层厚度为λ/(4n);n是折射率,有源层是折射率在低折射率层和高折射率层之间a-SiNx薄膜,厚度为λ/(2n)。

    纳米印章技术中纳米级模板的制备方法

    公开(公告)号:CN100437353C

    公开(公告)日:2008-11-26

    申请号:CN200410065998.X

    申请日:2004-12-29

    Applicant: 南京大学

    Abstract: 纳米印章技术中纳米级模板的制备方法,先制备多层膜:多层膜为非晶硅(a-Si)/氮化硅(SiNX)、(a-SiC)/(SiNX)、(a-Ge)/(SiNX)、Ge/Si等多层膜调制结构,对上述多层膜样品的剖面进行切片、磨片与抛光,暴露出光洁的多层膜侧面,再进行选择性腐蚀,在多层膜样品的剖面形成纳米级浮雕模板。避免了使用昂贵的电子束光刻设备。采用等离子体化学汽相淀积(PECVD)技术制备的a-Si/SiNX多层膜的周期可精确控制到纳米量级,层厚最小可达到2nm,从而使模板的图案尺寸可减小到2nm,当图形转移到Si片上可产生纳米尺度的图案。

    一种提高发光效率的稀土掺杂二氧化硅薄膜制备方法

    公开(公告)号:CN101162753A

    公开(公告)日:2008-04-16

    申请号:CN200710134577.1

    申请日:2007-11-02

    Applicant: 南京大学

    Abstract: 本发明涉及一种提高发光效率的稀土掺杂二氧化硅薄膜制备方法,属于光电子器件材料技术领域。该方法的步骤为配制前驱体溶胶溶液、在衬底上形成湿膜、热分解湿膜、在衬底上制备薄膜、高温退火。实验证明,采用本发明的方法可以使稀土离子的发光产生数量级的增强,可以与半导体工业相兼容,具有操作方便、快捷、成本低廉、制备条件温和、工艺重复性好、效果明显等优点,完全可以应用于未来的硅基光电子领域。

    气相共形薄膜生长制备光子量子点的方法

    公开(公告)号:CN101030695A

    公开(公告)日:2007-09-05

    申请号:CN200710020973.1

    申请日:2007-04-05

    Applicant: 南京大学

    Abstract: 气相共形薄膜生长制备的光子量子点,在玻璃和硅衬底先设有横向尺寸为0.5-5μm,高度为0.4-2μm的柱形平台;在其上设有以共形薄膜生长制备有源层为a-SiNz的受DBR三维限制微腔;其中设有两个DBR位于有源层两侧,微腔的谐振波长为λ,DBR包括6±2个周期的低折射率层和高折射率层的a-SiNx/a-SiNy薄膜,每个折射层厚度为λ/(4n);n是折射率,有源层是折射率在低折射率层和高折射率层之间a-SiNx薄膜,厚度为λ/(2n)。

    硅基短波长发光二极管及其制备方法

    公开(公告)号:CN1976068A

    公开(公告)日:2007-06-06

    申请号:CN200610098062.6

    申请日:2006-11-29

    Applicant: 南京大学

    Abstract: 本发明涉及一种硅基短波长发光二极管,同时还涉及其制备方法,属于纳米电子和纳米光电子器件材料技术领域。本发明的发光二极管在P+的硅基底上沉积有由相邻层氮组分有明显差异a-SiNx:H薄膜构成的第一组光学微腔;在第一组光学微腔上构筑有所需层数a-Si:H/SiO2多层膜构成的发光有源层;在发光有源层上沉积由相邻层氮组分有明显差异a-SiNx:H薄膜构成的第二组光学微腔;在第二组光学微腔上淀积金薄膜电极,并留有窗口。采用本发明后,可以与当前微电子工艺技术相兼容,能够显现出由于尺寸变化而引起的量子效应,达到调控低维有序体系结构和性能的目的,使非晶硅量子点走出实验室,切实应用于未来的硅基纳米光电子学器件。

    构筑二维有序分布硅量子点图形化纳米结构的方法

    公开(公告)号:CN1242454C

    公开(公告)日:2006-02-15

    申请号:CN03131685.9

    申请日:2003-06-06

    Applicant: 南京大学

    CPC classification number: B82Y30/00

    Abstract: 构筑二维有序分布硅量子点图形化纳米结构的方法,超薄非晶硅(a-Si)薄膜或a-SiNX:H/a-Si:H/a-SiNX:H结构薄膜上先制作移相光栅模版,然后以激光干涉晶化:激光束经二维移相光栅模版到达a-Si薄膜或a-SiNX:H/a-Si:H/a-SiNX:H结构薄膜表面上形成能量密度二维周期分布的束斑,使a-Si:H薄膜实现定域晶化,即在薄膜内形成二维空间有序分布(图形化)的纳米硅量子点阵列。本发明图形化量子点薄膜可批量生产,能够有效地控制硅量子点的形成与尺寸。

    构筑二维有序分布硅量子点图形化纳米结构的方法

    公开(公告)号:CN1484278A

    公开(公告)日:2004-03-24

    申请号:CN03131685.9

    申请日:2003-06-06

    Applicant: 南京大学

    CPC classification number: B82Y30/00

    Abstract: 构筑二维有序分布硅量子点图形化纳米结构的方法,超薄非晶硅(a-Si)薄膜或a-SiNx∶H/a-Si∶H/a-SiNx∶H结构薄膜上先制作移相光栅模版,然后以激光干涉晶化:激光束经二维移相光栅模版到达a-Si薄膜或a-SiNx∶H/a-Si∶H/a-SiNx∶H结构薄膜表面上形成能量密度二维周期分布的束斑,使a-Si∶H薄膜实现定域晶化,即在薄膜内形成二维空间有序分布(图形化)的纳米硅量子点阵列。本发明图形化量子点薄膜可批量生产,能够有效地控制硅量子点的形成与尺寸。

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