复色超分辨差动共焦测量大线性量程数据融合方法

    公开(公告)号:CN101413784A

    公开(公告)日:2009-04-22

    申请号:CN200810209586.7

    申请日:2008-12-02

    Abstract: 复色超分辨差动共焦测量大线性量程数据融合方法属于超精密三维微结构表面测量领域;该方法首先利用式1和式2分别计算得到第一和第二超分辨差动共焦测量支路的输出信息,其中式3分别是采用复色超分辨差动共焦测量装置获取的第一和第二测量支路的实际输出光强信息,(式1、2、3见右上)然后截取Γ1和Γ2得到有效输出和,最后构造系统线性输出融合函数:见式4作为系统最终位移响应输出,其中ΓB′为平移因子,λ1和λ2是第一和第二测量支路波长;该方法保留了复色超分辨差动共焦测量高空间分辨力、抑制共模加性噪声和线性量程扩展的优点,同时可以抑制乘性噪声干扰,获得线性程度更好、线性测量范围更大的输出特性曲线。

    铝或铝合金基体表面离子注入与沉积复合强化处理方法

    公开(公告)号:CN100412228C

    公开(公告)日:2008-08-20

    申请号:CN200610010136.6

    申请日:2006-06-08

    Abstract: 铝或铝合金基体表面离子注入与沉积复合强化处理方法,它涉及一种金属材料表面离子注入与沉积复合强化处理方法。它解决了类金刚石碳膜与铝或铝合金基体间残余应力大、结合力和承载能力差,DLC在高速重载条件下耐磨损性能低,易从铝或铝合金基体上剥落的问题。合成方法按以下步骤进行:(一)铝或铝合金超声清洗;(二)铝或铝合金氩离子溅射清洗;(三)钛离子注入;(四)PIIID法沉积Ti;(五)PIIID法沉积TiN;(六)PIIID法沉积Ti(CN);(七)PIIID法沉积TiC;(八)合成类金刚石碳膜,即得到表面有多层梯度膜的铝或铝合金;步骤(二)至(八)在真空室内进行。本发明中多层梯度膜上的DLC的磨损寿命比相同厚度的单层DLC提高10倍以上,摩擦系数低于0.1。

    一种单光子激光雷达系统观测噪声模型建立方法

    公开(公告)号:CN117494538A

    公开(公告)日:2024-02-02

    申请号:CN202311823407.X

    申请日:2023-12-28

    Abstract: 本申请提供了一种单光子激光雷达系统观测噪声模型建立方法,包括以下步骤:当单光子激光雷达系统观测到为陆地上的对海探测时,将噪声分解为多种类型建立单光子激光雷达系统陆地观测噪声模型,合成陆基、空基对海观测单光子数据集;当单光子激光雷达系统观测到为水下探测时,将复杂的水下近似为混合噪声分布,建立单光子激光雷达系统水下观测噪声简易模型,合成单光子水下数据集。本申请提供的单光子激光雷达系统观测噪声模型建立方法,应用于雷达成像技术领域。解决现有技术中存在的对系统的噪声分析过于一致或缺少必要的因素考虑而无法应用于实际空对海、陆地对海探测,数据集信息获取时间成本太大的技术问题。

    一种可升降自动转网的养殖网箱

    公开(公告)号:CN114868690A

    公开(公告)日:2022-08-09

    申请号:CN202210699209.6

    申请日:2022-06-20

    Abstract: 一种可升降自动转网的养殖网箱,它涉及海洋养殖技术领域。本发明为解决现有养殖网箱受灾害威胁、网衣清理难度大及难以捕捞的问题。本发明包括球状网箱体、转轴、两个转动臂、两组浮球和两个驱动机构,转轴沿径向方向插装在球状网箱体内,且转轴两端的端部均设置在球状网箱体的外侧,转动臂的形状为半圆环状,两个转动臂对称设置在球状网箱体的外侧,转动臂的两端分别与转轴的端部转动连接,转动臂通过驱动机构以转轴为回转中心绕球状网箱体外侧壁转动,每个转动臂的外侧均连接有一组浮球。本发明用于海洋养殖。

    一种集光器用集光孔阵列板

    公开(公告)号:CN110207405A

    公开(公告)日:2019-09-06

    申请号:CN201910390715.5

    申请日:2019-05-10

    Abstract: 本发明公开了一种集光器用集光孔阵列板,包括:集光器;集光器上具有透镜阵列板、导光槽和侧向集光器,自然光照射面为平面,平面的相对面均匀排布透镜;在透镜阵列板和导光槽之间设置有集光孔阵列板,集光孔阵列板包括:主体板、集光孔、多面反射体和反射膜;集光孔开设在主体板上,且集光孔与透镜相匹配;多面反射体固定于主体板远离透镜的一侧,且多面反射体设置有主反射面,集光孔内的自然光通过主反射面进行反射,通过主反射面的自然光照射到侧向集光器;主体板远离透镜的一侧镀有反射膜;多面反射体除与主体板接触面均镀有反射膜。本发明提供了一种集光器用集光孔阵列板,不仅具有薄型化的优点,而且能够大大增加太阳光的收集效能。

    一种遮挡式暗场共焦亚表面无损检测装置和方法

    公开(公告)号:CN109470711A

    公开(公告)日:2019-03-15

    申请号:CN201811497522.1

    申请日:2018-12-07

    Abstract: 本发明提供一种遮挡式暗场共焦亚表面无损检测装置和方法,属于光学精密测量技术领域。点光源发出的光依次经过准直镜、遮挡式环形光发生器、分光棱镜和物镜,物镜将激光汇聚至待测样品,载有待测样品信息的反射光和散射光依次经过物镜和分光棱镜,入射至探测互补光阑,反射光被探测互补光阑遮挡,散射光依次经过探测互补光阑、收集透镜和探测针孔,最终入射至光电探测器,从而完成对亚表面的检测。本发明采用遮挡式环形光发生器生成环形光,采用环形光束照明样品,结合探测互补光阑实现暗场共焦,解决了普通共焦显微技术检测亚表面损伤信噪比低的问题,装置简单易于实现,适用于亚表面无损检测。

    一种基于中介层散射的针孔随动共焦显微装置和方法

    公开(公告)号:CN109458950A

    公开(公告)日:2019-03-12

    申请号:CN201811494394.5

    申请日:2018-12-07

    Abstract: 一种基于中介层散射的针孔随动共焦显微装置和方法,属于光学精密测量技术领域,为了解决共焦显微技术测量大口径高陡度光学元件测量效率低的问题。激光器发出的照明激光光通过耦合光纤输出,依次经过准直镜、物镜,物镜将激光汇聚至镀有荧光膜的待测样品,样品激发的荧光依次经过物镜、准直镜,耦合光纤、滤光片,最终入射至光电探测器,高速微位移执行器带动耦合光纤扫描,从而完成对被测点的测量。本发明适用于测量大口径高陡度光学元件表面轮廓。

    共焦显微镜模式像差矫正装置

    公开(公告)号:CN107991235A

    公开(公告)日:2018-05-04

    申请号:CN201711238228.4

    申请日:2017-11-30

    Abstract: 共焦显微镜模式像差矫正装置,属于自适应光学和共焦显微成像技术领域,本发明为了解决现有现有像差矫正装置过于复杂、操作不便且样品预处理步骤复杂的问题。激光器发出的激光经双面45°反光镜的一侧反光镜面反射后途经分束镜到达半波片,经半波片调制后射入至空间光调制器,再经空间光调制器调制后射回至分束镜,再经分束镜反射至反射镜,然后经光阑滤除高阶衍射杂光后射到双面45°反光镜的另一侧反光镜面,经双面45°反光镜再次反射后经过偏振分束镜射至XY扫描振镜上。本发明的共焦显微镜模式像差矫正装置可在不增加样品操作以及成像装置最简化的情况下达到图像幅值增加百分之44和成像质量提升百分之17的效果。

    横向快速扫描共焦测量装置及基于该装置的光学元件表面轮廓测量方法

    公开(公告)号:CN106908012A

    公开(公告)日:2017-06-30

    申请号:CN201710103553.3

    申请日:2017-02-24

    CPC classification number: G01B11/24

    Abstract: 横向快速扫描共焦测量装置及基于该装置的光学元件表面轮廓测量方法,属于光学领域,本发明为解决现有共焦逐点测量时轴向扫描效率低,导致对样品长时间照明容易引起中介层荧光猝灭,影响最终的面形测量精度的问题。本发明包括照明模块、扫描模块、探测模块和宽场成像模块;照明模块按照照明光传播方向依次为激光器、单模光纤、准直器、二向色镜、分光棱镜和物镜;探测模块按照信号光传播方向依次为物镜、分光棱镜、二向色镜、滤光片、第一收集透镜、多模光纤和光电倍增管;扫描模块包括二维扫描振镜、扫描透镜和管镜;宽场成像模块包括CCD和第二收集透镜。本发明用于大口径高曲率光学元件的测量。

    基于角谱扫描照明的微结构成像方法

    公开(公告)号:CN103411561B

    公开(公告)日:2015-12-09

    申请号:CN201310355085.0

    申请日:2013-08-15

    Abstract: 基于角谱扫描照明的微结构成像装置与方法属于微结构表面形貌成像领域;该装置从激光器发出的光束经过二维扫描振镜反射后,依次经过扫描透镜、第一光阑、成像透镜、分光镜、第二光阑、显微物镜照射到被测微结构样品表面,由被测微结构样品表面漫反射的光束再次经过显微物镜、第二光阑,并由分光镜反射,经管镜聚焦到CCD相机成像;该方法将二维扫描振镜置于不同空间位置,得到多张被测微结构样品图像,并重构被测微结构样品图像;这种设计使被测微结构样品的每一部分都能找到对应的最佳照明角度,避免被测微结构样品自身表面轮廓的高低起伏导致的某些区域无法照明或者发生复杂反射,提高探测信号强度,降低背景噪声,进而提高测量精度。

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