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公开(公告)号：CN110568720B
公开(公告)日：2023-11-17
申请号：CN201910798261.5
申请日：2019-08-27
Applicant: 清华大学深圳研究生院
Abstract: 本发明公开了一种微偏振片模板的制作方法，包括：S1：在基底一侧的表面设置第一光刻胶层；S2：制作掩膜版；S3：利用所述掩膜版对所述第一光刻胶层进行接触曝光；S4：在所述第一光刻胶层远离所述基底的一侧的表面涂覆第二光刻胶层；S5：利用全息光刻对所述第二光刻胶层进行曝光并显影；S6：在所述第二光刻胶层远离所述底板一侧表面上沉积金属层；S7：将所述第一光刻胶层、所述第二光刻胶层剥离，得到所述微偏振片模板。本发明公开的微偏振片模板的制作方法避免了电子束直写曝光制作周期长且设备使用费昂贵问题。
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公开(公告)号：CN108151658B
公开(公告)日：2023-08-11
申请号：CN201810069463.1
申请日：2018-01-24
Applicant: 清华大学深圳研究生院
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明公开了一种判断光栅尺参考点绝对位置的装置及方法，该装置包括光源、分束镜、参考点掩膜、参考点编码带、光电探测器和信号处理计算机，参考点掩膜包括多个宽度相等的第一矩形块，多个第一矩形块沿其自身的宽度方向等间距排列；参考点编码带包括多组参考点组，每组参考点组包括两个参考点编码区，每个参考点编码区包括多个宽度相等的第二矩形块，多个第二矩形块沿其自身的宽度方向等间距排列，两个参考点编码区沿着第二矩形块的宽度方向间隔排列，多组参考点组沿着第二矩形块的宽度方向等间距排列，第一矩形块和第二矩形块均能够吸收或反射光线。本发明避免了光栅尺增量位移误差和参考点检测误差的干扰，提高了参考点绝对位置判断的可靠性。
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公开(公告)号：CN107664660B
公开(公告)日：2020-10-23
申请号：CN201710835569.3
申请日：2017-09-15
Applicant: 清华大学深圳研究生院
IPC: G01N27/64
Abstract: 本发明公开了一种质谱分析用样品靶及其制备方法、质谱分析方法。质谱分析方法，包括以下步骤：S1，将聚酰亚胺粘贴固定在一基体上；S2，使用功率为2.4～5.6W，扫描速率为80mm/s～200mm/s的激光照射所述聚酰亚胺，以在照射点形成微观形貌为多层多孔的氧化石墨烯；S3，将待测样品直接点样在所述氧化石墨烯上；S4，将承载有待测样品的基体放入质谱分析仪中，使用激光照射所述氧化石墨烯与所述待测样品形成的共结晶，进行质谱分析。本发明质谱分析方法，在低质量区的干扰小，提高了基质辅助激光解吸质谱的灵敏度并降低分析时间和分析成本。
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公开(公告)号：CN108801155B
公开(公告)日：2020-03-06
申请号：CN201810791500.X
申请日：2018-07-18
Applicant: 清华大学深圳研究生院
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明公开了一种光谱编码距离传感器系统，包括白光光源、第一导光光纤、第二导光光纤、第一分光棱镜、第二分光棱镜、滤光通道和光谱仪，以一条假想的竖直向下的直线为所述光谱编码距离传感器系统的中心，所述白光光源、所述第一导光光纤和所述第一分光棱镜位于所述直线的一侧，所述第二分光棱镜、所述滤光通道、所述第二导光光纤和所述光谱仪位于所述直线的另一侧，且所述第一分光棱镜和所述第二分光棱镜关于所述直线对称，所述第一导光光纤和所述滤光通道均平行于所述直线。本发明具有结构紧凑、测量精度高、量程大、测量适应性好等优点，可以广泛地满足工业现场对距离测量传感器的要求。
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公开(公告)号：CN107220665B
公开(公告)日：2019-12-20
申请号：CN201710352884.0
申请日：2017-05-18
Applicant: 清华大学深圳研究生院
IPC: G06K9/62
Abstract: 本发明公开了一种图像插值方法，包括将定义在M维网格上的待插值的散点集合进行分解，形成若干个点集；将若干个点集分别进行扩大，得到若干个扩大点集；在若干个扩大点集上进行基于径向基函数的散点插值，得到插值函数；获得相对于M维网格更为稀疏的稀疏网格，计算每个稀疏网格上的网格点到其所属的一个或多个扩大点集的中心的权函数值，并以该权函数值来分配各个网格点由径向基函数计算出来的插值结果；通过获得的每个稀疏网格上的插值结果来求得M维网格上的所有网格点的插值结果，得到整个包络面。本发明还公开了一种二维经验模态分解方法，该图像插值方法不仅具有较快的计算速度，而且应用在二维经验模态分解方法中还有较好的分解质量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110571126A
公开(公告)日：2019-12-13
申请号：CN201910745716.7
申请日：2019-08-13
Applicant: 清华大学深圳研究生院
Abstract: 一种用于离子迁移谱仪的离子门控制方法，包括通过第一栅网电极和第二栅网电极的电压，以控制所述离子门的一个完整工作周期经历开门阶段、剪切阶段、推斥阶段、关门阶段。其中，剪切阶段实现对离子团后沿的快速切断，减小离子团在剪切过程中的轴向拉伸；推斥阶段实现对离子团在沿迁移方向上的整体推移，利用推斥电场的非均匀性实现离子团轴向压缩。本方法一方面可以实现对离子团切割和分离过程的分别独立控制，另一方面可以减小离子门切割离子团造成的后沿拖尾，有利于提高离子迁移谱仪的分辨能力。
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公开(公告)号：CN108831820B
公开(公告)日：2019-11-26
申请号：CN201810597219.2
申请日：2018-06-11
Applicant: 清华大学深圳研究生院
Abstract: 本发明公开了一种BN离子门制作方法及制作基板，该方法包括步骤：提供绝缘基板和金属丝；提供夹具作用于所述绝缘基板，以使所述绝缘基板弯曲在所述夹具上，以在所述绝缘基板的弯曲的凹面形成相互平行且等间距排列的多根金属丝段，并且多根所述金属丝段形成交替排列且相互绝缘的第一金属丝组和第二金属丝组，当释放弯曲的绝缘基板时，各所述金属丝段由于弯曲张力而形成张紧力相当绷紧的直线。本发明的方法制作的BN离子门径向电场均匀、稳定。
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公开(公告)号：CN110310882A
公开(公告)日：2019-10-08
申请号：CN201910595864.5
申请日：2019-07-03
Applicant: 清华大学深圳研究生院
Abstract: 一种改善离子迁移谱中BN门歧视效应的离子门控制方法，包括：在第一预设时间间隔内，在第一组电极上施加第一电压，在第二组电极上施加第二电压；其中第二电压高于第一电压且两者的电压差为刚好使离子全部不能通过的临界关门电压差；在第二预设时间间隔内，在第一组电极与第二组电极上施加相同大小的电压，使离子能正常通过离子门；在第三预设时间间隔内，在第一组电极上施加第三电压，在第二组电极上施加第四电压；其中第三电压高于第一电压，第四电压高于第三电压且两者的电压差为刚好使离子全部不能通过的临界关门电压差。通过控制BN门的两组电极的电压在三态下随时间做周期性变化，实现了减轻离子门歧视性的同时提高了离子迁移谱仪的分辨率。
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公开(公告)号：CN109975311A
公开(公告)日：2019-07-05
申请号：CN201910277133.6
申请日：2019-04-08
Applicant: 清华大学深圳研究生院
Abstract: 一种轮转式多环境AOI检测装置和方法，该装置包括多个屏幕检测工位、检测光源、屏幕移动装置、图像采集装置和数据处理装置，每个屏幕检测工位经配置具有适应于检测特定的屏幕缺陷类型的不同检测环境，屏幕移动装置将被测屏幕同步地移动到各屏幕检测工位，图像采集装置对被测屏幕在各自当前的屏幕检测工位进行全工位图像采集，使得每一图像均包含分别对应不同屏幕检测工位的多个图像区域，每进行完一次图像采集之后，屏幕移动装置将被测屏幕移动到各自的下一屏幕检测工位，图像采集装置重新进行下一轮多检测环境下的图像采集，直至被测屏幕遍历不同检测环境的检测。本发明大大提高了图像采集区利用率，且降低了对图像采集环境的要求。
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公开(公告)号：CN106289073B
公开(公告)日：2018-12-14
申请号：CN201610865133.4
申请日：2016-09-29
Applicant: 清华大学深圳研究生院
IPC: G01B11/02
Abstract: 一种飞秒激光测距装置，包括第一参考光路、第二参考光路以及测量光路，所述第一参考光路和所述第二参考光路具有固定的光程差，所述第一参考光路和所述第二参考光路上分别设置有快门，所述快门用于在测距过程中切换参考光路以使用相应的参考光进行测量。一种飞秒激光测距装置方法，为所述第一参考光和所述第二参考光的干涉信号设定一个死区范围，在数据采集过程中，当所述测量光的干涉信号进入正在使用中的参考光的死区范围时，控制关闭该路参考光所对应的快门，并打开另一路参考光对应的快门；在计算被测物距离时，使用所述固定的光程差对两路参考光之间的切换所带来的测量距离的偏差进行补偿。本发明可有效解决飞秒激光测距存在的死区问题。
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