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公开(公告)号:CN101350313A
公开(公告)日:2009-01-21
申请号:CN200810133317.7
申请日:2008-07-15
Applicant: 三星SDI株式会社
IPC: H01L21/363 , H01L21/336 , H01L29/786 , H01L29/24 , C23C14/34 , C23C14/08
CPC classification number: C23C14/086 , C23C14/3464 , H01L21/02422 , H01L21/02554 , H01L21/02565 , H01L21/02631
Abstract: 本发明公开了一种制备IGZO活性层的方法,其包括由第一靶沉积包括In、Ga和Zn的离子,和由第二靶沉积包括In的离子,所述第二靶具有不同于所述第一靶的原子组成。由第二靶沉积的离子可被控制以将IGZO活性层中In的原子%调节为约45原子%~约80原子%。